Com o vigoroso desenvolvimento da electrónica de consumo e da electrónica automóvel, o 5G também deu início a um boom comercial.Com a atualização da tecnologia eletrónica e a crescente complexidade dos produtos eletrónicos, juntamente com o ambiente de utilização cada vez mais severo dos produtos eletrónicos, é difícil para o sistema garantir um determinado período de tempo.A capacidade ou possibilidade de executar funções específicas sem falhas dentro de certas condições.Portanto, para confirmar que os produtos eletrônicos podem funcionar normalmente nesses ambientes, os padrões nacionais e industriais exigem a simulação de alguns itens de teste.
Como teste de ciclo de alta e baixa temperatura
O teste de ciclo de temperatura alta e baixa significa que após a temperatura definida ser mantida em -50°C por 4 horas, a temperatura é elevada para +90°C e, em seguida, a temperatura é mantida em +90°C por 4 horas, e a temperatura é reduzida para -50°C, seguida por N ciclos.
O padrão de temperatura industrial é de -40°C ~ +85°C, porque a câmara de teste do ciclo de temperatura geralmente tem uma diferença de temperatura.Para garantir que o cliente não causará resultados de teste inconsistentes devido ao desvio de temperatura, recomenda-se usar o padrão para testes internos.
Ruim para testar.
Processo de teste:
1. Quando a amostra for desligada, primeiro abaixe a temperatura para -50°C e mantenha-a por 4 horas;não realize testes de baixa temperatura enquanto a amostra estiver ligada, isso é muito importante, pois o próprio chip será produzido quando a amostra estiver ligada.
Portanto, geralmente é mais fácil passar no teste de baixa temperatura quando ele está energizado.Deve ser primeiro “congelado” e depois energizado para o teste.
2. Ligue a máquina e realize um teste de desempenho na amostra para comparar se o desempenho está normal em comparação com a temperatura normal.
3. Realize um teste de envelhecimento para observar se há erros na comparação dos dados.
Padrão de referência:
GB/T2423.1-2008 Teste A: Método de teste de baixa temperatura
GB/T2423.2-2008 Teste B: Método de teste de alta temperatura
GB/T2423.22-2002 Teste N: Método de teste de mudança de temperatura, etc.
Além do teste de ciclo de alta e baixa temperatura, o teste de confiabilidade de produtos eletrônicos também pode ser o teste de temperatura e umidade (teste de temperatura e umidade), o teste de calor úmido alternado (teste de calor úmido, teste cíclico)
(Teste de armazenamento em baixa temperatura), teste de armazenamento em alta temperatura, teste de choque térmico, spray de sal Te
Aleatório/seno (teste de vibração), teste de queda livre de caixa (teste de queda), teste de envelhecimento a vapor (teste de envelhecimento a vapor), teste de proteção de nível IP (teste IP), teste de vida útil de deterioração de luz LED e certificação
Medição da manutenção do lúmen de fontes de luz LED), etc., de acordo com os requisitos de teste do produto do fabricante.
A caixa de teste de ciclo de temperatura, caixa de teste de temperatura e umidade constante, caixa de teste de choque térmico, três caixas de teste abrangentes, caixa de teste de névoa salina, etc. desenvolvidas e produzidas pela Ruikai Instruments fornecem soluções para o teste de confiabilidade de produtos eletrônicos.
A temperatura, umidade, água do mar, névoa salina, impacto, vibração, partículas cósmicas, várias radiações, etc. no ambiente podem ser usadas para determinar antecipadamente a confiabilidade aplicável, a taxa de falhas e o tempo médio entre falhas do produto.
Horário da postagem: 28 de agosto de 2023