Ang pagpili ay depende sa iyong mga layunin sa pagsubok at kategorya ng produkto:
Pagsusulit sa PCT
- ●Tiyakin ang intrinsic hydrolysis at corrosion resistance ng mga materyales sa packaging.
- ●Suriin ang pagiging maaasahan ng interface para sa mga wire bonds, encapsulation resin, mga plastic packaging compound at lead frame.
- ●Kinakailangan ng mga pamantayan ng industriya o mga detalye ng customer.
- ●Bentahe sa gastos: Ang kagamitang PCT sa pangkalahatan ay mas mura kaysa sa mga sistemang HAST.
Pagsusulit sa HAST
- ●Naghahatid ng matataas na acceleration factors upang mabilis na makabuo ng reliability data, mainam para sa mga yugto ng R&D.
- ●Dinisenyo para sa mga advanced na high-density IC (hal., mga nanometer-process CPU at GPU).
- ●Nakakakita ng mga pagkabigong dulot ng electric-field kabilang ang electrochemical corrosion, metal migration, at gate oxide breakdown.
- ●Sinusuportahan ang dynamic testing na may inilapat na bias voltage.
Ang HAST ay maaaring ituring bilang isang pinahusay at mas advanced na variant ng PCT.
Gumagana ang PCT tulad ngmabagal na pagkulo: tumatakbo ito sa ilalim ng mga nakapirming kondisyon (121 ℃ / 100% RH). Pinapabilis nito ang pagtanda sa pamamagitan ng condensation ng singaw, na nakatuon sa hermeticity ng pakete at tibay ng materyal.
Ang HAST ay parangpagprito sa mataas na init: gumagamit ito ng mas nababaluktot at mas malupit na mga kondisyon na may mataas na temperatura at unsaturated steam. Nag-aalok ito ng mas malakas na kakayahan sa acceleration. Bukod sa package-level na pagsusuri, ipinapakita nito ang mga banayad na mekanismo ng pagkabigo na nauugnay sa electric-field sa loob ng mga chip, karaniwang nasa ilalim ng bias voltage.
Para sa karamihan ng mga modernong elektroniko, unti-unting pinapalitan ng HAST ang PCT dahil sa mas mabilis nitong pagtuklas ng mga depekto. Gayunpaman, nananatiling maaasahan at matipid na opsyon ang PCT para sa ilang tradisyonal na aplikasyon at paglalarawan ng materyal.
Oras ng pag-post: Set-14-2026