Avec le développement vigoureux de l’électronique grand public et de l’électronique automobile, la 5G a également marqué le début d’un boom commercial.Avec la mise à niveau de la technologie électronique et la complexité croissante des produits électroniques, couplés à l'environnement d'utilisation de plus en plus difficile des produits électroniques, il est difficile pour le système de garantir une certaine période de temps.La capacité ou la possibilité d'exécuter des fonctions spécifiées sans échec dans certaines conditions.Par conséquent, afin de confirmer que les produits électroniques peuvent fonctionner normalement dans ces environnements, les normes nationales et industrielles exigent la simulation de certains éléments de test.
Tels que les tests de cycle à haute et basse température
Le test de cycle à haute et basse température signifie qu'après que la température réglée est maintenue à -50°C pendant 4 heures, la température est augmentée à +90°C, puis la température est maintenue à +90°C pendant 4 heures, et la température est abaissée à -50°C, suivi de N cycles.
La norme de température industrielle est de -40℃ ~ +85℃, car la chambre d'essai du cycle de température présente généralement une différence de température.Afin de garantir que le client ne provoquera pas de résultats de test incohérents en raison d'un écart de température, il est recommandé d'utiliser la norme pour les tests internes.
Mauvais à tester.
Processus de test :
1. Lorsque l'échantillon est éteint, baissez d'abord la température à -50 °C et conservez-la pendant 4 heures ;n'effectuez pas de tests à basse température lorsque l'échantillon est sous tension, c'est très important, car la puce elle-même sera produite lorsque l'échantillon est sous tension.
Par conséquent, il est généralement plus facile de réussir le test à basse température lorsqu’il est sous tension.Il doit d'abord être « gelé », puis mis sous tension pour le test.
2. Allumez la machine et effectuez un test de performance sur l'échantillon pour comparer si la performance est normale par rapport à la température normale.
3. Effectuez un test de vieillissement pour observer s'il existe des erreurs de comparaison des données.
Norme de référence:
Test GB/T2423.1-2008 A : Méthode de test à basse température
GB/T2423.2-2008 Test B : Méthode de test à haute température
GB/T2423.22-2002 Test N : Méthode de test de changement de température, etc.
En plus du test de cycle à haute et basse température, le test de fiabilité des produits électroniques peut également être le test de température et d'humidité (test de température et d'humidité), le test de chaleur humide alternée (chaleur humide, test cyclique)
(Test de stockage à basse température), test de stockage à haute température, test de choc thermique, test au brouillard salin
Aléatoire/sinusoïdal (test de vibration), test de chute sans boîte (test de chute), test de vieillissement à la vapeur (test de vieillissement à la vapeur), test de protection du niveau IP (test IP), test de durée de vie de la lumière LED et certification
Mesure de l'entretien du lumen des sources lumineuses LED), etc., conformément aux exigences de test du produit du fabricant.
La boîte de test de cycle de température, la boîte de test de température et d'humidité constantes, la boîte de test de choc thermique, trois boîtes de test complètes, la boîte de test au brouillard salin, etc. développées et produites par Ruikai Instruments fournissent des solutions pour le test de fiabilité des produits électroniques.
La température, l'humidité, l'eau de mer, le brouillard salin, l'impact, les vibrations, les particules cosmiques, divers rayonnements, etc. dans l'environnement peuvent être utilisés pour déterminer à l'avance la fiabilité applicable, le taux de défaillance et le temps moyen entre les pannes du produit.
Heure de publication : 28 août 2023