Co desenvolvemento vigoroso da electrónica de consumo e da electrónica de automóbiles, o 5G tamén provocou un boom comercial.Coa actualización da tecnoloxía electrónica e a crecente complexidade dos produtos electrónicos, xunto co ambiente de uso cada vez máis duro dos produtos electrónicos, é difícil que o sistema garanta un determinado período de tempo.A capacidade ou a posibilidade de realizar funcións especificadas sen falla dentro de determinadas condicións.Polo tanto, para confirmar que os produtos electrónicos poden funcionar normalmente nestes ambientes, as normas nacionais e as normas industriais requiren a simulación dalgúns elementos de proba.
Como proba de ciclo de alta e baixa temperatura
A proba do ciclo de alta e baixa temperatura significa que despois de que a temperatura establecida se manteña a partir de -50 °C durante 4 horas, a temperatura elévase a +90 °C e, a continuación, mantense a +90 °C durante 4 horas e a temperatura redúcese ata -50 °C, seguido de ciclos de N.
O estándar de temperatura industrial é de -40 ℃ ~ + 85 ℃, porque a cámara de proba do ciclo de temperatura adoita ter unha diferenza de temperatura.Co fin de garantir que o cliente non causará resultados de proba inconsistentes debido á desviación da temperatura, recoméndase utilizar o estándar para probas internas.
Mal probar.
Proceso de proba:
1. Cando a mostra estea apagada, primeiro baixa a temperatura a -50 °C e manteña durante 4 horas;non realice probas de baixa temperatura mentres a mostra estea acendida, é moi importante, porque o propio chip producirase cando a mostra estea acendida.
Polo tanto, adoita ser máis doado pasar a proba de baixa temperatura cando está energizado.Debe ser "conxelado" primeiro, e despois energizado para a proba.
2. Acende a máquina e realiza a proba de rendemento na mostra para comparar se o rendemento é normal en comparación coa temperatura normal.
3. Realizar unha proba de envellecemento para observar se hai erros de comparación de datos.
Norma de referencia:
GB/T2423.1-2008 Proba A: Método de proba de baixa temperatura
GB/T2423.2-2008 Proba B: método de proba de alta temperatura
GB/T2423.22-2002 Proba N: método de proba de cambio de temperatura, etc.
Ademais da proba de ciclo de alta e baixa temperatura, a proba de fiabilidade dos produtos electrónicos tamén pode ser a proba de temperatura e humidade (proba de temperatura e humidade), a proba de calor húmido alternado (calor húmido, proba cíclica)
(Proba de almacenamento a baixa temperatura), proba de almacenamento a alta temperatura, proba de choque térmico, Spray salino Te
Aleatorio/sinusoidal (proba de vibración), proba de caída sen caixa (proba de caída), proba de envellecemento por vapor (proba de envellecemento do vapor), proba de protección de nivel IP (proba IP), proba de vida útil e certificación da decadencia da luz LED
Medición do mantemento de lumens das fontes de luz LED), etc., segundo os requisitos de proba do produto do fabricante.
A caixa de proba do ciclo de temperatura, a caixa de proba de temperatura e humidade constante, a caixa de proba de choque térmico, a caixa de proba de tres amplas, a caixa de proba de pulverización de sal, etc. desenvolvidas e producidas por Ruikai Instruments proporcionan solucións para a proba de fiabilidade dos produtos electrónicos.
A temperatura, a humidade, a auga do mar, o spray salino, o impacto, as vibracións, as partículas cósmicas, as radiacións diversas, etc. no ambiente pódense utilizar para determinar a fiabilidade aplicable, a taxa de fallos e o tempo medio entre os fallos do produto con antelación.
Hora de publicación: 28-ago-2023