Со енергичниот развој на потрошувачката електроника и автомобилската електроника, 5G доведе и до комерцијален бум. Со надградбата на електронската технологија и зголемената комплексност на електронските производи, заедно со сè построгата средина за користење на електронските производи, тешко е системот да обезбеди одреден временски период. Способност или можност за извршување на одредени функции без дефект во одредени услови. Затоа, за да се потврди дека електронските производи можат нормално да работат во овие средини, националните стандарди и индустриските стандарди бараат симулација на некои тест елементи.
Како што се тест за циклус на висока и ниска температура
Тестот за циклус на висока и ниска температура значи дека откако поставената температура ќе се одржи од -50°C во тек на 4 часа, температурата се зголемува на +90°C, а потоа температурата се одржува на +90°C во тек на 4 часа, а потоа се намалува на -50°C, по што следат N циклуси.
Индустрискиот температурен стандард е -40℃ ~ +85℃, бидејќи комората за тестирање на температурниот циклус обично има температурна разлика. За да се осигури дека клиентот нема да предизвика неконзистентни резултати од тестот поради температурно отстапување, се препорачува да се користи стандардот за внатрешно тестирање.
Лошо за тестирање.
Процес на тестирање:
1. Кога примерокот е исклучен, прво намалете ја температурата на -50°C и држете ја 4 часа; не вршете тестирање на ниска температура додека примерокот е вклучен, тоа е многу важно, бидејќи самиот чип ќе се произведе кога примерокот ќе се вклучи.
Затоа, обично е полесно да се помине тестот на ниска температура кога е напоен. Прво мора да се „замрзне“, а потоа да се напојува за тестот.
2. Вклучете ја машината и извршете тест за перформанси на примерокот за да споредите дали перформансите се нормални во споредба со нормалната температура.
3. Спроведете тест за стареење за да видите дали има грешки при споредба на податоци.
Референтен стандард:
GB/T2423.1-2008 Тест А: Метод за тестирање на ниска температура
GB/T2423.2-2008 Тест Б: Метод за тестирање на висока температура
GB/T2423.22-2002 Тест N: Метод за тестирање на промена на температурата, итн.
Покрај тестот за циклус на висока и ниска температура, тестот за сигурност на електронските производи може да биде и тест за температура и влажност (тест за температура и влажност), тест за наизменична влажна топлина (влажна топлина, цикличен тест)
(Тест за складирање на ниска температура), Тест за складирање на висока температура, Тест за термички шок, Тест за солен спреј
Случајно/синусоидно (тест за вибрации), тест за паѓање без кутија (тест за паѓање), тест за стареење со пареа (тест за стареење со пареа), тест за заштита на ниво на IP (IP тест), тест и сертификација на животниот век на распаѓање на LED светилка
Мерење на одржувањето на луменот на LED изворите на светлина), итн., според барањата за тестирање на производот на производителот.
Кутијата за тестирање на температурен циклус, кутијата за тестирање на константна температура и влажност, кутијата за тестирање на термички шок, трите сеопфатни кутии за тестирање, кутијата за тестирање на солен спреј итн., развиени и произведени од Ruikai Instruments, обезбедуваат решенија за тестирање на сигурноста на електронските производи.
Температурата, влажноста, морската вода, спрејот од сол, ударот, вибрациите, космичките честички, различното зрачење итн. во околината може да се користат за однапред да се одреди применливата сигурност, стапката на дефекти и просечното време помеѓу дефектите на производот.
Време на објавување: 28 август 2023 година