A fogyasztói elektronika és az autóelektronika erőteljes fejlődésével az 5G kereskedelmi fellendülést is bevezetett.Az elektronikai technológia korszerűsítésével és az elektronikai termékek egyre bonyolultabbá válásával, valamint az elektronikai termékek egyre keményebb használati környezetével a rendszer nehezen tudja biztosítani egy bizonyos időtartamot.Az a képesség vagy lehetőség, hogy meghatározott funkciókat bizonyos körülmények között hiba nélkül hajtsanak végre.Ezért annak igazolására, hogy az elektronikus termékek normálisan működnek ezekben a környezetekben, a nemzeti szabványok és az ipari szabványok megkövetelik néhány tesztelem szimulációját.
Mint például a magas és alacsony hőmérsékletű ciklusteszt
A magas és alacsony hőmérsékletű ciklusteszt azt jelenti, hogy a beállított hőmérséklet 4 órán át -50°C-on tartása után a hőmérsékletet +90°C-ra emeljük, majd 4 órán keresztül +90°C-on tartják, ill. a hőmérsékletet -50 °C-ra csökkentjük, majd N ciklus következik.
Az ipari hőmérsékleti szabvány -40 ℃ ~ +85 ℃, mivel a hőmérsékleti ciklus tesztkamrájában általában hőmérsékletkülönbség van.Annak érdekében, hogy a kliens ne okozzon inkonzisztens vizsgálati eredményeket a hőmérséklet eltérése miatt, javasolt a szabvány használata a belső teszteléshez.
Rossz tesztelni.
Tesztfolyamat:
1. Amikor a minta ki van kapcsolva, először csökkentse a hőmérsékletet -50°C-ra, és tartsa 4 órán át;ne végezzen alacsony hőmérsékletű vizsgálatot, miközben a minta be van kapcsolva, ez nagyon fontos, mert a minta bekapcsolásakor maga a chip keletkezik.
Ezért általában könnyebb átmenni az alacsony hőmérsékletű teszten, ha feszültség alatt van.Először "le kell fagyasztani", majd a teszthez feszültség alá kell helyezni.
2. Kapcsolja be a gépet, és végezzen teljesítménytesztet a mintán, hogy összehasonlítsa, a teljesítmény normális-e a normál hőmérséklethez képest.
3. Végezzen öregedési tesztet annak megfigyelésére, hogy vannak-e adatok összehasonlítási hibák.
Referencia szabvány:
GB/T2423.1-2008 A teszt: Alacsony hőmérsékletű vizsgálati módszer
GB/T2423.2-2008 B teszt: Magas hőmérsékletű vizsgálati módszer
GB/T2423.22-2002 N teszt: Hőmérsékletváltozás vizsgálati módszere stb.
A magas és alacsony hőmérsékletű ciklusteszt mellett az elektronikai termékek megbízhatósági tesztje lehet a hőmérséklet- és páratartalom teszt (Temperature And Humidity teszt), a váltakozó nedves hőteszt (Damp Heat, Cyclic teszt) is.
(alacsony hőmérsékletű tárolási teszt), magas hőmérsékletű tárolási teszt, hősokk teszt, sóspray Te
Véletlenszerű/szinuszos (vibrációs teszt), dobozmentes leejtési teszt (cseppteszt), gőzöregedési teszt (gőzöregedési teszt), IP szintű védelmi teszt (IP teszt), LED fénycsillapítási teszt és tanúsítás
LED fényforrások fényáram-karbantartásának mérése) stb., a gyártó termékvizsgálati követelményei szerint.
A Ruikai Instruments által kifejlesztett és gyártott hőmérséklet-ciklus tesztdoboz, állandó hőmérséklet és páratartalom tesztdoboz, hősokk tesztdoboz, három átfogó tesztdoboz, sópermet tesztdoboz stb. megoldást kínálnak az elektronikai termékek megbízhatósági vizsgálatára.
A környezet hőmérséklete, páratartalma, tengervíz, sópermet, ütés, rezgés, kozmikus részecskék, különféle sugárzások stb. alapján előre meghatározható a termék alkalmazható megbízhatósága, meghibásodási aránya és a meghibásodások közötti átlagos idő.
Feladás időpontja: 2023. augusztus 28