Pilihanana gumantung kana tujuan uji coba sareng kategori produk anjeun:
Tés PCT
- ●Pariksa hidrolisis intrinsik sareng résistansi korosi tina bahan kemasan.
- ●Nilai reliabilitas antarmuka pikeun beungkeut kawat, résin enkapsulasi, sanyawa kemasan plastik, sareng pigura timbal.
- ●Diwajibkeun ku standar industri atanapi spésifikasi palanggan.
- ●Kauntungan biaya: Peralatan PCT umumna langkung mirah tibatan sistem HAST.
Tés HAST
- ●Ngahasilkeun faktor akselerasi anu luhur pikeun ngahasilkeun data reliabilitas anu gancang, idéal pikeun tahapan R&D.
- ●Dirancang pikeun IC kapadetan luhur anu canggih (contona, CPU sareng GPU prosés nanometer).
- ●Ngadeteksi kagagalan anu disababkeun ku médan listrik kalebet korosi éléktrokimia, migrasi logam, sareng karusakan gerbang oksida.
- ●Ngarojong uji dinamis kalayan tegangan bias anu diterapkeun.
HAST tiasa dianggap salaku varian PCT anu ditingkatkeun sareng langkung maju.
PCT jalanna sapertosngagolak lalaunan: éta tiasa dianggo dina kaayaan anu tetep (121 ℃ / 100% RH). Éta ngagancangkeun sepuh ngalangkungan kondensasi uap, fokus kana kedap udara bungkus sareng daya tahan bahan.
HAST téh kawastumis panas tinggi: éta ngadopsi kaayaan anu langkung fleksibel sareng langkung kasar kalayan suhu anu luhur sareng uap anu teu jenuh. Éta nawiskeun kamampuan akselerasi anu langkung kuat. Salian ti évaluasi tingkat pakét, éta ngungkabkeun mékanisme kagagalan anu aya hubunganana sareng médan listrik anu halus di jero chip, biasana dina tegangan bias.
Pikeun kalolobaan éléktronik modéren, HAST laun-laun ngagantikeun PCT kusabab deteksi gangguan anu langkung gancang. Nanging, PCT tetep janten pilihan anu tiasa dipercaya sareng hemat biaya pikeun aplikasi tradisional sareng karakterisasi bahan anu tangtu.
Waktos posting: 14-Sep-2026