Dengan perkembangan pesat elektronik pengguna dan elektronik automotif, 5G juga telah membawa kepada ledakan komersial. Dengan peningkatan teknologi elektronik dan peningkatan kerumitan produk elektronik, ditambah pula dengan persekitaran penggunaan produk elektronik yang semakin keras, adalah sukar bagi sistem untuk memastikan tempoh masa tertentu. Keupayaan atau kemungkinan untuk melaksanakan fungsi tertentu tanpa kegagalan dalam keadaan tertentu. Oleh itu, untuk mengesahkan bahawa produk elektronik boleh berfungsi secara normal dalam persekitaran ini, piawaian kebangsaan dan piawaian perindustrian memerlukan simulasi beberapa item ujian.
Seperti ujian kitaran suhu tinggi dan rendah
Ujian kitaran suhu tinggi dan rendah bermaksud selepas suhu yang ditetapkan dikekalkan dari -50°C selama 4 jam, suhu dinaikkan kepada +90°C, dan kemudian suhu dikekalkan pada +90°C selama 4 jam, dan suhu diturunkan kepada -50°C, diikuti oleh N kitaran.
Piawaian suhu perindustrian ialah -40℃ ~ +85℃, kerana ruang ujian kitaran suhu biasanya mempunyai perbezaan suhu. Untuk memastikan pelanggan tidak akan menyebabkan keputusan ujian yang tidak konsisten disebabkan oleh sisihan suhu, adalah disyorkan untuk menggunakan piawaian untuk ujian dalaman.
Tidak baik untuk diuji.
Proses ujian:
1. Apabila sampel dimatikan, turunkan suhu terlebih dahulu kepada -50°C dan biarkan selama 4 jam; jangan lakukan ujian suhu rendah semasa sampel dihidupkan, ia sangat penting, kerana cip itu sendiri akan dihasilkan apabila sampel dihidupkan.
Oleh itu, biasanya lebih mudah untuk lulus ujian suhu rendah apabila ia diberi tenaga. Ia mesti "dibekukan" terlebih dahulu, dan kemudian diberi tenaga untuk ujian.
2. Hidupkan mesin dan lakukan ujian prestasi pada sampel untuk membandingkan sama ada prestasi adalah normal berbanding suhu biasa.
3. Jalankan ujian penuaan untuk memerhatikan sama ada terdapat ralat perbandingan data.
Piawaian rujukan:
GB/T2423.1-2008 Ujian A: Kaedah ujian suhu rendah
GB/T2423.2-2008 Ujian B: Kaedah ujian suhu tinggi
GB/T2423.22-2002 Ujian N: Kaedah ujian perubahan suhu, dsb.
Selain ujian kitaran suhu tinggi dan rendah, ujian kebolehpercayaan produk elektronik juga boleh terdiri daripada ujian suhu dan kelembapan (ujian Suhu dan Kelembapan), ujian haba lembap berselang-seli (Haba Lembap, Ujian Kitaran).
(Ujian Penyimpanan Suhu Rendah), Ujian Penyimpanan Suhu Tinggi, Ujian kejutan haba, Semburan Garam
Rawak/sinus (Ujian getaran), ujian titisan bebas kotak (Ujian titisan), ujian penuaan wap (Ujian Penuaan Wap), ujian perlindungan tahap IP (Ujian IP), ujian hayat pereputan cahaya LED dan pensijilan
Mengukur Lumen (Penyelenggaraan Sumber Cahaya LED), dsb., mengikut keperluan ujian produk pengeluar.
Kotak ujian kitaran suhu, kotak ujian suhu dan kelembapan malar, kotak ujian kejutan haba, kotak ujian tiga komprehensif, kotak ujian semburan garam, dan sebagainya yang dibangunkan dan dihasilkan oleh Ruikai Instruments menyediakan penyelesaian untuk ujian kebolehpercayaan produk elektronik.
Suhu, kelembapan, air laut, semburan garam, hentaman, getaran, zarah kosmik, pelbagai sinaran, dan sebagainya dalam persekitaran boleh digunakan untuk menentukan kebolehpercayaan, kadar kegagalan dan min masa antara kegagalan produk yang berkenaan terlebih dahulu.
Masa siaran: 28 Ogos 2023