Odată cu dezvoltarea viguroasă a electronicelor de larg consum și a electronicelor pentru automobile, 5G a introdus, de asemenea, un boom comercial.Odată cu modernizarea tehnologiei electronice și complexitatea tot mai mare a produselor electronice, împreună cu mediul de utilizare din ce în ce mai dur al produselor electronice, este dificil ca sistemul să asigure o anumită perioadă de timp.Capacitatea sau posibilitatea de a îndeplini funcții specificate fără eșec în anumite condiții.Prin urmare, pentru a confirma că produsele electronice pot funcționa normal în aceste medii, standardele naționale și standardele industriale necesită simularea unor elemente de testare.
Cum ar fi testul ciclului de temperatură înaltă și joasă
Testul ciclului de temperatură înaltă și joasă înseamnă că după ce temperatura setată este menținută de la -50°C timp de 4 ore, temperatura este ridicată la +90°C, iar apoi temperatura este menținută la +90°C timp de 4 ore și temperatura este coborâtă la -50°C, urmată de cicluri N.
Standardul de temperatură industrial este de -40℃ ~ +85℃, deoarece camera de testare a ciclului de temperatură are de obicei o diferență de temperatură.Pentru a ne asigura că clientul nu va provoca rezultate inconsecvente ale testelor din cauza abaterii temperaturii, se recomandă utilizarea standardului pentru testarea internă.
Rău de testat.
Procesul de testare:
1. Când proba este oprită, mai întâi scădeți temperatura la -50°C și păstrați-o timp de 4 ore;nu efectuați testarea la temperatură scăzută în timp ce proba este pornită, este foarte important, deoarece cipul în sine va fi produs atunci când proba este pornită.
Prin urmare, este de obicei mai ușor să treci testul de temperatură scăzută atunci când este alimentat.Mai întâi trebuie „înghețat” și apoi alimentat pentru test.
2. Porniți mașina și efectuați un test de performanță pe eșantion pentru a compara dacă performanța este normală în comparație cu temperatura normală.
3. Efectuați un test de îmbătrânire pentru a observa dacă există erori de comparare a datelor.
Standard de referință:
GB/T2423.1-2008 Testul A: Metoda de testare la temperaturi scăzute
GB/T2423.2-2008 Testul B: Metoda de testare la temperaturi ridicate
GB/T2423.22-2002 Test N: Metoda de testare a schimbării temperaturii etc.
Pe lângă testul ciclului de temperatură înaltă și joasă, testul de fiabilitate al produselor electronice poate fi și testul de temperatură și umiditate (test de temperatură și umiditate), test de căldură umedă alternativă (căldură umedă, test ciclic)
(Test de stocare la temperatură joasă), test de stocare la temperatură ridicată, test de șoc termic, pulverizare cu sare Te
Aleator/sinus (test de vibrații), test de cădere fără cutie (test de cădere), test de îmbătrânire cu abur (test de îmbătrânire cu abur), test de protecție la nivel IP (test IP), test și certificare de viață a luminii LED
Măsurarea întreținerii lumenului surselor de lumină LED), etc., conform cerințelor producătorului de testare a produsului.
Cutia de testare a ciclului de temperatură, caseta de testare a temperaturii și umidității constante, caseta de testare a șocului termic, trei casete de testare cuprinzătoare, caseta de testare cu pulverizare de sare etc. dezvoltate și produse de Ruikai Instruments oferă soluții pentru testarea fiabilității produselor electronice.
Temperatura, umiditatea, apa de mare, pulverizarea cu sare, impactul, vibrațiile, particulele cosmice, diferitele radiații etc. din mediu pot fi utilizate pentru a determina în avans fiabilitatea aplicabilă, rata de defecțiuni și timpul mediu dintre defecțiunile produsului.
Ora postării: 28-aug-2023