D'Auswiel hänkt vun Ären Testziler an der Produktkategorie of:
PCT-Test
- ●Iwwerpréift d'intrinesch Hydrolyse- a Korrosiounsbeständegkeet vu Verpackungsmaterialien.
- ●Bewäert d'Zouverlässegkeet vun den Interfaces fir Drotverbindungen, Kapsulatiounsharz, Plastikverpackungsmëschungen a Leadframes.
- ●Erfuerderlech duerch Industriestandarden oder Clientspezifikatioune.
- ●Käschtevirdeel: PCT-Ausrüstung ass am Allgemengen manner deier wéi HAST-Systemer.
HAST-Test
- ●Liwwert héich Beschleunigungsfaktoren fir séier Zouverlässegkeetsdaten ze generéieren, ideal fir Fuerschungs- an Entwécklungsstadien.
- ●Entworf fir fortgeschratt héichdichteg ICs (z.B. Nanometer-Prozess CPUs a GPUs).
- ●Detektéiert duerch elektrescht Feld induzéiert Feeler, dorënner elektrochemesch Korrosioun, Metallmigratioun an Zerfall vu Gate-Oxid.
- ●Ënnerstëtzt dynamesch Tester mat ugewandter Biasspannung.
HAST kann als eng verbessert, fortgeschratt Variant vu PCT ugesi ginn.
PCT funktionéiert wéilues simmerenEt funktionéiert ënner fixe Konditiounen (121 ℃ / 100% RH). Et beschleunegt d'Alterung duerch Dampfkondensatioun, mat engem Fokus op d'Hëtztdichtheet vun der Verpackung an d'Haltbarkeet vum Material.
HAST ass wéiop héijer Hëtzt bratenEt adoptéiert méi flexibel a méi haart Konditioune mat erhéichter Temperatur an onsättigtem Damp. Et bitt eng vill méi staark Beschleunigungsfäegkeet. Nieft der Evaluatioun op Package-Niveau weist et och subtil elektresch-feldbezunnen Ausfallmechanismen an de Chips op, typescherweis ënner Virspannung.
Fir déi meescht modern Elektronik ersetzt HAST graduell PCT dank senger méi schneller Fehlerdetektioun. Trotzdem bleift PCT eng zouverlässeg a käschtegënschteg Optioun fir verschidden traditionell Uwendungen a Materialcharakteriséierung.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 14. September 2026