Con il vigoroso sviluppo dell’elettronica di consumo e dell’elettronica automobilistica, il 5G ha anche inaugurato un boom commerciale.Con l'aggiornamento della tecnologia elettronica e la crescente complessità dei prodotti elettronici, insieme all'ambiente di utilizzo sempre più difficile dei prodotti elettronici, è difficile per il sistema garantire un certo periodo di tempo.La capacità o la possibilità di eseguire funzioni specifiche senza guasti entro determinate condizioni.Pertanto, per confermare che i prodotti elettronici possano funzionare normalmente in questi ambienti, gli standard nazionali e industriali richiedono la simulazione di alcuni elementi di prova.
Come il test del ciclo ad alta e bassa temperatura
Il test del ciclo ad alta e bassa temperatura significa che dopo che la temperatura impostata viene mantenuta da -50°C per 4 ore, la temperatura viene aumentata a +90°C, quindi la temperatura viene mantenuta a +90°C per 4 ore e la temperatura viene abbassata a -50°C, seguita da N cicli.
Lo standard di temperatura industriale è -40℃ ~ +85℃, perché la camera di prova del ciclo termico solitamente presenta una differenza di temperatura.Per garantire che il cliente non causi risultati di test incoerenti a causa della deviazione della temperatura, si consiglia di utilizzare lo standard per i test interni.
Brutto da testare.
Processo di prova:
1. Quando il campione è spento, abbassare prima la temperatura a -50°C e mantenerla per 4 ore;non eseguire test a bassa temperatura mentre il campione è acceso, è molto importante perché il chip stesso verrà prodotto quando il campione è acceso.
Pertanto, di solito è più facile superare il test a bassa temperatura quando è alimentato.Deve essere prima "congelato" e poi energizzato per il test.
2. Accendere la macchina ed eseguire il test delle prestazioni sul campione per confrontare se le prestazioni sono normali rispetto alla temperatura normale.
3. Eseguire un test di invecchiamento per osservare se sono presenti errori di confronto dei dati.
Standard di riferimento:
GB/T2423.1-2008 Test A: metodo di prova a bassa temperatura
GB/T2423.2-2008 Test B: metodo di prova ad alta temperatura
GB/T2423.22-2002 Test N: metodo di test del cambiamento di temperatura, ecc.
Oltre al test del ciclo ad alta e bassa temperatura, il test di affidabilità dei prodotti elettronici può anche essere il test di temperatura e umidità (test di temperatura e umidità), il test di calore umido alternato (calore umido, test ciclico)
(Test di stoccaggio a bassa temperatura), Test di stoccaggio ad alta temperatura, Test di shock termico, Nebbia salina Te
Casuale/sinusoidale (test di vibrazione), test di caduta libera (test di caduta), test di invecchiamento a vapore (test di invecchiamento con vapore), test di protezione del livello IP (test IP), test e certificazione sulla durata del decadimento della luce LED
Misurazione del mantenimento del flusso luminoso delle sorgenti luminose a LED), ecc., in base ai requisiti di test del prodotto del produttore.
La scatola per test del ciclo di temperatura, la scatola per test a temperatura e umidità costanti, la scatola per test di shock termico, tre scatole per test complete, scatola per test in nebbia salina, ecc. sviluppate e prodotte da Ruikai Instruments forniscono soluzioni per il test di affidabilità dei prodotti elettronici.
La temperatura, l'umidità, l'acqua di mare, la nebbia salina, l'impatto, le vibrazioni, le particelle cosmiche, le radiazioni varie, ecc. nell'ambiente possono essere utilizzati per determinare in anticipo l'affidabilità applicabile, il tasso di guasto e il tempo medio tra i guasti del prodotto.
Orario di pubblicazione: 28 agosto 2023