Sa masiglang pag-unlad ng consumer electronics at automotive electronics, ang 5G ay naghatid din sa isang komersyal na boom.Sa pag-upgrade ng elektronikong teknolohiya at pagtaas ng pagiging kumplikado ng mga produktong elektroniko, kasama ng lalong malupit na kapaligiran sa paggamit ng mga produktong elektroniko, mahirap para sa system na tiyakin ang isang tiyak na tagal ng panahon.Ang kakayahan o posibilidad na magsagawa ng mga tinukoy na function nang walang pagkabigo sa loob ng ilang mga kundisyon.Samakatuwid, upang kumpirmahin na ang mga produktong elektroniko ay maaaring gumana nang normal sa mga kapaligirang ito, ang mga pambansang pamantayan at pamantayang pang-industriya ay nangangailangan ng simulation ng ilang mga item sa pagsubok.
Tulad ng mataas at mababang temperatura cycle test
Ang mataas at mababang temperatura na cycle test ay nangangahulugan na pagkatapos ng itinakdang temperatura ay panatilihin mula -50°C sa loob ng 4 na oras, ang temperatura ay itataas sa +90°C, at pagkatapos ay ang temperatura ay pinananatili sa +90°C sa loob ng 4 na oras, at ang temperatura ay ibinaba sa -50°C, na sinusundan ng mga N cycle.
Ang pamantayang pang-industriya na temperatura ay -40 ℃ ~ + 85 ℃, dahil ang temperatura ng cycle ng pagsubok na silid ay karaniwang may pagkakaiba sa temperatura.Upang matiyak na ang kliyente ay hindi magdudulot ng hindi pantay na mga resulta ng pagsubok dahil sa paglihis ng temperatura, inirerekomendang gamitin ang pamantayan para sa panloob na pagsubok.
Masamang pagsubok.
Proseso ng pagsubok:
1. Kapag pinatay ang sample, ibaba muna ang temperatura sa -50°C at panatilihin ito ng 4 na oras;huwag magsagawa ng mababang temperatura ng pagsubok habang ang sample ay naka-on, ito ay napakahalaga, dahil ang chip mismo ay gagawin kapag ang sample ay naka-on.
Samakatuwid, kadalasan ay mas madaling makapasa sa mababang temperatura na pagsubok kapag ito ay pinasigla.Dapat itong "frozen" muna, at pagkatapos ay pasiglahin para sa pagsubok.
2. I-on ang makina at magsagawa ng performance test sa sample para ikumpara kung normal ang performance kumpara sa normal na temperatura.
3. Magsagawa ng aging test para makita kung may mga error sa paghahambing ng data.
Batayang pamantayan:
GB/T2423.1-2008 Test A: Paraan ng pagsubok sa mababang temperatura
GB/T2423.2-2008 Test B: Paraan ng pagsubok sa mataas na temperatura
GB/T2423.22-2002 Test N: Paraan ng pagsubok sa pagbabago ng temperatura, atbp.
Bilang karagdagan sa mataas at mababang temperatura na cycle test, ang reliability test ng mga elektronikong produkto ay maaari ding ang temperature at humidity test (Temperature And Humidity test), ang alternating damp heat test (Damp Heat, Cyclic test)
(Pagsubok sa Low Temperature Storage), Pagsubok sa High Temperature Storage, Thermal shock test, Salt Spray Te
Random/sine (Vibration test), box free drop test (Drop test), steam aging test (Steam Aging test), IP level protection test (IP Test), LED light decay life test at certification
Pagsukat ng Pagpapanatili ng Lumen ng Mga Pinagmumulan ng Liwanag ng LED), atbp., ayon sa mga kinakailangan sa pagsubok ng produkto ng tagagawa.
Ang temperature cycle test box, constant temperature at humidity test box, thermal shock test box, tatlong komprehensibong test box, salt spray test box, atbp. na binuo at ginawa ng Ruikai Instruments ay nagbibigay ng mga solusyon para sa reliability test ng mga elektronikong produkto.
Ang temperatura, halumigmig, tubig sa dagat, spray ng asin, epekto, vibration, cosmic particle, iba't ibang radiation, atbp. sa kapaligiran ay maaaring gamitin upang matukoy ang naaangkop na pagiging maaasahan, rate ng pagkabigo, at ibig sabihin ng oras sa pagitan ng mga pagkabigo ng produkto nang maaga.
Oras ng post: Ago-28-2023