Նորություններ

Բարձր և ցածր ջերմաստիճանի ցիկլի փորձարկումը նշանակում է, որ սահմանված ջերմաստիճանը -50°C-ից 4 ժամ պահելուց հետո ջերմաստիճանը բարձրացվում է մինչև +90°C, այնուհետև ջերմաստիճանը պահվում է +90°C-ում 4 ժամ, և ջերմաստիճանը իջեցվում է մինչև -50°C, որին հաջորդում են N ցիկլեր:

Արդյունաբերական ջերմաստիճանի ստանդարտը -40℃ ~ +85℃ է, քանի որ ջերմաստիճանի ցիկլի փորձարկման պալատը սովորաբար ունի ջերմաստիճանի տարբերություն:Ապահովելու համար, որ հաճախորդը ջերմաստիճանի շեղման պատճառով չի առաջացնի թեստի անհամապատասխան արդյունքներ, խորհուրդ է տրվում օգտագործել ստանդարտը ներքին փորձարկման համար:

Վատ է փորձարկել:

Փորձարկման գործընթացը.

1. Երբ նմուշն անջատված է, նախ իջեցրեք ջերմաստիճանը մինչև -50°C և պահեք այն 4 ժամ;Մի կատարեք ցածր ջերմաստիճանի փորձարկում, երբ նմուշը միացված է, դա շատ կարևոր է, քանի որ չիպն ինքնին կարտադրվի, երբ նմուշը միացված է:

Հետեւաբար, սովորաբար ավելի հեշտ է անցնել ցածր ջերմաստիճանի թեստը, երբ այն սնուցվում է:Այն նախ պետք է «սառեցվի», իսկ հետո թեստի համար լիցքավորվի:

2. Միացրեք մեքենան և կատարեք կատարողականության փորձարկում նմուշի վրա՝ համեմատելու, թե արդյոք կատարումը նորմալ է նորմալ ջերմաստիճանի համեմատ:

3. Կատարեք ծերացման թեստ՝ դիտարկելու համար, թե արդյոք կան տվյալների համեմատության սխալներ:

Հղման ստանդարտ.

GB/T2423.1-2008 Test A. Ցածր ջերմաստիճանի փորձարկման մեթոդ

GB/T2423.2-2008 Թեստ Բ. Բարձր ջերմաստիճանի փորձարկման մեթոդ

GB/T2423.22-2002 Թեստ N. Ջերմաստիճանի փոփոխության փորձարկման մեթոդ և այլն:

Բացի բարձր և ցածր ջերմաստիճանի ցիկլի թեստից, էլեկտրոնային արտադրանքի հուսալիության թեստը կարող է լինել նաև ջերմաստիճանի և խոնավության թեստը (Ջերմաստիճանի և խոնավության թեստ), փոփոխական խոնավ ջերմության թեստը (Խոնավ ջերմություն, ցիկլային թեստ)

(Ցածր ջերմաստիճանի պահպանման փորձարկում), Բարձր ջերմաստիճանի պահպանման փորձարկում, ջերմային ցնցումների թեստ, աղի ցողացիր

Պատահական/սինուսային (թրթռումային թեստ), տուփից ազատ անկման թեստ (կաթիլային թեստ), գոլորշու ծերացման թեստ (գոլորշու ծերացման թեստ), IP մակարդակի պաշտպանության թեստ (IP թեստ), լուսադիոդային լույսի քայքայման կյանքի փորձարկում և սերտիֆիկացում

LED լույսի աղբյուրների լույսի պահպանման չափում) և այլն, ըստ արտադրողի արտադրանքի փորձարկման պահանջների:

Ruikai Instruments-ի կողմից մշակված և արտադրված ջերմաստիճանի ցիկլի փորձարկման տուփը, մշտական ​​ջերմաստիճանի և խոնավության փորձարկման տուփը, ջերմային ցնցումների փորձարկման տուփը, երեք համապարփակ փորձարկման տուփը, աղի լակի փորձարկման տուփը և այլն, որոնք մշակվել և արտադրվել են էլեկտրոնային արտադրանքի հուսալիության փորձարկման համար:

Ջերմաստիճանը, խոնավությունը, ծովի ջուրը, աղի ցողումը, ազդեցությունը, թրթռումը, տիեզերական մասնիկները, տարբեր ճառագայթումը և այլն շրջակա միջավայրում կարող են օգտագործվել՝ նախապես որոշելու կիրառելի հուսալիությունը, խափանումների արագությունը և արտադրանքի խափանումների միջև ընկած միջին ժամանակը: