Mat der kräfteger Entwécklung vun der Konsumentelektronik an der Automobilelektronik huet 5G och e kommerzielle Boom ageleet. Mat der Moderniséierung vun der elektronescher Technologie an der zouhuelender Komplexitéit vun elektronesche Produkter, zesumme mat der ëmmer méi haarder Benotzungsëmfeld vun elektronesche Produkter, ass et schwéier fir de System eng gewëssen Zäitperiod ze garantéieren. D'Fäegkeet oder d'Méiglechkeet, spezifesch Funktiounen ouni Ausfall ënner bestëmmte Konditiounen auszeféieren. Dofir, fir ze bestätegen, datt elektronesch Produkter an dësen Ëmfeld normal funktionéiere kënnen, verlaangen national Normen an Industrienormen eng Simulatioun vu bestëmmten Testelementer.
Wéi zum Beispill den Zyklustest bei héijen an niddregen Temperaturen
Den Zyklustest mat héijen an niddregen Temperaturen bedeit, datt nodeems déi agestallte Temperatur 4 Stonnen op -50°C gehale gouf, d'Temperatur op +90°C erhéicht gëtt, an dann d'Temperatur 4 Stonnen op +90°C gehale gëtt, an d'Temperatur op -50°C erofgesat gëtt, gefollegt vun N Zyklen.
Den industriellen Temperaturstandard läit bei -40℃ ~ +85℃, well d'Temperaturzyklus-Testkammer normalerweis en Temperaturënnerscheed huet. Fir sécherzestellen, datt de Client keng widderspréchlech Testergebnisse wéinst Temperaturofwäichunge verursaacht, ass et recommandéiert, de Standard fir intern Tester ze benotzen.
Schlecht fir ze testen.
Testprozess:
1. Wann d'Prouf ausgeschalt ass, sollt d'Temperatur fir d'éischt op -50°C erofgesat ginn a fir 4 Stonnen do gehale ginn; maacht keng Tester bei niddreger Temperatur, während d'Prouf ugeschalt ass, dat ass ganz wichteg, well de Chip selwer produzéiert gëtt, wann d'Prouf ugeschalt gëtt.
Dofir ass et normalerweis méi einfach, den Niddregtemperaturtest ze bestoen, wann et ënner Spannung steet. Et muss als éischt "afgereest" ginn, an dann fir den Test ënner Spannung gesat ginn.
2. Schalt d'Maschinn un a maacht e Leeschtungstest op der Prouf fir ze vergläichen, ob d'Leeschtung am Verglach mat der normaler Temperatur normal ass.
3. Maacht en Alterungstest fir ze kucken, ob et Feeler beim Datevergläich gëtt.
Referenzstandard:
GB/T2423.1-2008 Test A: Testmethod fir niddreg Temperaturen
GB/T2423.2-2008 Test B: Héichtemperatur-Testmethod
GB/T2423.22-2002 Test N: Testmethod fir Temperaturännerungen, etc.
Nieft dem Zyklustest bei héijen an niddregen Temperaturen kann den Zouverlässegkeetstest vun elektronesche Produkter och den Temperatur- an Fiichtegkeetstest (Temperature And Humidity Test), den ofwiesselnde fiichten Hëtzttest (Damp Heat, Cyclic Test) sinn.
(Test fir d'Lagerung bei niddreger Temperatur), Test fir d'Lagerung bei héijer Temperatur, Thermeschocktest, Salzspraytest
Zoufälleg/Sinus (Vibratiounstest), boxfrei Falltest (Drop Test), Dampalterungstest (Steam Aging Test), IP-Schutzniveau Test (IP Test), LED-Luuchtverfallsliewensdauertest a Zertifizéierung
Miessung vun der Lumenerhaltung vun LED-Liichtquellen) etc., geméiss den Produkttesterufuerderunge vum Hiersteller.
D'Temperaturzyklus-Testkëscht, d'Testkëscht fir konstant Temperatur a Fiichtegkeet, d'Testkëscht fir Thermoschock, déi dräifach Testkëscht, d'Salzsprühtestkëscht usw., déi vu Ruikai Instruments entwéckelt a produzéiert goufen, bidden Léisunge fir d'Zouverlässegkeetstester vun elektronesche Produkter.
D'Temperatur, d'Fiichtegkeet, d'Mierwaasser, de Salzspray, den Impakt, d'Vibratiounen, d'kosmesch Partikelen, verschidde Stralungen, etc. an der Ëmwelt kënne benotzt ginn, fir déi uwendbar Zouverlässegkeet, d'Ausfallquote an d'duerchschnëttlech Zäit tëscht de Feeler vum Produkt am Viraus ze bestëmmen.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 28. August 2023