Com o desenvolvimento vigoroso da eletrônica de consumo e da eletrônica automotiva, o 5G também impulsionou um boom comercial. Com a modernização da tecnologia eletrônica e a crescente complexidade dos produtos eletrônicos, aliadas ao ambiente de uso cada vez mais severo desses produtos, torna-se difícil para o sistema garantir, por um determinado período de tempo, a capacidade ou possibilidade de executar funções específicas sem falhas sob certas condições. Portanto, para confirmar que os produtos eletrônicos podem funcionar normalmente nesses ambientes, as normas nacionais e industriais exigem a simulação de alguns itens de teste.
Como, por exemplo, testes de ciclo de alta e baixa temperatura.
O teste de ciclo de alta e baixa temperatura consiste em manter a temperatura definida em -50°C por 4 horas, elevá-la para +90°C, mantê-la em +90°C por 4 horas e, em seguida, reduzi-la para -50°C, repetindo-se o processo N vezes.
A temperatura padrão industrial varia de -40 °C a +85 °C, pois a câmara de teste de ciclo térmico geralmente apresenta diferenças de temperatura. Para garantir que o cliente não obtenha resultados inconsistentes devido a variações de temperatura, recomenda-se o uso dessa faixa de temperatura padrão para testes internos.
Ruim para testar.
Processo de teste:
1. Com a amostra desligada, primeiro reduza a temperatura para -50°C e mantenha-a por 4 horas; não realize testes de baixa temperatura com a amostra ligada, isso é muito importante, pois o próprio chip será produzido quando a amostra for ligada.
Portanto, geralmente é mais fácil passar no teste de baixa temperatura quando o equipamento está energizado. Ele deve ser "congelado" primeiro e, em seguida, energizado para o teste.
2. Ligue a máquina e realize um teste de desempenho na amostra para comparar se o desempenho está normal em relação à temperatura normal.
3. Realize um teste de envelhecimento para verificar se existem erros de comparação de dados.
Padrão de referência:
GB/T2423.1-2008 Teste A: Método de teste de baixa temperatura
GB/T2423.2-2008 Teste B: Método de teste de alta temperatura
GB/T2423.22-2002 Teste N: Método de teste de mudança de temperatura, etc.
Além do teste de ciclo de alta e baixa temperatura, o teste de confiabilidade de produtos eletrônicos também pode incluir o teste de temperatura e umidade (Teste de Temperatura e Umidade) e o teste de calor úmido alternado (Teste de Calor Úmido, Cíclico).
Teste de armazenamento em baixa temperatura, teste de armazenamento em alta temperatura, teste de choque térmico, teste de névoa salina.
Teste de vibração aleatória/senoidal, teste de queda livre da caixa, teste de envelhecimento a vapor, teste de nível de proteção IP, teste de vida útil e certificação de degradação da luz LED.
Medição da manutenção do fluxo luminoso de fontes de luz LED), etc., de acordo com os requisitos de teste do produto do fabricante.
A Ruikai Instruments desenvolveu e produziu soluções para testes de confiabilidade em produtos eletrônicos, como a câmara de teste de ciclo térmico, a câmara de teste de temperatura e umidade constantes, a câmara de teste de choque térmico, a câmara de teste triplo e a câmara de teste de névoa salina.
A temperatura, a umidade, a água do mar, a névoa salina, o impacto, a vibração, as partículas cósmicas, vários tipos de radiação, etc., presentes no ambiente, podem ser usados para determinar antecipadamente a confiabilidade, a taxa de falhas e o tempo médio entre falhas do produto.
Data da publicação: 28/08/2023