Pamoja na maendeleo makubwa ya vifaa vya elektroniki vya watumiaji na vifaa vya elektroniki vya magari, 5G pia imeleta ukuaji wa kibiashara.Pamoja na uboreshaji wa teknolojia ya kielektroniki na kuongezeka kwa utata wa bidhaa za kielektroniki, pamoja na mazingira magumu ya matumizi ya bidhaa za elektroniki, ni ngumu kwa mfumo kuhakikisha kipindi fulani cha wakati.Uwezo au uwezekano wa kufanya kazi maalum bila kushindwa ndani ya hali fulani.Kwa hiyo, ili kuthibitisha kuwa bidhaa za kielektroniki zinaweza kufanya kazi kwa kawaida katika mazingira haya, viwango vya kitaifa na viwango vya viwanda vinahitaji uigaji wa baadhi ya vitu vya majaribio.
Kama vile mtihani wa mzunguko wa joto la juu na la chini
Mtihani wa mzunguko wa joto la juu na la chini unamaanisha kuwa baada ya joto la kuweka limehifadhiwa kutoka -50 ° C kwa saa 4, joto hufufuliwa hadi +90 ° C, na kisha joto huhifadhiwa kwa +90 ° C kwa saa 4, na joto hupunguzwa hadi -50 ° C, ikifuatiwa na mizunguko ya N.
Kiwango cha halijoto cha viwandani ni -40℃ ~ +85℃, kwa sababu chumba cha majaribio cha mzunguko wa halijoto huwa na tofauti ya halijoto.Ili kuhakikisha kuwa mteja hatasababisha matokeo ya majaribio yasiyolingana kutokana na kupotoka kwa halijoto, inashauriwa kutumia kiwango cha upimaji wa ndani.
Mbaya kwa mtihani.
Mchakato wa mtihani:
1. Wakati sampuli imezimwa, kwanza punguza joto hadi -50 ° C na uihifadhi kwa saa 4;usifanye upimaji wa halijoto ya chini wakati sampuli imewashwa, ni muhimu sana, kwa sababu chip yenyewe itatolewa sampuli itakapowashwa.
Kwa hiyo, kwa kawaida ni rahisi zaidi kupitisha mtihani wa joto la chini wakati umetiwa nguvu.Lazima iwe "waliohifadhiwa" kwanza, na kisha iwe na nguvu kwa ajili ya mtihani.
2. Washa mashine na ufanye jaribio la utendakazi kwenye sampuli ili kulinganisha ikiwa utendakazi ni wa kawaida ikilinganishwa na halijoto ya kawaida.
3. Fanya mtihani wa kuzeeka ili kuona kama kuna makosa ya kulinganisha data.
Kiwango cha marejeleo:
GB/T2423.1-2008 Jaribio A: Mbinu ya kupima joto la chini
GB/T2423.2-2008 Jaribio B: Mbinu ya kupima joto la juu
GB/T2423.22-2002 Jaribio N: Mbinu ya mtihani wa mabadiliko ya joto, nk.
Kando na jaribio la mzunguko wa halijoto ya juu na ya chini, kipimo cha kutegemewa kwa bidhaa za elektroniki kinaweza pia kuwa kipimo cha halijoto na unyevunyevu (Jaribio la Joto na Unyevu), kipimo cha joto nyororo (Joto Unyevu, Jaribio la Mzunguko)
(Jaribio la Hifadhi ya Joto la Chini), Jaribio la Uhifadhi wa Halijoto ya Juu, Jaribio la mshtuko wa joto, Dawa ya Chumvi Te
Nasibu/sine (Jaribio la mtetemo), jaribio la kudondosha kisanduku bila malipo (Jaribio la kushuka), mtihani wa kuzeeka kwa mvuke (Jaribio la Kuzeeka kwa Steam), Jaribio la ulinzi wa kiwango cha IP (Jaribio la IP), Jaribio la maisha ya kuoza kwa mwanga wa LED na udhibitisho.
Kupima Matengenezo ya Lumen ya Vyanzo vya Mwanga wa LED), nk, kulingana na mahitaji ya kupima bidhaa za mtengenezaji.
Sanduku la majaribio la mzunguko wa halijoto, kisanduku cha majaribio ya halijoto na unyevunyevu, kisanduku cha mtihani wa mshtuko wa joto, kisanduku tatu cha majaribio cha kina, sanduku la majaribio la dawa ya chumvi, n.k. zilizotengenezwa na kuzalishwa na Ruikai Instruments hutoa suluhisho kwa mtihani wa kuaminika wa bidhaa za elektroniki.
Halijoto, unyevunyevu, maji ya bahari, mnyunyizio wa chumvi, athari, mtetemo, chembe za ulimwengu, mionzi mbalimbali, n.k. katika mazingira inaweza kutumika kubainisha kuegemea husika, kiwango cha kushindwa, na muda wa wastani kati ya kushindwa kwa bidhaa mapema.
Muda wa kutuma: Aug-28-2023