Mit der starken Entwicklung der Unterhaltungselektronik und der Automobilelektronik hat 5G auch einen kommerziellen Boom eingeleitet.Mit der Weiterentwicklung der elektronischen Technologie und der zunehmenden Komplexität elektronischer Produkte sowie der immer raueren Einsatzumgebung elektronischer Produkte ist es für das System schwierig, einen bestimmten Zeitraum sicherzustellen.Die Fähigkeit oder Möglichkeit, bestimmte Funktionen unter bestimmten Bedingungen fehlerfrei auszuführen.Um zu bestätigen, dass elektronische Produkte in diesen Umgebungen normal funktionieren können, erfordern nationale Standards und Industriestandards daher die Simulation einiger Testobjekte.
Wie zum Beispiel Hoch- und Niedertemperatur-Zyklustest
Der Hoch- und Niedertemperatur-Zyklustest bedeutet, dass, nachdem die eingestellte Temperatur 4 Stunden lang bei -50 °C gehalten wurde, die Temperatur auf +90 °C erhöht wird und die Temperatur dann 4 Stunden lang bei +90 °C gehalten wird Die Temperatur wird auf -50 °C gesenkt, gefolgt von N Zyklen.
Der industrielle Temperaturstandard liegt bei -40℃ ~ +85℃, da die Temperaturzyklus-Testkammer normalerweise einen Temperaturunterschied aufweist.Um sicherzustellen, dass der Kunde aufgrund von Temperaturabweichungen keine inkonsistenten Testergebnisse verursacht, wird empfohlen, den Standard für interne Tests zu verwenden.
Schlecht zu testen.
Testablauf:
1. Wenn die Probe ausgeschaltet ist, senken Sie zunächst die Temperatur auf -50 °C und halten Sie sie 4 Stunden lang aufrecht;Führen Sie keine Tests bei niedrigen Temperaturen durch, während die Probe eingeschaltet ist. Dies ist sehr wichtig, da der Chip selbst erzeugt wird, wenn die Probe eingeschaltet ist.
Daher ist es in der Regel einfacher, den Tieftemperaturtest zu bestehen, wenn das Gerät unter Spannung steht.Für den Test muss es zunächst „eingefroren“ und dann mit Strom versorgt werden.
2. Schalten Sie das Gerät ein und führen Sie einen Leistungstest an der Probe durch, um zu vergleichen, ob die Leistung im Vergleich zur normalen Temperatur normal ist.
3. Führen Sie einen Alterungstest durch, um festzustellen, ob Datenvergleichsfehler vorliegen.
Referenzstandard:
GB/T2423.1-2008 Test A: Testmethode bei niedrigen Temperaturen
GB/T2423.2-2008 Test B: Hochtemperatur-Testmethode
GB/T2423.22-2002 Test N: Temperaturänderungstestmethode usw.
Neben dem Hoch- und Niedertemperatur-Zyklustest kann der Zuverlässigkeitstest elektronischer Produkte auch der Temperatur- und Feuchtigkeitstest (Temperatur- und Feuchtigkeitstest) und der abwechselnd feuchte Hitzetest (Damp Heat, Zyklischer Test) sein.
(Lagertest bei niedriger Temperatur), Lagerungstest bei hoher Temperatur, Thermoschocktest, Salzsprühtest
Zufall/Sinus (Vibrationstest), Box-Free-Drop-Test (Falltest), Dampfalterungstest (Dampfalterungstest), IP-Schutztest (IP-Test), LED-Lichtzerfall-Lebensdauertest und Zertifizierung
Messung der Lumenerhaltung von LED-Lichtquellen usw. gemäß den Produkttestanforderungen des Herstellers.
Die von Ruikai Instruments entwickelten und produzierten Temperaturzyklus-Testboxen, Konstanttemperatur- und Feuchtigkeitstestboxen, Thermoschock-Testboxen, drei umfassende Testboxen, Salzsprühtestboxen usw. bieten Lösungen für den Zuverlässigkeitstest elektronischer Produkte.
Temperatur, Luftfeuchtigkeit, Meerwasser, Salznebel, Stöße, Vibrationen, kosmische Partikel, verschiedene Strahlungen usw. in der Umgebung können verwendet werden, um die anwendbare Zuverlässigkeit, Ausfallrate und mittlere Zeit zwischen Ausfällen des Produkts im Voraus zu bestimmen.
Zeitpunkt der Veröffentlichung: 28. August 2023