Kalayan pamekaran anu kuat dina éléktronika konsumen sareng éléktronika otomotif, 5G ogé parantos ngiringan booming komérsial.Kalayan paningkatan téknologi éléktronik sareng paningkatan pajeulitna produk éléktronik, ditambah ku lingkungan pamakean produk éléktronik anu beuki parah, sesah pikeun sistem pikeun mastikeun kurun waktu anu tangtu.Kamampuhan atawa kamungkinan pikeun ngalakukeun fungsi nu tangtu tanpa gagal dina kaayaan nu tangtu.Ku alatan éta, pikeun mastikeun yén produk éléktronik tiasa dianggo sacara normal dina lingkungan ieu, standar nasional sareng standar industri ngabutuhkeun simulasi sababaraha item tés.
Sapertos uji siklus suhu luhur sareng rendah
Tes siklus suhu luhur sareng handap hartosna saatos suhu set dijaga tina -50 ° C salami 4 jam, suhu naékkeun ka +90 ° C, teras suhu dijaga dina +90 ° C salami 4 jam, sareng hawa ieu lowered ka -50 ° C, dituturkeun ku siklus N.
Standar suhu industri nyaéta -40 ℃ ~ + 85 ℃, sabab kamar uji siklus suhu biasana ngagaduhan bédana suhu.Pikeun mastikeun yén klien moal ngabalukarkeun hasil tés inconsistent alatan simpangan suhu, eta disarankeun pikeun ngagunakeun standar pikeun nguji internal.
Goréng pikeun nguji.
Prosés tés:
1. Nalika sampel dipareuman, mimitina leupaskeun hawa ka -50 ° C sarta tetep pikeun 4 jam;ulah ngalakukeun nguji suhu low bari sampel diaktipkeun, éta pohara penting, sabab chip sorangan bakal dihasilkeun nalika sampel diaktipkeun.
Ku alatan éta, biasana leuwih gampang pikeun lulus tes suhu low lamun geus energized.Ieu kudu "beku" heula, lajeng energized pikeun tés.
2. Hurungkeun mesin jeung ngalakukeun test kinerja dina sampel pikeun ngabandingkeun naha kinerja normal dibandingkeun jeung hawa normal.
3. Ngalaksanakeun tés sepuh pikeun niténan naha aya kasalahan ngabandingkeun data.
Standar rujukan:
GB / T2423.1-2008 Test A: Métode test hawa low
GB / T2423.2-2008 Test B: Métode uji suhu luhur
GB / T2423.22-2002 Test N: Métode uji robah suhu, jsb.
Salian tés siklus suhu luhur sareng rendah, uji réliabilitas produk éléktronik ogé tiasa janten tés suhu sareng kalembaban (Temperatur sareng Kalembaban), uji panas lembab bolak (Panas Dampal, uji Siklik)
(Tes Panyimpenan Suhu Rendah), Tes Panyimpenan Suhu Tinggi, Tes shock termal, Semprotan Uyah Te
Acak / sinus (Tes Geter), uji serelek gratis kotak (Tes serelek), tes sepuh uap (uji Sepuh Uap), uji perlindungan tingkat IP (Tes IP), uji hirup rusak lampu LED sareng sertifikasi
Ngukur Pangropéa Lumén Sumber Lampu LED), jsb, numutkeun syarat tés produk produsén.
Kotak uji siklus suhu, kotak uji suhu sareng kalembaban konstan, kotak uji shock termal, tilu kotak uji komprehensif, kotak uji semprot uyah, jsb anu dikembangkeun sareng diproduksi ku Ruikai Instruments nyayogikeun solusi pikeun uji réliabilitas produk éléktronik.
Suhu, kalembaban, cai laut, semprot uyah, dampak, Geter, partikel kosmis, rupa radiasi, jsb di lingkungan bisa dipaké pikeun nangtukeun reliabiliti lumaku, laju gagalna, sarta mean waktu antara gagalna produk sateuacanna.
waktos pos: Aug-28-2023