Cù u sviluppu vigurosu di l'elettronica di cunsumu è di l'elettronica automobilistica, u 5G hà ancu purtatu à un boom cummerciale. Cù l'aghjurnamentu di a tecnulugia elettronica è a crescente cumplessità di i prudutti elettronichi, accumpagnati da l'ambiente d'usu sempre più severu di i prudutti elettronichi, hè difficiule per u sistema di assicurà un certu periodu di tempu. A capacità o a pussibilità di eseguisce funzioni specifiche senza fallimentu in certe cundizioni. Dunque, per cunfirmà chì i prudutti elettronichi ponu funziunà nurmalmente in questi ambienti, i standard naziunali è i standard industriali richiedenu a simulazione di alcuni elementi di prova.
Cum'è a prova di ciclu di alta è bassa temperatura
A prova di ciclu di alta è bassa temperatura significa chì dopu chì a temperatura impostata hè stata mantenuta da -50 ° C per 4 ore, a temperatura hè aumentata à +90 ° C, è dopu a temperatura hè mantenuta à +90 ° C per 4 ore, è a temperatura hè abbassata à -50 ° C, seguita da N cicli.
A norma di temperatura industriale hè -40 ℃ ~ +85 ℃, perchè a camera di prova di u ciclu di temperatura hà di solitu una differenza di temperatura. Per assicurà chì u cliente ùn pruvucarà micca risultati di prova inconsistenti per via di a deviazione di temperatura, hè cunsigliatu di utilizà a norma per e prove interne.
Male à pruvà.
Prucessu di prova:
1. Quandu u campione hè spento, prima calate a temperatura à -50 °C è mantenetela per 4 ore; ùn eseguite micca testi à bassa temperatura mentre u campione hè acceso, hè assai impurtante, perchè u chip stessu serà pruduttu quandu u campione hè acceso.
Dunque, hè di solitu più faciule di passà a prova di bassa temperatura quandu hè energizatu. Deve esse "congelatu" prima, è dopu energizatu per a prova.
2. Accendete a macchina è eseguite una prova di prestazione nantu à u campione per paragunà se a prestazione hè nurmale paragunata à a temperatura nurmale.
3. Eseguite una prova di invecchiamento per osservà s'ellu ci sò errori di paragone di dati.
Norma di riferimentu:
GB/T2423.1-2008 Test A: Metudu di prova à bassa temperatura
GB/T2423.2-2008 Test B: Metudu di prova à alta temperatura
GB/T2423.22-2002 Test N: Metudu di prova di cambiamentu di temperatura, ecc.
In più di a prova di ciclu di alta è bassa temperatura, a prova di affidabilità di i prudutti elettronichi pò ancu esse a prova di temperatura è umidità (prova di temperatura è umidità), a prova di calore umitu alternatu (calore umitu, prova ciclica)
(Test di conservazione à bassa temperatura), Test di conservazione à alta temperatura, Test di shock termicu, Test di spruzzatura salina
Aleatoriu/sinusoidale (Test di vibrazione), test di caduta senza scatula (Test di caduta), test di invecchiamento à vapore (Test di invecchiamento à vapore), test di prutezzione di u livellu IP (Test IP), test di decadimento di a luce LED è certificazione
Misurazione di u Mantenimentu di u Lumen di e Fonti Luminose LED), ecc., secondu i requisiti di prova di u produttu di u fabricatore.
A scatula di prova di u ciclu di temperatura, a scatula di prova di temperatura è umidità custanti, a scatula di prova di shock termicu, trè scatule di prova cumplete, a scatula di prova di spruzzatura salina, ecc. sviluppate è prudutte da Ruikai Instruments furniscenu suluzioni per a prova di affidabilità di i prudutti elettronichi.
A temperatura, l'umidità, l'acqua di mare, a nebbia salina, l'impattu, a vibrazione, e particelle cosmiche, e diverse radiazioni, ecc. in l'ambiente ponu esse aduprate per determinà in anticipu l'affidabilità applicabile, u tassu di fallimentu è u tempu mediu trà i fallimenti di u pruduttu.
Data di publicazione: 28 d'aostu 2023