• page_banner01

ସମ୍ବାଦ

ତାପମାତ୍ରା ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷା ବାକ୍ସ-ପରିବେଶ ଅନୁକୂଳତା ପାଇଁ ବ electronic ଦ୍ୟୁତିକ ଉତ୍ପାଦଗୁଡ଼ିକୁ ଅଧିକ ବିଶ୍ୱାସଯୋଗ୍ୟ କର |

ଉପଭୋକ୍ତା ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନିକ୍ସ ଏବଂ ଅଟୋମୋବାଇଲ୍ ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନିକ୍ସର ଜୋରଦାର ବିକାଶ ସହିତ 5G ମଧ୍ୟ ଏକ ବ୍ୟବସାୟିକ ଅଭିବୃଦ୍ଧି ଘଟାଇଛି |ବ electronic ଦ୍ୟୁତିକ ଜ୍ଞାନକ technology ଶଳର ନବୀକରଣ ଏବଂ ବ electronic ଦ୍ୟୁତିକ ଦ୍ରବ୍ୟର ଜଟିଳତା ସହିତ ବ electronic ଦ୍ୟୁତିକ ଦ୍ରବ୍ୟର କଠିନ ବ୍ୟବହାର ପରିବେଶ ସହିତ, ଏକ ନିର୍ଦ୍ଦିଷ୍ଟ ସମୟ ନିଶ୍ଚିତ କରିବା ସିଷ୍ଟମ ପାଇଁ କଷ୍ଟକର |ନିର୍ଦ୍ଦିଷ୍ଟ ସର୍ତ୍ତଗୁଡିକରେ ବିଫଳତା ବିନା ନିର୍ଦ୍ଦିଷ୍ଟ କାର୍ଯ୍ୟଗୁଡିକ କରିବାର କ୍ଷମତା କିମ୍ବା ସମ୍ଭାବନା |ତେଣୁ, ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନିକ୍ ଉତ୍ପାଦଗୁଡିକ ଏହି ପରିବେଶରେ ସାଧାରଣ ଭାବରେ କାର୍ଯ୍ୟ କରିପାରିବ ବୋଲି ନିଶ୍ଚିତ କରିବାକୁ, ଜାତୀୟ ମାନକ ଏବଂ ଶିଳ୍ପ ମାନକଗୁଡିକ କିଛି ପରୀକ୍ଷା ଆଇଟମ୍ଗୁଡ଼ିକର ଅନୁକରଣ ଆବଶ୍ୟକ କରେ |

dytr (13)

ଯେପରିକି ଉଚ୍ଚ ଏବଂ ନିମ୍ନ ତାପମାତ୍ରା ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷା |

dytr (14)
dytr (15)

ଉଚ୍ଚ ଏବଂ ନିମ୍ନ ତାପମାତ୍ରା ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷଣର ଅର୍ଥ ହେଉଛି ଯେ ସ୍ଥିର ତାପମାତ୍ରା -50 ° C ରୁ 4 ଘଣ୍ଟା ପର୍ଯ୍ୟନ୍ତ ରଖାଯିବା ପରେ ତାପମାତ୍ରା + 90 ° C କୁ ବୃଦ୍ଧି ପାଇଥାଏ, ଏବଂ ତାପରେ ତାପମାତ୍ରା + 90 ° C ରେ 4 ଘଣ୍ଟା ପାଇଁ ରଖାଯାଇଥାଏ, ଏବଂ ତାପମାତ୍ରା -50 ° C କୁ ହ୍ରାସ ହୁଏ, ତା’ପରେ N ଚକ୍ର |

ଶିଳ୍ପ ତାପମାତ୍ରା ମାନକ -40 ℃ ~ + 85 ℃, କାରଣ ତାପମାତ୍ରା ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷା ପ୍ରକୋଷ୍ଠରେ ସାଧାରଣତ a ତାପମାତ୍ରାର ପାର୍ଥକ୍ୟ ଥାଏ |ତାପମାତ୍ରା ବିଘ୍ନ ହେତୁ ଗ୍ରାହକ ଅସଙ୍ଗତ ପରୀକ୍ଷା ଫଳାଫଳ ସୃଷ୍ଟି କରିବେ ନାହିଁ ବୋଲି ନିଶ୍ଚିତ କରିବାକୁ, ଆଭ୍ୟନ୍ତରୀଣ ପରୀକ୍ଷଣ ପାଇଁ ମାନକ ବ୍ୟବହାର କରିବାକୁ ପରାମର୍ଶ ଦିଆଯାଇଛି |

ପରୀକ୍ଷା କରିବାକୁ ଖରାପ |

ପରୀକ୍ଷା ପ୍ରକ୍ରିୟା:

1. ଯେତେବେଳେ ନମୁନା ଚାଳିତ ହୁଏ, ପ୍ରଥମେ ତାପମାତ୍ରା -50 ° C କୁ ଛାଡିଦିଅ ଏବଂ ଏହାକୁ 4 ଘଣ୍ଟା ରଖ;ନମୁନା ଚାଳିତ ଥିବାବେଳେ ନିମ୍ନ ତାପମାତ୍ରା ପରୀକ୍ଷା କର ନାହିଁ, ଏହା ଅତ୍ୟନ୍ତ ଗୁରୁତ୍ୱପୂର୍ଣ୍ଣ, କାରଣ ନମୁନା ଚାଳିତ ହେଲେ ଚିପ୍ ନିଜେ ଉତ୍ପାଦିତ ହେବ |

ଅତଏବ, ଶକ୍ତି ପ୍ରାପ୍ତ ହେଲେ ନିମ୍ନ ତାପମାତ୍ରା ପରୀକ୍ଷା ଦେବା ସାଧାରଣତ easier ସହଜ ହୋଇଥାଏ |ଏହା ପ୍ରଥମେ "ଫ୍ରିଜ୍" ହେବା ଆବଶ୍ୟକ, ଏବଂ ତାପରେ ପରୀକ୍ଷା ପାଇଁ ଶକ୍ତିଯୁକ୍ତ |

2. ସାଧାରଣ ତାପମାତ୍ରା ତୁଳନାରେ କାର୍ଯ୍ୟଦକ୍ଷତା ସ୍ is ାଭାବିକ କି ନୁହେଁ ତାହା ତୁଳନା କରିବାକୁ ମେସିନ୍ ଟର୍ନ୍ ଅନ୍ କରନ୍ତୁ ଏବଂ ନମୁନାରେ କାର୍ଯ୍ୟଦକ୍ଷତା ପରୀକ୍ଷା କରନ୍ତୁ |

3. ତଥ୍ୟ ତୁଳନାତ୍ମକ ତ୍ରୁଟି ଅଛି କି ନାହିଁ ଦେଖିବା ପାଇଁ ଏକ ବାର୍ଦ୍ଧକ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା କର |

ସନ୍ଦର୍ଭ ମାନକ:

GB / T2423.1-2008 ପରୀକ୍ଷା A: ନିମ୍ନ ତାପମାତ୍ରା ପରୀକ୍ଷା ପଦ୍ଧତି |

GB / T2423.2-2008 ପରୀକ୍ଷା B: ଉଚ୍ଚ ତାପମାତ୍ରା ପରୀକ୍ଷା ପଦ୍ଧତି |

GB / T2423.22-2002 ପରୀକ୍ଷା N: ତାପମାତ୍ରା ପରିବର୍ତ୍ତନ ପରୀକ୍ଷା ପଦ୍ଧତି, ଇତ୍ୟାଦି |

ଉଚ୍ଚ ଏବଂ ନିମ୍ନ ତାପମାତ୍ରା ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷଣ ସହିତ, ବ electronic ଦ୍ୟୁତିକ ଦ୍ରବ୍ୟର ନିର୍ଭରଯୋଗ୍ୟତା ପରୀକ୍ଷା ମଧ୍ୟ ତାପମାତ୍ରା ଏବଂ ଆର୍ଦ୍ରତା ପରୀକ୍ଷା (ତାପମାତ୍ରା ଏବଂ ଆର୍ଦ୍ରତା ପରୀକ୍ଷା), ବିକଳ୍ପ ଡ୍ୟାମ୍ ଉତ୍ତାପ ପରୀକ୍ଷା (ଡ୍ୟାମ୍ ହିଟ୍, ସାଇକ୍ଲିକ୍ ପରୀକ୍ଷା) ହୋଇପାରେ |

(ନିମ୍ନ ତାପମାତ୍ରା ସଂରକ୍ଷଣ ପରୀକ୍ଷା), ଉଚ୍ଚ ତାପମାତ୍ରା ସଂରକ୍ଷଣ ପରୀକ୍ଷା, ଥର୍ମାଲ୍ ଶକ୍ ପରୀକ୍ଷା, ଲୁଣ ସ୍ପ୍ରେ ଟି

ରାଣ୍ଡମ୍ / ସାଇନ (କମ୍ପନ ଟେଷ୍ଟ), ବକ୍ସ ଫ୍ରି ଡ୍ରପ୍ ଟେଷ୍ଟ (ଡ୍ରପ୍ ଟେଷ୍ଟ), ବାଷ୍ପ ବାର୍ଦ୍ଧକ୍ୟ ପରୀକ୍ଷା (ଷ୍ଟିମ୍ ଏଜିଂ ଟେଷ୍ଟ), ଆଇପି ସ୍ତରର ସୁରକ୍ଷା ପରୀକ୍ଷା (ଆଇପି ଟେଷ୍ଟ), ଏଲଇଡି ହାଲୁକା କ୍ଷୟ ଜୀବନ ପରୀକ୍ଷା ଏବଂ ପ୍ରମାଣପତ୍ର

ଉତ୍ପାଦକଙ୍କ ଉତ୍ପାଦ ପରୀକ୍ଷଣ ଆବଶ୍ୟକତା ଅନୁଯାୟୀ, ଏଲଇଡି ଆଲୋକ ଉତ୍ସଗୁଡ଼ିକର ଲୁମେନ ରକ୍ଷଣାବେକ୍ଷଣ ମାପିବା ଇତ୍ୟାଦି |

ରୁଏକାଇ ଇନଷ୍ଟ୍ରୁମେଣ୍ଟସ୍ ଦ୍ୱାରା ବିକଶିତ ଏବଂ ଉତ୍ପାଦିତ ତାପମାତ୍ରା ଚକ୍ର ପରୀକ୍ଷା ବାକ୍ସ, କ୍ରମାଗତ ତାପମାତ୍ରା ଏବଂ ଆର୍ଦ୍ରତା ପରୀକ୍ଷା ବାକ୍ସ, ତାପଜ ଶକ୍ ପରୀକ୍ଷା ବାକ୍ସ, ତିନୋଟି ବିସ୍ତୃତ ପରୀକ୍ଷା ବାକ୍ସ, ଲୁଣ ସ୍ପ୍ରେ ପରୀକ୍ଷା ବାକ୍ସ ଇତ୍ୟାଦି ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନିକ୍ ଉତ୍ପାଦଗୁଡ଼ିକର ବିଶ୍ୱସନୀୟତା ପରୀକ୍ଷା ପାଇଁ ସମାଧାନ ପ୍ରଦାନ କରେ |

ପରିବେଶରେ ତାପମାତ୍ରା, ଆର୍ଦ୍ରତା, ସମୁଦ୍ର ଜଳ, ଲୁଣ ସ୍ପ୍ରେ, ପ୍ରଭାବ, କମ୍ପନ, ବ୍ରହ୍ମାଣ୍ଡ କଣିକା, ବିଭିନ୍ନ ବିକିରଣ ଇତ୍ୟାଦି ପ୍ରଯୁଜ୍ୟ ନିର୍ଭରଯୋଗ୍ୟତା, ବିଫଳତା ହାର ଏବଂ ଉତ୍ପାଦର ବିଫଳତା ମଧ୍ୟରେ ସମୟ ନିର୍ଣ୍ଣୟ କରିବା ପାଇଁ ବ୍ୟବହାର କରାଯାଇପାରିବ |


ପୋଷ୍ଟ ସମୟ: ଅଗଷ୍ଟ -28-2023 |