Tarbeelektroonika ja autoelektroonika jõulise arenguga on 5G käivitanud ka kaubandusbuumi.Elektroonikatehnoloogia ajakohastamise ja elektroonikatoodete keerukuse suurenemise ning elektroonikatoodete üha karmima kasutuskeskkonna tõttu on süsteemil raske teatud ajaperioodi tagada.Võimalus või võimalus teatud tingimustel täita kindlaksmääratud funktsioone tõrgeteta.Seetõttu nõuavad riiklikud standardid ja tööstusstandardid teatud katseobjektide simuleerimist, et kinnitada, et elektroonikatooted saavad nendes keskkondades normaalselt töötada.
Näiteks kõrge ja madala temperatuuri tsükli test
Kõrge ja madala temperatuuri tsüklikatse tähendab, et pärast seadistatud temperatuuri hoidmist -50 °C juures 4 tundi tõstetakse temperatuur +90 °C-ni ja seejärel hoitakse temperatuuri +90 °C juures 4 tundi ja temperatuur alandatakse -50 °C-ni, millele järgneb N tsüklit.
Tööstusliku temperatuuri standard on -40 ℃ ~ +85 ℃, kuna temperatuuritsükli katsekambris on tavaliselt temperatuuride erinevus.Tagamaks, et klient ei põhjustaks temperatuuri kõrvalekalde tõttu ebaühtlasi testitulemusi, on soovitatav kasutada sisetestimise standardit.
Halb testida.
Testimisprotsess:
1. Kui proov on välja lülitatud, langetage temperatuur esmalt -50 °C-ni ja hoidke seda 4 tundi;Ärge tehke madala temperatuuri testimist, kui näidis on sisse lülitatud, see on väga oluline, sest proovi sisselülitamisel tekib kiip ise.
Seetõttu on madala temperatuuri testi läbimine tavaliselt lihtsam, kui see on pingestatud.See tuleb kõigepealt "külmutada" ja seejärel testimiseks pingestada.
2. Lülitage masin sisse ja viige proovile läbi jõudluse test, et võrrelda, kas jõudlus on normaalse temperatuuriga võrreldes normaalne.
3. Tehke vananemiskatse, et näha, kas andmete võrdluses on vigu.
Võrdlusstandard:
GB/T2423.1-2008 Test A: madala temperatuuriga katsemeetod
GB/T2423.2-2008 Test B: kõrge temperatuuriga katsemeetod
GB/T2423.22-2002 Test N: temperatuurimuutuse katsemeetod jne.
Lisaks kõrge ja madala temperatuuri tsükli testile võib elektroonikatoodete töökindluse test olla ka temperatuuri ja niiskuse test (temperatuuri ja niiskuse test), vahelduva niiske kuumuse test (niiske kuumus, tsükliline test)
(Madala temperatuuri säilitamise test), kõrge temperatuuriga säilitamise test, termilise šoki test, soolapihustus Te
Juhuslik/siinus (vibratsioonitest), kastivaba kukkumise test (tilkumistest), auruvanandamise test (auruvananemise test), IP-taseme kaitsetest (IP-test), LED-valguse lagunemise test ja sertifikaat
LED-valgusallikate valendiku hoolduse mõõtmine) jne, vastavalt tootja toote testimisnõuetele.
Ruikai Instrumentsi poolt välja töötatud ja toodetud temperatuuritsükli testkast, konstantse temperatuuri ja niiskuse testkast, termošoki testkast, kolm kõikehõlmavat testkasti, soolapihusti testkast jne pakuvad lahendusi elektroonikatoodete töökindluse testimiseks.
Keskkonnas leiduva temperatuuri, niiskuse, merevee, soolapihu, löökide, vibratsiooni, kosmiliste osakeste, mitmesuguse kiirguse jms põhjal saab eelnevalt kindlaks määrata toote rakenduva töökindluse, rikete määra ja keskmise riketevahelise aja.
Postitusaeg: 28. august 2023