• pagina_banner01

Nieuws

De belangrijkste omgevingsfactoren die leiden tot het uitvallen van elektronische producten zijn snelle temperatuurschommelingen en een vochtige, hete testkamer.

De testkamer voor snelle temperatuurveranderingen en vochtige warmte is een methode om weersomstandigheden, thermische of mechanische spanningen te screenen die voortijdige uitval van een product kunnen veroorzaken. Zo kunnen bijvoorbeeld defecten in het ontwerp van een elektronische module, de materialen of de productie worden opgespoord. Stressscreening (ESS) kan vroege defecten in de ontwikkelings- en productiefase detecteren, het risico op uitval door ontwerpfouten of gebrekkige productieprocessen verminderen en de productbetrouwbaarheid aanzienlijk verbeteren. Door middel van stressscreening kunnen onbetrouwbare systemen die de productietestfase al hebben bereikt, worden opgespoord. Het wordt gebruikt als een standaardmethode voor kwaliteitsverbetering om de normale levensduur van een product effectief te verlengen. Het SES-systeem beschikt over automatische regelfuncties voor koeling, verwarming, ontvochtiging en bevochtiging (de bevochtigingsfunctie is alleen beschikbaar voor het SES-systeem). Het wordt voornamelijk gebruikt voor temperatuurstressscreening. Het kan ook worden gebruikt voor traditionele tests met hoge temperatuur, lage temperatuur, hoge en lage temperatuurcycli, constante luchtvochtigheid, warmte en vochtigheid. Ook omgevingstests zoals vochtige warmte, temperatuur- en vochtigheidscombinaties, enzovoort, zijn mogelijk.

Functies:

Temperatuurveranderingssnelheid 5℃/min. 10℃/min. 15℃/min. 20℃/min. iso-gemiddelde temperatuur

De vochtigheidsbox is zo ontworpen dat er geen condensatie optreedt, om verkeerde interpretatie van de testresultaten te voorkomen.

Programmeerbare belastingsvoeding met 4 aan/uit-uitgangen voor de veiligheid van de te testen apparatuur.

Uitbreidbaar app-platform voor mobiel beheer. Uitbreidbare functies voor service op afstand.

Milieuvriendelijke regeling van de koelmiddelstroom, energiebesparend en snel opwarmen en afkoelen.

De te testen product beschikt over een onafhankelijke anticondensatiefunctie, temperatuurregeling, wind- en rookbeschermingsfunctie.

dytr (2)

Unieke werkingsmodus: na de test keert de behuizing terug naar kamertemperatuur om het te testen product te beschermen.

Schaalbare netwerkvideobewaking, gesynchroniseerd met datatests

Automatische herinneringsfunctie voor onderhoud van het besturingssysteem en softwareontwerp voor het oplossen van storingen

Kleurenscherm, 32-bits besturingssysteem, E Ethernet, E-management, UCB-gegevenstoegangsfunctie

Speciaal ontworpen droge luchtspoeling om het te testen product te beschermen tegen snelle temperatuurschommelingen als gevolg van condensatie op het oppervlak.

Regelvermogen voor een lage luchtvochtigheid in de industrie, 20℃/10%

Uitgerust met een automatisch watertoevoersysteem, een zuiverwaterfiltersysteem en een watertekortwaarschuwingsfunctie.

Voldoet aan de stresstests voor elektronische apparatuur, loodvrije processen, MIL-STD-2164, MIL-344A-4-16, MIL-2164A-19, NABMAT-9492, GJB-1032-90, GJB/Z34-5.1.6, IPC-9701...en andere testvereisten. Opmerking: De testmethode voor de uniformiteit van de temperatuur- en vochtigheidsverdeling is gebaseerd op de meting van de effectieve ruimte tussen de binnenbehuizing en elke zijde op 1/10 (GB5170.18-87).

Tijdens het gebruik van elektronische producten is er, naast elektrische belasting zoals spanning en stroom, ook sprake van omgevingsinvloeden, zoals hoge temperaturen en temperatuurschommelingen, mechanische trillingen en schokken, vochtigheid en zoutnevel, elektromagnetische interferentie, enzovoort. Onder invloed van deze omgevingsinvloeden kan het product prestatievermindering, parameterafwijkingen, materiaalcorrosie, enzovoort ondervinden, of zelfs defect raken.

Na de productie van elektronische producten, van screening en inventarisatie tot transport, gebruik en onderhoud, worden ze allemaal blootgesteld aan omgevingsinvloeden. Dit zorgt ervoor dat de fysische, chemische, mechanische en elektrische eigenschappen van het product continu veranderen. Dit veranderingsproces kan langzaam of tijdelijk zijn, afhankelijk van het type en de intensiteit van de omgevingsinvloed.

De stationaire temperatuurbelasting verwijst naar de temperatuur die een elektronisch product ondervindt tijdens gebruik of opslag in een bepaalde temperatuuromgeving. Wanneer deze temperatuur de limiet overschrijdt die het product kan verdragen, kan het product niet meer binnen het gespecificeerde elektrische parameterbereik functioneren. Dit kan leiden tot het verzachten en vervormen van het productmateriaal, een verminderde isolatie of zelfs doorbranden als gevolg van oververhitting. Het product wordt op dat moment blootgesteld aan een hoge temperatuur. Deze hoge temperatuurbelasting kan op korte termijn leiden tot productfalen. Wanneer de temperatuur de gespecificeerde bedrijfstemperatuur van het product niet overschrijdt, manifesteert het effect van de stationaire temperatuurbelasting zich op de lange termijn. Na verloop van tijd veroudert het productmateriaal geleidelijk, waardoor de elektrische prestatieparameters afwijken of verslechteren, wat uiteindelijk leidt tot productfalen. De temperatuurbelasting op dit moment wordt dan ook wel langdurige temperatuurbelasting genoemd. De stationaire temperatuurbelasting die elektronische producten ondervinden, wordt veroorzaakt door de omgevingstemperatuur en de warmte die wordt gegenereerd door het eigen stroomverbruik. Als gevolg van bijvoorbeeld een defect aan het warmteafvoersysteem en warmteverlies door hoge temperaturen in de apparatuur, zal de temperatuur van het onderdeel de bovengrens van de toelaatbare temperatuur overschrijden. Het onderdeel wordt dan blootgesteld aan hoge temperaturen. Onder langdurige, stabiele bedrijfsomstandigheden bij een constante opslagtemperatuur wordt het product blootgesteld aan langdurige temperatuurbelasting. De maximale temperatuurbestendigheid van elektronische producten kan worden bepaald door middel van een stapsgewijze test met hoge temperaturen, en de levensduur van elektronische producten onder langdurige temperatuurbelasting kan worden geëvalueerd door middel van een levensduurtest met constante temperaturen (versnelde hoge temperaturen).

Temperatuurschommelingen betekenen dat wanneer elektronische producten zich in een temperatuurschommelingstoestand bevinden, de materiaalinterface door het verschil in thermische uitzettingscoëfficiënten van de functionele materialen van het product wordt blootgesteld aan thermische spanning. Bij een drastische temperatuurverandering kan het product direct barsten en falen op de materiaalinterface. In dat geval wordt het product blootgesteld aan overmatige temperatuurschommelingen of temperatuurschokken. Wanneer de temperatuurverandering relatief langzaam verloopt, manifesteert het effect van temperatuurschommelingen zich gedurende langere tijd. De materiaalinterface blijft de door de temperatuurverandering gegenereerde thermische spanning weerstaan, waardoor er microscheurtjes kunnen ontstaan ​​in sommige microgebieden. Deze schade accumuleert geleidelijk en leidt uiteindelijk tot scheuren of breuken in de materiaalinterface van het product. In dat geval wordt het product blootgesteld aan langdurige temperatuurvariabele spanning of temperatuurcyclische spanning. De temperatuurschommelingen waaraan elektronische producten worden blootgesteld, zijn het gevolg van de temperatuurverandering van de omgeving waarin het product zich bevindt en de schakeltoestand van het product zelf. Bijvoorbeeld bij de overgang van een warme binnenruimte naar een koude buitenruimte, bij sterke zonnestraling, plotselinge regen of onderdompeling in water, bij snelle temperatuurschommelingen van de grond naar grote hoogte in een vliegtuig, bij intermitterend werken in een koude omgeving, bij de opkomende en ondergaande zon in de ruimte, bij het solderen en herwerken van microcircuitmodules, wordt het product blootgesteld aan temperatuurschokken. Ook periodieke veranderingen in de natuurlijke klimaattemperatuur, intermitterende werkomstandigheden, veranderingen in de bedrijfstemperatuur van het apparatuursysteem zelf en schommelingen in het belvolume van communicatieapparatuur, evenals fluctuaties in het stroomverbruik, kunnen de apparatuur blootstellen aan temperatuurcycli. De thermische schoktest kan worden gebruikt om de weerstand van elektronische producten tegen drastische temperatuurschommelingen te evalueren, terwijl de temperatuurcyclustest kan worden gebruikt om het aanpassingsvermogen van elektronische producten te evalueren om gedurende lange tijd te functioneren onder afwisselend hoge en lage temperaturen.

2. Mechanische spanning

De mechanische belasting van elektronische producten omvat drie soorten belasting: mechanische trillingen, mechanische schokken en constante versnelling (centrifugale kracht).

Mechanische trillingsspanning verwijst naar een vorm van mechanische spanning die ontstaat wanneer elektronische producten heen en weer bewegen rond een bepaalde evenwichtspositie onder invloed van externe omgevingskrachten. Mechanische trillingen worden, afhankelijk van de oorzaak, onderverdeeld in vrije trillingen, gedwongen trillingen en zelfopgewekte trillingen. Volgens de bewegingswet van mechanische trillingen zijn er sinusvormige trillingen en willekeurige trillingen. Deze twee vormen van trillingen hebben verschillende destructieve krachten op het product, waarbij de laatste destructiever is. Daarom wordt bij de meeste trillingstesten gebruikgemaakt van willekeurige trillingstesten. De impact van mechanische trillingen op elektronische producten omvat productvervorming, buiging, scheuren, breuken, enz. die door de trillingen worden veroorzaakt. Elektronische producten die langdurig aan trillingsspanning worden blootgesteld, zullen scheuren in de verbindingsmaterialen van de structuur vertonen als gevolg van vermoeiing en mechanische vermoeiingsbreuk. Als er resonantie optreedt, kan dit leiden tot overbelastingsscheuren, waardoor de elektronische producten direct structureel beschadigd raken. De mechanische trillingsbelasting van elektronische producten is afkomstig van de mechanische belasting van de werkomgeving, zoals rotatie, pulsatie, oscillatie en andere omgevingsbelastingen van vliegtuigen, voertuigen, schepen, luchtvaartuigen en mechanische constructies op de grond. Dit geldt met name wanneer het product in niet-werkende toestand wordt vervoerd. Als onderdeel van een voertuig of vliegtuig dat onder bedrijfsomstandigheden functioneert, is het onvermijdelijk dat het product mechanische trillingsbelasting moet weerstaan. Mechanische trillingstesten (met name willekeurige trillingstesten) kunnen worden gebruikt om de weerstand van elektronische producten tegen herhaalde mechanische trillingen tijdens gebruik te evalueren.

Mechanische schokbelasting verwijst naar een vorm van mechanische spanning die wordt veroorzaakt door een enkele directe interactie tussen een elektronisch product en een ander object (of component) onder invloed van externe omgevingskrachten. Dit resulteert in een plotselinge verandering in kracht, verplaatsing, snelheid of versnelling van het product. Onder invloed van mechanische schokbelasting kan het product in zeer korte tijd aanzienlijke energie vrijgeven en overdragen, wat ernstige schade aan het product kan veroorzaken, zoals storingen in het elektronische product, een plotselinge onderbreking/kortsluiting en scheuren en breuken in de behuizing. Anders dan de cumulatieve schade die wordt veroorzaakt door langdurige trillingen, manifesteert de schade door mechanische schokken zich als een geconcentreerde energieafgifte. De amplitude van de mechanische schok is groter en de duur van de schokpuls is korter. De piekwaarde die productschade veroorzaakt, is de hoofdpuls. De duur van deze puls is slechts enkele milliseconden tot tientallen milliseconden en de trillingen na de hoofdpuls nemen snel af. De omvang van deze mechanische schokbelasting wordt bepaald door de piekversnelling en de duur van de schokpuls. De grootte van de piekversnelling weerspiegelt de grootte van de impactkracht die op het product wordt uitgeoefend, en de impact van de duur van de schokpuls op het product is gerelateerd aan de eigenfrequentie van het product. De mechanische schokbelasting waaraan elektronische producten worden blootgesteld, is het gevolg van drastische veranderingen in de mechanische toestand van elektronische apparatuur, zoals noodremmen en botsingen met voertuigen, luchtlandingen en -vallen, artillerievuur, chemische explosies, kernexplosies, enz. Mechanische impact, plotselinge kracht of plotselinge beweging veroorzaakt door laden en lossen, transport of werkzaamheden in het veld, zullen het product ook op de proef stellen. De mechanische schoktest kan worden gebruikt om de weerstand van elektronische producten (zoals circuitstructuren) tegen niet-repetitieve mechanische schokken tijdens gebruik en transport te evalueren.

De constante versnelling (centrifugale kracht) verwijst naar een soort centrifugale kracht die wordt gegenereerd door de continue verandering van de bewegingsrichting van de drager wanneer elektronische producten op een bewegende drager werken. Centrifugale kracht is een virtuele traagheidskracht die het roterende object van het rotatiecentrum afhoudt. De centrifugale kracht en de centripetale kracht zijn gelijk in grootte en tegengesteld in richting. Zodra de centripetale kracht, gevormd door de resulterende externe kracht en gericht naar het middelpunt van de cirkel, verdwijnt, zal het roterende object niet langer roteren. In plaats daarvan zal het op dat moment langs de tangentiële richting van het rotatiepad wegvliegen, waardoor het product beschadigd raakt. De grootte van de centrifugale kracht is gerelateerd aan de massa, de bewegingssnelheid en de versnelling (rotatiestraal) van het bewegende object. Bij elektronische componenten die niet stevig zijn gesoldeerd, zal het fenomeen van wegvliegen van componenten als gevolg van het loslaten van de soldeerverbindingen optreden onder invloed van de centrifugale kracht. Het product is dan defect. De centrifugale kracht waaraan elektronische producten worden blootgesteld, is het gevolg van de continu veranderende bedrijfsomstandigheden van elektronische apparatuur en de bewegingsrichting ervan, zoals bij rijdende voertuigen, vliegtuigen en raketten. Elektronische apparatuur en interne componenten moeten dus, naast de zwaartekracht, ook andere centrifugale krachten kunnen weerstaan. Deze krachten werken gedurende enkele seconden tot enkele minuten. Neem bijvoorbeeld een raket: zodra de richtingsverandering is voltooid, verdwijnt de centrifugale kracht, maar verandert deze weer en werkt opnieuw. Dit kan leiden tot een langdurige, continue centrifugale kracht. Een constante acceleratietest (centrifugale test) kan worden gebruikt om de robuustheid van de lasconstructie van elektronische producten te evalueren, met name van grote SMD-componenten.

3. Vochtstress

Vochtstress verwijst naar de vochtstress waaraan elektronische producten worden blootgesteld wanneer ze werken in een omgeving met een bepaalde luchtvochtigheid. Elektronische producten zijn zeer gevoelig voor vochtigheid. Zodra de relatieve luchtvochtigheid van de omgeving boven de 30% RH komt, kunnen de metalen onderdelen van het product corroderen en kunnen de elektrische prestatieparameters afwijken of verslechteren. Bijvoorbeeld: onder langdurige omstandigheden met een hoge luchtvochtigheid neemt de isolatieprestatie van isolatiematerialen af ​​door vochtabsorptie, wat kortsluiting of elektrische schokken door hoge spanning kan veroorzaken; contactcomponenten, zoals stekkers en stopcontacten, zijn gevoelig voor corrosie wanneer vocht zich aan het oppervlak hecht, wat resulteert in een oxidefilm. Deze film verhoogt de weerstand van het contactelement, wat in ernstige gevallen kan leiden tot een blokkering van het circuit; in een zeer vochtige omgeving kan mist of waterdamp vonken veroorzaken wanneer de relaiscontacten worden geactiveerd, waardoor ze niet meer kunnen functioneren. Halfgeleiderchips zijn gevoeliger voor waterdamp. Om te voorkomen dat elektronische componenten corroderen door waterdamp, wordt inkapseling of hermetische verpakking toegepast om de componenten te isoleren van de buitenlucht en vervuiling. De vochtbelasting waaraan elektronische producten worden blootgesteld, is afkomstig van het vocht op het oppervlak van de materialen waaraan de elektronische apparatuur is bevestigd, en van het vocht dat in de componenten doordringt. De mate van vochtbelasting hangt samen met de luchtvochtigheid. De zuidoostelijke kustgebieden van mijn land hebben een hoge luchtvochtigheid, vooral in de lente en zomer, wanneer de relatieve luchtvochtigheid boven de 90% komt. De invloed van vocht is dan een onvermijdelijk probleem. De geschiktheid van elektronische producten voor gebruik of opslag onder hoge luchtvochtigheid kan worden geëvalueerd door middel van een stationaire vocht-warmtetest en een vochtbestendigheidstest.

4. Zoutnevelstress

Zoutnevelstress verwijst naar de stress die ontstaat door zoutnevel op het oppervlak van materialen wanneer elektronische producten werken in een atmosferische omgeving met kleine zoutdruppeltjes. Zoutnevel is doorgaans afkomstig uit maritieme klimaatzones en zoutmeren in het binnenland. De belangrijkste componenten zijn NaCl en waterdamp. De aanwezigheid van Na+ en Cl- ionen is de belangrijkste oorzaak van corrosie van metalen materialen. Wanneer zoutnevel zich hecht aan het oppervlak van een isolator, vermindert dit de oppervlakte weerstand. Nadat de isolator de zoutoplossing heeft geabsorbeerd, neemt de volumeweerstand met een factor 4 af. Wanneer zoutnevel zich hecht aan het oppervlak van bewegende mechanische onderdelen, neemt de wrijving toe door de vorming van corrosieve stoffen. Door de toegenomen wrijvingscoëfficiënt kunnen de bewegende onderdelen zelfs vastlopen. Hoewel inkapseling en luchtdichte afdichtingstechnologie worden toegepast om corrosie van halfgeleiderchips te voorkomen, verliezen de externe pinnen van elektronische apparaten onvermijdelijk vaak hun functie door corrosie door zoutnevel. Corrosie op de printplaat kan kortsluiting veroorzaken in aangrenzende bedrading. De zoutnevelbelasting waaraan elektronische producten worden blootgesteld, is afkomstig van de zoutnevel in de atmosfeer. In kustgebieden, op schepen en aan boord van waterschepen bevat de atmosfeer veel zout, wat een ernstige impact heeft op de behuizing van elektronische componenten. De zoutneveltest kan worden gebruikt om de corrosie van de elektronische behuizing te versnellen en zo de zoutnevelbestendigheid te evalueren.

5. Elektromagnetische spanning

Elektromagnetische spanning verwijst naar de elektromagnetische spanning die een elektronisch product ondervindt in het elektromagnetische veld van wisselende elektrische en magnetische velden. Een elektromagnetisch veld bestaat uit twee aspecten: een elektrisch veld en een magnetisch veld. De kenmerken ervan worden respectievelijk weergegeven door de elektrische veldsterkte E (of elektrische verplaatsing D) en de magnetische fluxdichtheid B (of magnetische veldsterkte H). In een elektromagnetisch veld zijn het elektrische veld en het magnetische veld nauw met elkaar verbonden. Een in de tijd variërend elektrisch veld veroorzaakt een magnetisch veld, en een in de tijd variërend magnetisch veld veroorzaakt een elektrisch veld. De wederzijdse excitatie van het elektrische veld en het magnetische veld zorgt ervoor dat het elektromagnetische veld beweegt en een elektromagnetische golf vormt. Elektromagnetische golven kunnen zich zelfstandig voortplanten in vacuüm of materie. Elektrische en magnetische velden oscilleren in fase en staan ​​loodrecht op elkaar. Ze bewegen zich in de vorm van golven in de ruimte. Het bewegende elektrische veld, het magnetische veld en de voortplantingsrichting staan ​​loodrecht op elkaar. De voortplantingssnelheid van elektromagnetische golven in vacuüm is de lichtsnelheid (3 × 10⁸ m/s). Over het algemeen hebben elektromagnetische interferentie (EMI) betrekking op radiogolven en microgolven. Hoe hoger de frequentie van elektromagnetische golven, hoe groter het vermogen tot elektromagnetische straling. Voor elektronische componenten is elektromagnetische interferentie (EMI) de belangrijkste factor die de elektromagnetische compatibiliteit (EMC) van de component beïnvloedt. Deze elektromagnetische interferentie ontstaat door de onderlinge interferentie tussen de interne componenten van de elektronische component en de interferentie van externe elektronische apparatuur. Dit kan een ernstige impact hebben op de prestaties en functies van elektronische componenten. Als bijvoorbeeld de interne magnetische componenten van een DC/DC-voedingsmodule elektromagnetische interferentie veroorzaken met elektronische apparaten, heeft dit direct invloed op de rimpelspanning aan de uitgang. De impact van radiofrequente straling op elektronische producten kan direct via de behuizing in het interne circuit terechtkomen of worden omgezet in geleidende straling die het product binnendringt. Het vermogen van elektronische componenten om elektromagnetische interferentie tegen te gaan kan worden geëvalueerd door middel van een elektromagnetische compatibiliteitstest en een elektromagnetische veldmeting in de nabijheid van de component.


Geplaatst op: 11 september 2023