З бурным развіццём спажывецкай і аўтамабільнай электронікі 5G таксама паклала пачатак камерцыйнаму буму.З мадэрнізацыяй электронных тэхналогій і ўзрастаючай складанасцю электронных прадуктаў у спалучэнні з усё больш жорсткімі ўмовамі выкарыстання электронных прадуктаў сістэме цяжка забяспечыць пэўны перыяд часу.Здольнасць або магчымасць выконваць вызначаныя функцыі без збояў у пэўных умовах.Такім чынам, каб пацвердзіць, што электронныя прадукты могуць нармальна працаваць у такіх умовах, нацыянальныя стандарты і прамысловыя стандарты патрабуюць мадэлявання некаторых тэставых элементаў.
Такія, як высокая і нізкая тэмпература выпрабаванні цыклу
Выпрабаванне цыкла высокай і нізкай тэмпературы азначае, што пасля таго, як зададзеная тэмпература падтрымліваецца ад -50°C на працягу 4 гадзін, тэмпература падымаецца да +90°C, а затым тэмпература падтрымліваецца на ўзроўні +90°C на працягу 4 гадзін, і тэмпературу паніжаюць да -50°C, пасля чаго выконваюць N цыклаў.
Прамысловы стандарт тэмпературы складае -40 ℃ ~ +85 ℃, таму што ў камеры для выпрабаванняў тэмпературнага цыкла звычайна ёсць розніца тэмператур.Каб гарантаваць, што кліент не прывядзе да супярэчлівых вынікаў выпрабаванняў з-за адхілення тэмпературы, рэкамендуецца выкарыстоўваць стандарт для ўнутранага тэсціравання.
Дрэнна тэставаць.
Працэс тэставання:
1. Калі ўзор выключаны, спачатку знізіце тэмпературу да -50°C і падтрымлівайце яе на працягу 4 гадзін;не праводзіце тэсціраванне пры нізкай тэмпературы, калі ўзор уключаны, гэта вельмі важна, таму што сам чып будзе вырабляцца пры ўключэнні ўзору.
Такім чынам, звычайна лягчэй прайсці выпрабаванне нізкай тэмпературай, калі ён знаходзіцца пад напругай.Яго трэба спачатку «замарозіць», а потым падключыць да тэсту.
2. Уключыце прыладу і выканайце праверку прадукцыйнасці ўзора, каб параўнаць, ці адпавядае прадукцыйнасць нармальнай тэмпературы.
3. Правядзіце тэст на старэнне, каб убачыць, ці ёсць памылкі параўнання даных.
Эталонны стандарт:
GB/T2423.1-2008 Тэст A: Метад выпрабаванняў пры нізкай тэмпературы
GB/T2423.2-2008 Тэст B: метад выпрабаванняў пры высокай тэмпературы
GB/T2423.22-2002 Тэст N: Метад выпрабаванняў на змяненне тэмпературы і г.д.
У дадатак да выпрабаванняў цыкла пры высокай і нізкай тэмпературы, выпрабаванне на надзейнасць электронных вырабаў таксама можа быць выпрабаваннем тэмпературы і вільготнасці (тэст тэмпературы і вільготнасці), выпрабаванне пераменным вільготным цяплом (вільготнае цяпло, цыклічны тэст)
(Выпрабаванне захоўвання пры нізкай тэмпературы), выпрабаванне захоўвання пры высокай тэмпературы, выпрабаванне цеплавым ударам, саляны спрэй Te
Выпадковы/сінус (тэст на вібрацыю), тэст на падзенне без скрынкі (тэст на падзенне), тэст на старэнне парай (тэст на старэнне парай), тэст на ўзровень абароны IP (тэст IP), тэст на тэрмін службы святлодыёднага святла і сертыфікацыя
Вымярэнне прасвету, тэхнічнае абслугоўванне святлодыёдных крыніц святла) і г.д., у адпаведнасці з патрабаваннямі вытворцы да тэсціравання прадукцыі.
Скрынка для выпрабаванняў тэмпературнага цыклу, скрынка для выпрабаванняў пастаяннай тэмпературы і вільготнасці, скрынка для выпрабаванняў цеплавога ўдару, скрынка для трох комплексных выпрабаванняў, скрынка для выпрабаванняў салёнага туману і г.д., распрацаваныя і вырабленыя Ruikai Instruments, забяспечваюць рашэнні для праверкі надзейнасці электронных прадуктаў.
Тэмпература, вільготнасць, марская вада, салёныя пырскі, удары, вібрацыя, касмічныя часціцы, рознае выпраменьванне і г.д. у навакольным асяроддзі могуць быць выкарыстаны для загадзя вызначыць адпаведную надзейнасць, інтэнсіўнасць адмоваў і сярэдні час паміж адмовамі прадукту.
Час публікацыі: 28 жніўня 2023 г