Благодаря бурному развитию потребительской электроники и автомобильной электроники, 5G также положил начало коммерческому буму. С модернизацией электронных технологий и увеличением сложности электронных изделий, а также с усложнением условий их эксплуатации, системам становится сложно гарантировать определенный период времени, то есть возможность или способность выполнять заданные функции без сбоев в определенных условиях. Поэтому для подтверждения нормальной работы электронных изделий в таких условиях национальные и отраслевые стандарты требуют моделирования некоторых тестовых объектов.
Например, испытания на циклическую работу при высоких и низких температурах.
Испытание на цикличность при высоких и низких температурах означает, что после выдержки заданной температуры от -50°C в течение 4 часов температура повышается до +90°C, затем температура поддерживается на уровне +90°C в течение 4 часов, после чего температура понижается до -50°C, и так далее, N циклов.
Стандартный диапазон рабочих температур в промышленности составляет от -40℃ до +85℃, поскольку в камере для испытаний на температурный цикл обычно наблюдается разница температур. Для того чтобы гарантировать отсутствие расхождений в результатах испытаний из-за температурных отклонений, рекомендуется использовать стандарт для внутренних испытаний.
Не стоит проводить тестирование.
Процесс тестирования:
1. После выключения питания образца сначала понизьте температуру до -50°C и поддерживайте ее в течение 4 часов; не проводите низкотемпературные испытания при включенном питании образца, это очень важно, поскольку сам чип будет производиться при включении питания образца.
Поэтому испытание при низких температурах обычно легче пройти, когда устройство находится под напряжением. Сначала его необходимо «заморозить», а затем подать на него напряжение для проведения испытания.
2. Включите прибор и проведите проверку его рабочих характеристик на образце, чтобы сравнить их с нормальными показателями при нормальной температуре.
3. Проведите тест на старение, чтобы выявить возможные ошибки при сравнении данных.
Эталонный стандарт:
GB/T2423.1-2008 Испытание A: Метод низкотемпературных испытаний
GB/T2423.2-2008 Испытание B: Метод испытания при высоких температурах
GB/T2423.22-2002 Испытание №: Метод испытания на изменение температуры и т. д.
Помимо испытаний на циклическое воздействие высоких и низких температур, проверка надежности электронных изделий может также включать испытания на воздействие температуры и влажности (испытание на воздействие температуры и влажности), а также испытания на воздействие переменного влажного тепла (циклическое испытание на воздействие влажного тепла).
(Испытание на хранение при низких температурах), Испытание на хранение при высоких температурах, Испытание на термоудар, Испытание на солевой туман
Испытание на вибрацию (случайное/синусоидальное), испытание на падение без удара (испытание на падение), испытание на старение под воздействием пара (испытание на старение под воздействием пара), испытание на уровень защиты IP (испытание IP), испытание на снижение срока службы светодиодов и сертификация.
Измерение сохранения светового потока светодиодных источников света и т. д., в соответствии с требованиями производителя к испытаниям продукции.
Разработанные и производимые компанией Ruikai Instruments испытательные стенды для циклической работы при различных температурах, для испытаний при постоянной температуре и влажности, для испытаний на термоудар, комплексные испытательные стенды, стенды для испытаний в солевом тумане и другие решения обеспечивают проверку надежности электронных изделий.
Температура, влажность, морская вода, солевые брызги, удары, вибрация, космические частицы, различное излучение и т.д. в окружающей среде могут быть использованы для предварительного определения применимой надежности, частоты отказов и среднего времени между отказами изделия.
Дата публикации: 28 августа 2023 г.