民生用電子機器や車載電子機器の活発な発展に伴い、5Gもまた商業ブームを巻き起こしています。電子技術の高度化と電子製品の複雑化、そして電子製品の使用環境の過酷化に伴い、システムが一定期間、特定の条件下で故障なく所定の機能を実行する能力または可能性を確保することは困難になっています。そのため、電子製品がこれらの環境下で正常に動作できることを確認するために、国家規格や業界規格では、いくつかの試験項目のシミュレーションが求められています。
高温・低温サイクル試験など
高低温サイクル試験とは、設定温度を-50℃で4時間保持した後、+90℃まで昇温し、さらに+90℃で4時間保持した後、-50℃まで下げるという動作をNサイクル行う試験です。
温度サイクル試験室では通常、温度差が生じるため、工業用温度標準は-40℃～+85℃です。温度偏差による試験結果のばらつきを防ぐため、社内試験ではこの標準を使用することをお勧めします。
テストするのは悪いです。
テストプロセス:
1. サンプルの電源を切ったら、まず温度を -50°C まで下げて 4 時間維持します。サンプルの電源を入れたまま低温テストを実行しないでください。これは非常に重要です。サンプルの電源を入れるとチップ自体が生成されるためです。
そのため、通常は通電状態で低温試験に合格しやすくなります。まず「凍結」させてから通電し、試験を実施します。
2. 機械の電源を入れ、サンプルの性能テストを実行して、常温と比較して性能が正常かどうかを比較します。
3. データ比較エラーがあるかどうかを観察するためにエージングテストを実行します。
参照標準:
GB/T2423.1-2008 試験A：低温試験方法
GB/T2423.2-2008 試験B：高温試験方法
GB/T2423.22-2002 試験N：温度変化試験方法など
電子製品の信頼性試験には、高温・低温サイクル試験のほか、温度湿度試験（Temperature And Humidity test）、交互湿熱試験（Damp Heat, Cyclic test）などもあります。
（低温貯蔵試験）、高温貯蔵試験、熱衝撃試験、塩水噴霧試験
ランダム/正弦波（振動試験）、無蓋落下試験（落下試験）、蒸気老化試験（蒸気老化試験）、IPレベル保護試験（IP試験）、LEDライト減衰寿命試験および認証
メーカーの製品テスト要件に従って、LED 光源の光束維持率の測定などを実施します。
Ruikai Instrumentsが開発・製造する温度サイクル試験ボックス、恒温恒湿試験ボックス、熱衝撃試験ボックス、三総合試験ボックス、塩水噴霧試験ボックスなどは、電子製品の信頼性試験にソリューションを提供します。
環境内の温度、湿度、海水、塩水噴霧、衝撃、振動、宇宙粒子、各種放射線などを利用して、製品の適用信頼性、故障率、平均故障間隔を事前に判定することができます。
投稿日時: 2023年8月28日