• page_banner01

သတင်း

အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ၏ ကျရှုံးမှုကို ဖြစ်စေသည့် အဓိက ပတ်ဝန်းကျင် ဖိစီးမှု၊ အပူချိန် လျင်မြန်စွာ ပြောင်းလဲမှု၊ စိုစွတ်သော အပူရှိန် စမ်းသပ်ခန်း

လျင်မြန်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲခြင်း စိုစွတ်သော အပူစမ်းသပ်ခန်းသည် နမူနာ၏ အချိန်မတန်မီ ချို့ယွင်းမှုကို ဖြစ်စေနိုင်သည့် ရာသီဥတု၊ အပူ သို့မဟုတ် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဖိစီးမှုကို စစ်ဆေးသည့် နည်းလမ်းကို ရည်ညွှန်းသည်။ဥပမာအားဖြင့်၊ ၎င်းသည် အီလက်ထရွန်းနစ် module ဒီဇိုင်း၊ ပစ္စည်းများ သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုတွင် ချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေနိုင်သည်။Stress screening (ESS) နည်းပညာသည် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့် ထုတ်လုပ်မှုအဆင့်များတွင် အစောပိုင်းကျရှုံးမှုများကို ရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်ပြီး ဒီဇိုင်းရွေးချယ်မှုအမှားအယွင်းများ သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်များ ညံ့ဖျင်းခြင်းကြောင့် ပျက်ကွက်မှုအန္တရာယ်ကို လျှော့ချနိုင်ပြီး ထုတ်ကုန်ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို အလွန်တိုးတက်စေပါသည်။သဘာဝပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်းမှတစ်ဆင့်၊ ထုတ်လုပ်မှုစမ်းသပ်မှုအဆင့်သို့ ဝင်ရောက်လာသည့် ယုံကြည်စိတ်ချရသောစနစ်များကို တွေ့ရှိနိုင်သည်။ထုတ်ကုန်၏ ပုံမှန်လုပ်ငန်းဆောင်တာသက်တမ်းကို ထိထိရောက်ရောက် သက်တမ်းတိုးရန် အရည်အသွေးမြှင့်တင်ရန်အတွက် စံနည်းလမ်းတစ်ခုအဖြစ် အသုံးပြုထားသည်။SES စနစ်တွင် ရေခဲသေတ္တာ၊ အပူပေးခြင်း၊ စိုစွတ်ခြင်း နှင့် စိုစွတ်ခြင်းအတွက် အလိုအလျောက် ချိန်ညှိခြင်း လုပ်ဆောင်ချက်များ ပါရှိသည် (စိုထိုင်းဆ လုပ်ဆောင်မှုသည် SES စနစ်အတွက်သာ)။အပူချိန်ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်းအတွက် အဓိကအားဖြင့် ၎င်းကိုအသုံးပြုသည်။၎င်းကို သမားရိုးကျ မြင့်မားသော အပူချိန်၊ နိမ့်သော အပူချိန်၊ မြင့်မားသော နှင့် နိမ့်သော အပူချိန် စက်ဝန်းများ၊ အဆက်မပြတ် စိုထိုင်းဆ၊ အပူနှင့် စိုထိုင်းဆများအတွက်လည်း အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။စိုစွတ်သောအပူ၊ အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆပေါင်းစပ်မှု စသည်တို့ကဲ့သို့သော ပတ်ဝန်းကျင်စစ်ဆေးမှုများ။

အင်္ဂါရပ်များ:

အပူချိန် ပြောင်းလဲမှုနှုန်း 5 ℃ / Min.10 ℃ / Min.15 ℃ / Min.20 ℃ / မိနစ် iso ပျမ်းမျှအပူချိန်

စမ်းသပ်မှုရလဒ်များကို လွဲမှားစွာဆုံးဖြတ်ခြင်းမှ ရှောင်ရှားနိုင်ရန် စိုထိုင်းဆပုံးကို ငွေ့ရည်ဖွဲ့ခြင်းမရှိစေရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။

ပရိုဂရမ်မာနိုင်သော ဝန်ပါဝါထောက်ပံ့မှု 4 အဖွင့်/အပိတ် အထွက်ထိန်းချုပ်မှု စမ်းသပ်မှုအောက်တွင် စက်ကိရိယာများ၏ ဘေးကင်းမှုကို ကာကွယ်ရန်

တိုးချဲ့နိုင်သော APP မိုဘိုင်းပလက်ဖောင်းစီမံခန့်ခွဲမှု။တိုးချဲ့နိုင်သော အဝေးထိန်းဝန်ဆောင်မှုလုပ်ဆောင်ချက်များ။

ပတ်ဝန်းကျင်နှင့် လိုက်လျောညီထွေရှိသော အအေးခန်း စီးဆင်းမှုကို ထိန်းချုပ်ခြင်း၊ စွမ်းအင်ချွေတာခြင်းနှင့် ပါဝါချွေတာခြင်း၊ အပူနှင့် အအေးနှုန်း မြန်ဆန်ခြင်း

စမ်းသပ်မှုအောက်တွင် ထုတ်ကုန်၏ လေနှင့် မီးခိုးငွေ့ကာကွယ်မှု လုပ်ဆောင်ချက်မရှိသော လွတ်လပ်သော ငွေ့ရည်ဖွဲ့မှု နှင့် အပူချိန်

dytr (2)

စမ်းသပ်မှုအပြီးတွင် ထူးခြားသောလုပ်ဆောင်ချက်မုဒ်သည် ထုတ်ကုန်အား ကာကွယ်ရန်အတွက် ကက်ဘိနက်သည် အခန်းအပူချိန်သို့ ပြန်သွားပါသည်။

အတိုင်းအတာဖြင့် ကွန်ရက်ဗီဒီယို စောင့်ကြည့်ခြင်း၊ ဒေတာစမ်းသပ်ခြင်းနှင့် ထပ်တူပြုခြင်း။

စနစ်ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းမှု အလိုအလျောက်သတိပေးချက်နှင့် အမှားအယွင်းကိစ္စရပ် ဆော့ဖ်ဝဲလ် ဒီဇိုင်းလုပ်ဆောင်ချက်ကို ထိန်းချုပ်ပါ။

ရောင်စုံစခရင် 32-bit ထိန်းချုပ်မှုစနစ် E Ethernet E စီမံခန့်ခွဲမှု၊ UCB ဒေတာဝင်ရောက်ခွင့် လုပ်ဆောင်ချက်

မျက်နှာပြင် ငွေ့ရည်ဖွဲ့မှုကြောင့် ထုတ်ကုန်ကို စမ်းသပ်မှုအောက်တွင် လျင်မြန်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲခြင်းမှ ကာကွယ်ရန် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော ခြောက်သွေ့သောလေသန့်စင်မှု

စက်မှုအနိမ့်စိုထိုင်းဆအကွာအဝေး 20 ℃ / 10% ထိန်းချုပ်နိုင်စွမ်း

အလိုအလျောက်ရေပေးဝေမှုစနစ်၊ သန့်စင်သောရေစစ်စနစ်နှင့် ရေပြတ်လပ်မှုသတိပေးချက် လုပ်ဆောင်ချက်တို့ပါရှိသည်။

အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းထုတ်ကုန်များ၏ စိတ်ဖိစီးမှုကို စစ်ဆေးခြင်း၊ ခဲ-မပါသည့် လုပ်ငန်းစဉ်၊ MIL-STD-2164၊ MIL-344A-4-16၊ MIL-2164A-19၊ NABMAT-9492၊ GJB-1032-90၊ GJB/Z34-5.1၊ 6၊ IPC -9701... နှင့် အခြားစမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်များ။မှတ်ချက်- အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆ ဖြန့်ဖြူးမှု တူညီမှု စမ်းသပ်နည်းသည် အတွင်းကွက်နှင့် ဘေးတစ်ဖက်စီကြား 1/10 (GB5170.18-87) ကြား အကွာအဝေး၏ ထိရောက်သော နေရာတိုင်းတာမှုအပေါ် အခြေခံထားသည်။

အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ၏ လုပ်ဆောင်မှု လုပ်ငန်းစဉ်တွင်၊ ဗို့အားနှင့် လျှပ်စစ်ဝန်၏ လျှပ်စီးကြောင်းကဲ့သို့သော လျှပ်စစ်ဖိအားအပြင်၊ ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ ဖိစီးမှုသည်လည်း မြင့်မားသော အပူချိန်နှင့် အပူချိန်စက်ဝန်း၊ စက်တုန်ခါမှုနှင့် တုန်ခါမှု၊ စိုထိုင်းဆနှင့် ဆားမှုန်ရေမွှားများ၊ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်း အနှောင့်အယှက်များ စသည်တို့ ပါဝင်ပါသည်။ အထက်ဖော်ပြပါ ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ ဖိစီးမှု၏ လုပ်ဆောင်ချက်၊ ထုတ်ကုန်သည် စွမ်းဆောင်ရည် ကျဆင်းခြင်း၊ ပါရာမီတာ ပျံ့လွင့်ခြင်း၊ ပစ္စည်းချေးချွတ်ခြင်း စသည်ဖြင့် သို့မဟုတ် ချို့ယွင်းမှုပင် ကြုံတွေ့ရနိုင်သည်။

အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ ထုတ်လုပ်ပြီးနောက်၊ စိစစ်ခြင်း၊ စာရင်းသွင်းခြင်း၊ သယ်ယူပို့ဆောင်ခြင်းနှင့် ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းခြင်းမှသည် ၎င်းတို့အားလုံးသည် ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ ဖိစီးမှုဒဏ်ကြောင့် ထုတ်ကုန်၏ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ၊ ဓာတုဗေဒ၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် လျှပ်စစ်ဂုဏ်သတ္တိများကို စဉ်ဆက်မပြတ်ပြောင်းလဲသွားစေပါသည်။ပြောင်းလဲမှုဖြစ်စဉ်သည် နှေးကွေးနိုင်သည် သို့မဟုတ် Transient ဖြစ်နိုင်သည်၊ ၎င်းသည် ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ ဖိစီးမှုအမျိုးအစားနှင့် ဖိစီးမှုပမာဏအပေါ်တွင် လုံးလုံးလျားလျားမူတည်သည်။

တည်ငြိမ်သော အပူချိန်ဖိစီးမှုသည် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်တစ်ခု အလုပ်လုပ်နေချိန် သို့မဟုတ် အချို့သောအပူချိန်ပတ်ဝန်းကျင်တွင် သိမ်းဆည်းထားသည့်အခါ တုံ့ပြန်မှုအပူချိန်ကို ရည်ညွှန်းသည်။ထုတ်ကုန်ခံနိုင်ရည်ရှိသော တုံ့ပြန်မှုအပူချိန်သည် ကန့်သတ်ချက်ထက်ကျော်လွန်သောအခါ၊ အစိတ်အပိုင်းထုတ်ကုန်သည် သတ်မှတ်ထားသောလျှပ်စစ်ဘောင်ဘောင်အတွင်းတွင် အလုပ်မလုပ်နိုင်ပါ၊ ၎င်းသည် ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းအား ပျော့ပြောင်းပြီး ပုံပျက်စေသည် သို့မဟုတ် လျှပ်ကာ၏စွမ်းဆောင်ရည်ကို လျော့ကျစေသည်၊ သို့မဟုတ် မီးလောင်မှုကြောင့်ပင် လောင်ကျွမ်းသွားနိုင်သည်။ အပူလွန်ကဲစေရန်။ထုတ်ကုန်အတွက်၊ ဤအချိန်တွင် ထုတ်ကုန်သည် မြင့်မားသောအပူချိန်နှင့် ထိတွေ့နေပါသည်။စိတ်ဖိစီးမှု၊ အပူချိန်လွန်ကဲစွာ ဖိစီးမှုက ထုတ်ကုန်ကို အချိန်တိုအတွင်း ပျက်ကွက်စေနိုင်သည်၊တုံ့ပြန်မှုအပူချိန်သည် ထုတ်ကုန်၏ သတ်မှတ်ထားသော လည်ပတ်အပူချိန်အကွာအဝေးထက် မကျော်လွန်သောအခါ၊ တည်ငြိမ်သောအပူချိန်ဖိစီးမှု၏အကျိုးသက်ရောက်မှုသည် ရေရှည်လုပ်ဆောင်မှု၏အကျိုးသက်ရောက်မှုကို ထင်ရှားစေသည်။အချိန်၏အကျိုးသက်ရောက်မှုသည် ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းများကို တဖြည်းဖြည်း သက်တမ်းတိုးစေကာ လျှပ်စစ်စွမ်းဆောင်မှုဘောင်များသည် လွင့်မျောခြင်း သို့မဟုတ် ညံ့ဖျင်းသွားကာ နောက်ဆုံးတွင် ထုတ်ကုန်ပျက်ကွက်ခြင်းသို့ ဦးတည်စေသည်။ထုတ်ကုန်အတွက်၊ ဤအချိန်တွင် အပူချိန်ဖိစီးမှုသည် ရေရှည်အပူချိန်ဖိအားဖြစ်သည်။အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များမှ ခံစားရသော တည်ငြိမ်သော အပူချိန် ဖိအားသည် ထုတ်ကုန်ရှိ ပတ်ဝန်းကျင် အပူချိန်နှင့် ၎င်း၏ ပါဝါသုံးစွဲမှုမှ ထုတ်ပေးသော အပူတို့မှ ဆင်းသက်လာပါသည်။ဥပမာအားဖြင့်၊ heat dissipation system ၏ ချို့ယွင်းချက်နှင့် စက်ပစ္စည်းများ၏ အပူချိန်မြင့်မားသော အပူစီးဆင်းမှု ယိုစိမ့်မှုကြောင့်၊ အစိတ်အပိုင်း၏ အပူချိန်သည် ခွင့်ပြုနိုင်သော အပူချိန်၏ အထက်ကန့်သတ်ချက်ကို ကျော်လွန်သွားမည်ဖြစ်သည်။အစိတ်အပိုင်းသည် မြင့်မားသော အပူချိန်နှင့် ထိတွေ့သည်။ဖိစီးမှု- သိုလှောင်မှုပတ်ဝန်းကျင် အပူချိန်၏ ရေရှည်တည်ငြိမ်သော အလုပ်အခြေအနေအောက်တွင်၊ ထုတ်ကုန်သည် ရေရှည်အပူချိန်ဖိစီးမှုကို ခံပါသည်။အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ မြင့်မားသောအပူချိန်ခံနိုင်ရည်ကန့်သတ်ချက်အား မြင့်မားသောအပူချိန်ဖြင့် ဖုတ်သွင်းစမ်းသပ်ခြင်းဖြင့် ဆုံးဖြတ်နိုင်ပြီး၊ ရေရှည်အပူချိန်အောက်တွင် အီလက်ထရွန်နစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ဝန်ဆောင်မှုသက်တမ်းကို တည်ငြိမ်သောအသက်တာစမ်းသပ်မှု (အပူချိန်မြင့်မားသောအရှိန်မြှင့်ခြင်း) ဖြင့် အကဲဖြတ်နိုင်ပါသည်။

အပူချိန်ပြောင်းလဲခြင်း ဆိုသည်မှာ အီလက်ထရွန်းနစ် ထုတ်ကုန်များသည် ပြောင်းလဲနေသော အပူချိန်အခြေအနေတွင် ရှိနေသောအခါ၊ ထုတ်ကုန်၏ လုပ်ငန်းလုပ်ဆောင်နိုင်သော ပစ္စည်းများ၏ အပူချဲ့ကိန်းများ ကွာခြားမှုကြောင့်၊ ပစ္စည်းကြားခံသည် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော အပူဖိအားကို သက်ရောက်စေသည်။အပူချိန် ပြင်းထန်စွာ ပြောင်းလဲသောအခါ၊ ထုတ်ကုန်သည် ချက်ချင်းဆိုသလို ပေါက်ကွဲပြီး ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်တွင် ပျက်သွားနိုင်သည်။ဤအချိန်တွင်၊ ထုတ်ကုန်သည် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုလွန်ကဲမှု သို့မဟုတ် အပူချိန် တုန်လှုပ်မှုစိတ်ဖိစီးမှုကို ခံနေရသည်။အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုအတော်လေးနှေးသွားသောအခါ၊ ပြောင်းလဲနေသောအပူချိန်ဖိစီးမှု၏အကျိုးသက်ရောက်မှုသည်အချိန်ကြာမြင့်စွာပေါ်လွင်နေပါသည်။ ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်သည် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုမှထုတ်ပေးသောအပူဖိအားကိုဆက်လက်ခံနိုင်ရည်ရှိပြီး၊ အချို့သော micro ဧရိယာများတွင် micro-cracking ပျက်စီးမှုများဖြစ်ပေါ်နိုင်သည်။ဤပျက်စီးမှုသည် တဖြည်းဖြည်းစုပုံလာကာ နောက်ဆုံးတွင် ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းမျက်နှာပြင် ကွဲအက်ခြင်း သို့မဟုတ် ကျိုးပဲ့ပျက်စီးခြင်းသို့ ဦးတည်စေသည်။ဤအချိန်တွင်၊ ထုတ်ကုန်သည်ရေရှည်အပူချိန်နှင့်ထိတွေ့သည်။ပြောင်းလဲနိုင်သော စိတ်ဖိစီးမှု သို့မဟုတ် အပူချိန် စက်ဘီးစီးခြင်း စိတ်ဖိစီးမှု။အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ ခံနိုင်ရည်ရှိသော ပြောင်းလဲနေသော အပူချိန်ဖိစီးမှုသည် ထုတ်ကုန်တည်ရှိရာ ပတ်ဝန်းကျင်၏ အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှင့် ၎င်း၏ကိုယ်ပိုင် အသွင်ကူးပြောင်းမှု အခြေအနေတို့မှ ဆင်းသက်လာသည်။ဥပမာအားဖြင့်၊ ပူနွေးသောအိမ်တွင်းမှအေးသောအပြင်ဘက်သို့ပြောင်းသောအခါ၊ ပြင်းထန်သောနေရောင်ခြည်ဖြာထွက်မှုအောက်တွင်၊ ရုတ်တရက်မိုးရွာခြင်း သို့မဟုတ် ရေထဲတွင်နှစ်မြှုပ်လိုက်သောအခါ၊ မြေပြင်မှ မြင့်မားသောအပူချိန်သို့ လေယာဉ်၏အမြင့်သို့ လျင်မြန်စွာပြောင်းလဲသွားခြင်း၊ အေးသောပတ်ဝန်းကျင်တွင် အုံ့ဆိုင်းနေသောအလုပ်၊ နေထွက်ခြင်းနှင့် အာကာသအတွင်း နေရောင်နောက်ပြန်လှည့်ခြင်း၊ ဂဟေဆော်ခြင်း နှင့် microcircuit modules များ ပြန်လည်လုပ်ဆောင်ခြင်းကိစ္စတွင်၊ ထုတ်ကုန်သည် အပူချိန် ရှော့ခ်ဖိစီးမှုဒဏ်ကို ခံရပါသည်။စက်ကိရိယာများသည် သဘာဝရာသီဥတုအပူချိန်တွင် အချိန်အခါအလိုက် ပြောင်းလဲမှုများ၊ ပြတ်တောက်နေသော လုပ်ငန်းခွင်အခြေအနေများ၊ စက်ပစ္စည်းစနစ်ကိုယ်တိုင်၏ လည်ပတ်မှုအပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှင့် ဆက်သွယ်ရေးကိရိယာများ၏ ခေါ်ဆိုမှုပမာဏပြောင်းလဲမှုများကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာခြင်းဖြစ်သည်။ပါဝါသုံးစွဲမှုအတက်အကျရှိသောအခါတွင်၊ ထုတ်ကုန်သည် အပူချိန်စက်ဘီးစီးသည့်ဖိစီးမှုကို ခံရသည်။အပူချိန် ပြင်းထန်စွာ ပြောင်းလဲမှုများ ကြုံလာသောအခါ အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ၏ ခံနိုင်ရည်အား အကဲဖြတ်ရန် thermal shock test ကို အသုံးပြုနိုင်ပြီး အပူချိန် မြင့်မားသော နှင့် အနိမ့်ပိုင်း အခြေအနေများအောက်တွင် အီလက်ထရွန်းနစ် ထုတ်ကုန်များ၏ အချိန်ကြာမြင့်စွာ အလုပ်လုပ်ရန် လိုက်လျောညီထွေရှိမှု အကဲဖြတ်ရန် အပူချိန် စက်ဝန်းစမ်းသပ်မှုကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ .

2. စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိအား

အီလက်ထရွန်နစ်ထုတ်ကုန်များ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိအားတွင် ဖိစီးမှုသုံးမျိုးပါဝင်သည်- စက်တုန်ခါမှု၊ စက်ရှော့ခ်နှင့် အဆက်မပြတ်အရှိန်မြှင့်ခြင်း (ဗဟိုထရီဖူဂယ်တွန်းအား) တို့ပါဝင်သည်။

စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုဖိစီးမှုဆိုသည်မှာ ပတ်ဝန်းကျင်ပြင်ပအင်အားစုများ၏ လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် အချို့သော မျှခြေအနေအထားတစ်ဝိုက်တွင် အပြန်အလှန်သက်ရောက်နေသော အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများမှ ထုတ်ပေးသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိအားတစ်မျိုးကို ရည်ညွှန်းသည်။စက်တုန်ခါမှုအား ၎င်း၏ အကြောင်းရင်းများအလိုက် အခမဲ့တုန်ခါမှု၊ အတင်းအကျပ် တုန်ခါမှု၊ နှင့် ၎င်း၏ အကြောင်းရင်းများအလိုက် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ တုန်ခါမှု၊စက်တုန်ခါမှု၏ရွေ့လျားမှုဥပဒေအရ sinusoidal vibration နှင့် random vibration များရှိသည်။ဤတုန်ခါမှုပုံစံနှစ်မျိုးသည် ထုတ်ကုန်အပေါ်တွင် ကွဲပြားသော အဖျက်စွမ်းအားများ ရှိပြီး နောက်တစ်မျိုးမှာ အဖျက်စွမ်းအားရှိသည်။ပိုကြီးသောကြောင့်တုန်ခါမှုစမ်းသပ်အကဲဖြတ်မှုအများစုသည်ကျပန်းတုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှုကိုလက်ခံသည်။အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များပေါ်တွင် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ တုန်ခါမှု၏ သက်ရောက်မှုသည် တုန်ခါမှုကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော ထုတ်ကုန်ပုံပျက်ခြင်း၊ ကွေးညွှတ်ခြင်း၊ အက်ကွဲခြင်း၊ ကျိုးသွားခြင်း စသည်တို့ ပါဝင်ပါသည်။ရေရှည်တုန်ခါမှုဖိစီးမှုအောက်တွင် အီလက်ထရွန်နစ်ထုတ်ကုန်များသည် ပင်ပန်းနွမ်းနယ်ခြင်းနှင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ပင်ပန်းနွမ်းနယ်ခြင်းတို့ကြောင့် ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံဆိုင်ရာ ကြားခံပစ္စည်းများကို အက်ကွဲစေမည်ဖြစ်သည်။Resonance ဖြစ်ပေါ်လာပါက over-stress cracking failure ကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ ၏ ချက်ခြင်း တည်ဆောက်ပုံ ပျက်စီးမှုကို ဖြစ်စေသည်။အီလက်ထရွန်နစ်ထုတ်ကုန်များ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုဖိအားသည် လည်ပတ်မှု၊ ခုန်နှုန်း၊ တုန်ခါမှုနှင့် လေယာဉ်၊ မော်တော်ယာဉ်များ၊ သင်္ဘောများ၊ ဝေဟင်ယာဉ်များနှင့် မြေပြင်စက်မှုတည်ဆောက်ပုံများကဲ့သို့သော လည်ပတ်မှု၊ တုန်ခါမှု၊ တုန်ခါမှုနှင့် အခြားပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဝန်များမှ လာပါသည်။ အလုပ်မလုပ်သောအခြေအနေတွင်နှင့် လုပ်ငန်းခွင်အခြေအနေများအောက်တွင် လည်ပတ်နေသော ယာဉ်တွင်တပ်ဆင်ထားသော သို့မဟုတ် ဝေဟင်မှအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုအနေဖြင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုဖိအားကို ရှောင်လွှဲ၍မရပါ။စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှု (အထူးသဖြင့် ကျပန်းတုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှု) ကို လည်ပတ်နေစဉ်အတွင်း ထပ်တလဲလဲစက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုဆီသို့ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။

Mechanical shock stress ဆိုသည်မှာ ပြင်ပပတ်ဝန်းကျင် အင်အားစုများ၏ လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် အီလက်ထရွန်းနစ် ထုတ်ကုန်တစ်ခုနှင့် အခြားအရာဝတ္ထု (သို့မဟုတ် အစိတ်အပိုင်း) တို့ကြား တိုက်ရိုက် အပြန်အလှန် ဆက်သွယ်မှုကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော တွန်းအား၊ ရွေ့ပြောင်းမှု၊ အရှိန် သို့မဟုတ် အရှိန်ရုတ်တရက် ဖြစ်ပေါ်လာခြင်း စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ သက်ရောက်မှုဖိစီးမှုအောက်တွင် ထုတ်ကုန်သည် အချိန်တိုအတွင်း များစွာသော စွမ်းအင်ကို ထုတ်လွှတ်နိုင်ပြီး ထုတ်ကုန်အား ဆိုးရွားစွာ ပျက်စီးစေကာ အီလက်ထရွန်းနစ် ထုတ်ကုန်ချွတ်ယွင်းမှု၊ ချက်ခြင်း အဖွင့်/အတိုချုံးပတ်လမ်းနှင့် ကွဲအက်ခြင်းနှင့် ကျိုးခြင်းစသည့် ထုတ်ကုန်အား ချက်ခြင်းတွင် ထုတ်ကုန်အား ချက်ချင်းထုတ်ပေးနိုင်သည်။ စုစည်းထားသော အထုပ်ဖွဲ့စည်းပုံ စသည်တို့ဖြစ်သည်။တုန်ခါမှု၏ ရေရှည်လုပ်ဆောင်ချက်ကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော စုစည်းပျက်စီးမှုနှင့် မတူဘဲ၊ ထုတ်ကုန်အပေါ် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ တုန်ခါမှုပျက်စီးမှုသည် စုစည်းစွမ်းအင်ထုတ်လွှတ်မှုအဖြစ် ထင်ရှားသည်။Mechanical shock test ၏ပြင်းအားသည် ပိုကြီးပြီး shock pulse ကြာချိန် ပိုတိုပါသည်။ထုတ်ကုန်ပျက်စီးမှုကို ဖြစ်စေသည့် အထွတ်အထိပ်တန်ဖိုးမှာ အဓိက သွေးခုန်နှုန်းဖြစ်သည်။ကြာချိန်သည် မီလီစက္ကန့်အနည်းငယ်မှ ဆယ်လီစက္ကန့်အထိသာရှိပြီး ပင်မသွေးခုန်နှုန်းသည် လျင်မြန်စွာ ပျက်စီးပြီးနောက် တုန်ခါမှုဖြစ်သည်။ဤစက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ရှော့ခ်ဖိစီးမှု၏ ပြင်းအားကို အထွတ်အထိပ်အရှိန်နှင့် shock pulse ၏ကြာချိန်ဖြင့် ဆုံးဖြတ်သည်။အထွတ်အထိပ်အရှိန်နှုန်း၏ ပြင်းအားသည် ထုတ်ကုန်အပေါ် သက်ရောက်သည့် သက်ရောက်မှုအား ပြင်းအားကို ရောင်ပြန်ဟပ်ပြီး ထုတ်ကုန်ပေါ်ရှိ shock pulse ၏ကြာချိန်၏ သက်ရောက်မှုသည် ထုတ်ကုန်၏ သဘာဝကြိမ်နှုန်းနှင့် ဆက်စပ်နေသည်။ဆက်စပ်။အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ ခံစားရသည့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ တုန်လှုပ်မှု ဖိအားသည် အီလက်ထရွန်နစ် ကိရိယာနှင့် စက်ပစ္စည်းများ၏ ပြင်းထန်သော အပြောင်းအလဲများဖြစ်သည့် အရေးပေါ် ဘရိတ်အုပ်ခြင်းနှင့် ယာဉ်များ၊ လေစက်များနှင့် လေယာဉ်စက်များ၊ အမြောက်ပစ်ခတ်မှု၊ ဓာတုစွမ်းအင် ပေါက်ကွဲမှုများ၊ နျူကလီးယား ပေါက်ကွဲမှုများ၊ ပေါက်ကွဲမှုများ၊ စသည်တို့ကို သယ်ဆောင်ခြင်း သို့မဟုတ် ကွင်းဆင်းလုပ်ဆောင်ခြင်းများကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ထိခိုက်မှု၊ ရုတ်တရက် အင်အား သို့မဟုတ် ရုတ်တရက် ရွေ့လျားမှု၊ သယ်ယူပို့ဆောင်ရေး သို့မဟုတ် လယ်ကွင်းလုပ်ငန်းသည် ထုတ်ကုန်၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ထိခိုက်မှုကို ခံနိုင်ရည်ရှိစေမည်ဖြစ်သည်။အသုံးပြုမှုနှင့် သယ်ယူပို့ဆောင်ရေးအတွင်း ထပ်တလဲလဲမဟုတ်သော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ တုန်လှုပ်မှုများအတွက် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ (ပတ်လမ်းတည်ဆောက်ပုံများကဲ့သို့) ၏ လိုက်လျောညီထွေရှိမှုကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် စက်ရှော့ခ်စစ်ဆေးမှုကို အသုံးပြုနိုင်သည်။

အဆက်မပြတ် အရှိန်မြှင့်ခြင်း (centrifugal force) ဖိစီးမှု ဆိုသည်မှာ အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ ရွေ့လျားနေသော ကယ်ရီယာပေါ်တွင် အလုပ်လုပ်နေချိန်တွင် သယ်ဆောင်သူ၏ ရွေ့လျားမှု လမ်းကြောင်းကို စဉ်ဆက်မပြတ် ပြောင်းလဲခြင်းဖြင့် ထုတ်ပေးသော အာရုံခံစွမ်းအားတစ်မျိုးကို ရည်ညွှန်းသည်။Centrifugal force သည် လည်ပတ်နေသော အရာဝတ္တုအား လည်ပတ်မှုဗဟိုမှ ဝေးဝေးတွင် ထားပေးသော virtual inertial force ဖြစ်သည်။Centrifugal force နှင့် centripetal force သည် ပြင်းအားနှင့် တူညီပြီး ဦးတည်ရာ ဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်သည်။ထွက်ပေါ်လာသော ပြင်ပတွန်းအားဖြင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော အလယ်ဗဟိုသည် စက်ဝိုင်း၏ဗဟိုသို့ ဦးတည်သွားသည်နှင့် တပြိုင်နက် လှည့်နေသော အရာဝတ္ထုသည် လှည့်ခြင်းမဟုတ်တော့ဘဲ၊ ယင်းအစား ဤအချိန်တွင် လည်ပတ်လမ်းကြောင်း၏ tangential direction အတိုင်း ပျံထွက်သွားပြီး ထုတ်ကုန်သည် ပျက်စီးသွားပါသည်။ ဤအခိုက်centrifugal force ၏ အရွယ်အစားသည် ရွေ့လျားနေသော အရာဝတ္ထု၏ ဒြပ်ထု၊ ရွေ့လျားမှု အမြန်နှုန်းနှင့် အရှိန်အဟုန် (လည်ပတ်မှု အချင်းဝက်) တို့နှင့် ဆက်စပ်နေသည်။ခိုင်မြဲစွာ ဂဟေဆက်ခြင်းမပြုသော အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက်၊ ဂဟေအဆစ်များ ကွဲကွာခြင်းကြောင့် အစိတ်အပိုင်းများ၏ ဖြစ်စဉ်သည် centrifugal force ၏ လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် ဖြစ်ပေါ်လိမ့်မည်။ထုတ်ကုန်သည် မအောင်မြင်ပါ။အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းများ သယ်ဆောင်သည့် တွန်းအားသည် ရွေ့လျားနေသည့် ယာဉ်များ၊ လေယာဉ်ပျံများ၊ ဒုံးပျံများနှင့် လမ်းကြောင်းများ ပြောင်းလဲခြင်းကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းများနှင့် စက်ပစ္စည်းများ၏ လည်ပတ်မှုအခြေအနေများ စဉ်ဆက်မပြတ်ပြောင်းလဲနေသည့် အခြေအနေမှ ဆင်းသက်လာသောကြောင့် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများနှင့် အတွင်းပိုင်းအစိတ်အပိုင်းများသည် centrifugal force ကို ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ ဆွဲငင်အားထက်အခြား။သရုပ်ဆောင်ချိန်သည် စက္ကန့်အနည်းငယ်မှ မိနစ်အနည်းငယ်အထိဖြစ်သည်။ဒုံးပျံတစ်ခုအား ဥပမာတစ်ခုအနေဖြင့်ယူ၍ ဦးတည်ချက်ပြောင်းလဲခြင်းပြီးဆုံးသည်နှင့်တစ်ပြိုင်နက် centrifugal force ပျောက်သွားပြီး centrifugal force သည် တစ်ဖန်ပြောင်းလဲကာ တစ်ဖန်ပြန်လည်လုပ်ဆောင်သည်၊ ၎င်းသည် ရေရှည်စဉ်ဆက်မပြတ် centrifugal force ကိုဖြစ်ပေါ်စေသည်။အထူးသဖြင့် ထုထည်ကြီးမားသောမျက်နှာပြင် mount အစိတ်အပိုင်းများ အထူးသဖြင့် အီလက်ထရွန်နစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ဂဟေဖွဲ့စည်းပုံ၏ ကြံ့ခိုင်မှုကို အကဲဖြတ်ရန် အဆက်မပြတ်အရှိန်စမ်းသပ်ခြင်း (centrifugal test) ကို အသုံးပြုနိုင်သည်။

3. အစိုဓာတ်ကိုဖိစီးခြင်း။

Moisture stress သည် အချို့သော စိုထိုင်းဆရှိသော လေထုပတ်ဝန်းကျင်တွင် အလုပ်လုပ်သောအခါ အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ ခံနိုင်ရည်ရှိသော အစိုဓာတ်ကို ရည်ညွှန်းသည်။အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များသည် စိုထိုင်းဆကို အလွန်ထိခိုက်လွယ်သည်။ပတ်ဝန်းကျင်၏ နှိုင်းရစိုထိုင်းဆ 30% RH ကျော်လွန်သည်နှင့်၊ ထုတ်ကုန်၏ သတ္တုပစ္စည်းများသည် ယိုယွင်းလာကာ လျှပ်စစ်စွမ်းဆောင်မှု ကန့်သတ်ချက်များသည် လွင့်မျောခြင်း သို့မဟုတ် ညံ့ဖျင်းသွားနိုင်သည်။ဥပမာအားဖြင့်၊ ရေရှည်စိုထိုင်းဆမြင့်မားသောအခြေအနေအောက်တွင်၊ insulating ပစ္စည်းများ၏ insulation စွမ်းဆောင်ရည်သည် အစိုဓာတ်ကိုစုပ်ယူပြီးနောက် လျော့နည်းသွားကာ ဆားကစ်တိုများ သို့မဟုတ် ဗို့အားမြင့်လျှပ်စစ်ရှော့တိုက်မှုများဖြစ်စေသည်။ပလပ်များ၊ ပလပ်ပေါက်များ စသည်တို့ကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် ထိတွေ့ပါက မျက်နှာပြင်တွင် အစိုဓာတ်ကို ကပ်ထားသောအခါ ချေးတက်နိုင်ကာ အောက်ဆိုဒ်ဖလင်ကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်၊ ပြင်းထန်သော အခြေအနေများတွင် ဆားကစ်ကို ပိတ်ဆို့စေမည့် အဆက်အသွယ်ကိရိယာ၏ ခံနိုင်ရည်ကို တိုးမြင့်စေသည်၊ ;ပြင်းထန်စွာစိုစွတ်သောပတ်ဝန်းကျင်တွင်၊ မြူ သို့မဟုတ် ရေခိုးရေငွေ့များသည် relay အဆက်အသွယ်များကို အသက်သွင်းပြီး မလည်ပတ်နိုင်တော့သောအခါတွင် မီးပွားများဖြစ်ပေါ်စေလိမ့်မည်။တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ချစ်ပ်ပြားများသည် ရေခိုးရေငွေ့အတွက် ပိုမိုအကဲဆတ်သည်၊ တစ်ချိန်က ချစ်ပ်မျက်နှာပြင် ရေခိုးရေငွေ့သည် အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများကို ရေငွေ့တိုက်စားခြင်းမှ ကာကွယ်ရန်အတွက်၊ ပြင်ပလေထုနှင့် လေထုညစ်ညမ်းမှုမှ အစိတ်အပိုင်းများကို ခွဲထုတ်ရန်အတွက် encapsulation သို့မဟုတ် hermetic ထုပ်ပိုးမှုနည်းပညာကို အသုံးပြုထားသည်။အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ၏ စိုစွတ်မှုဖိအားသည် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများနှင့် စက်ကိရိယာများ၏ လုပ်ငန်းခွင်ပတ်ဝန်းကျင်ရှိ ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အစိုဓာတ်နှင့် အစိတ်အပိုင်းများအတွင်းသို့ စိမ့်ဝင်သွားသော အစိုဓာတ်မှ လာသည်။အစိုဓာတ်ဖိစီးမှု၏အရွယ်အစားသည် ပတ်ဝန်းကျင်စိုထိုင်းဆအဆင့်နှင့် ဆက်စပ်နေသည်။ကျွန်ုပ်နိုင်ငံ၏ အရှေ့တောင်ဘက်ကမ်းရိုးတန်းဒေသများသည် နွေဦးနှင့် နွေရာသီတွင် စိုထိုင်းဆမြင့်မားသောဒေသများဖြစ်ပြီး နှိုင်းရစိုထိုင်းဆ RH 90% အထက်ရောက်သောအခါ စိုထိုင်းဆလွှမ်းမိုးမှုသည် ရှောင်လွှဲ၍မရသော ပြဿနာတစ်ခုဖြစ်သည်။မြင့်မားသောစိုထိုင်းဆအခြေအနေများအောက်တွင် အသုံးပြုရန် သို့မဟုတ် သိုလှောင်ရန်အတွက် အီလက်ထရွန်နစ်ထုတ်ကုန်များ၏ လိုက်လျောညီထွေရှိမှုကို တည်ငြိမ်သောစိုစွတ်သောအပူစမ်းသပ်မှုနှင့် စိုထိုင်းဆခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်မှုမှတစ်ဆင့် အကဲဖြတ်နိုင်သည်။

4. ဆားဖြန်းထောင်းပါ။

ဆားမှုန်ရေမွှားစိတ်ဖိစီးမှု ဆိုသည်မှာ ဆားအမှုန်အမွှားများပါဝင်သော လေထုအတွင်း ပြန့်ကျဲနေသော အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ အလုပ်လုပ်သည့်အခါ ပစ္စည်း၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ ဆားမှုတ်ဖိစီးမှုကို ရည်ညွှန်းသည်။ဆားမြူများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် အဏ္ဏဝါရာသီဥတုပတ်ဝန်းကျင်နှင့် ကုန်းတွင်းဆားအိုင်ရာသီဥတုပတ်ဝန်းကျင်တို့မှ လာပါသည်။၎င်း၏ အဓိက အစိတ်အပိုင်းများမှာ NaCl နှင့် ရေငွေ့များ ဖြစ်သည်။Na+ နှင့် Cl- ions များ တည်ရှိမှုသည် သတ္တုပစ္စည်းများ၏ ချေးတက်ခြင်း၏ အရင်းအမြစ်ဖြစ်သည်။ဆားမှုန်ရေမွှားများသည် insulator ၏မျက်နှာပြင်တွင်တွယ်ကပ်နေသောအခါ၎င်းသည်၎င်း၏မျက်နှာပြင်ခံနိုင်ရည်ကိုလျှော့ချမည်ဖြစ်ပြီး၊ insulator သည်ဆားဖြေရှင်းချက်ကိုစုပ်ယူပြီးနောက်၎င်း၏ထုထည်ခုခံနိုင်စွမ်းသည်ပြင်းအား 4 အမိန့်ဖြင့်လျော့နည်းသွားလိမ့်မည်;ဆားမှုန်ရေမွှားများသည် ရွေ့လျားနေသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများ၏ မျက်နှာပြင်ကို တွယ်ကပ်သောအခါ၊ ၎င်းသည် အဆိပ်သင့်မှု မျိုးဆက်ကြောင့် တိုးလာမည်ဖြစ်သည်။ပွတ်တိုက်မှု ကိန်းဂဏန်း တိုးလာပါက၊ ရွေ့လျားနေသော အစိတ်အပိုင်းများပင် ပိတ်မိသွားနိုင်သည်။ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ ချစ်ပ်ပြားများ၏ တိုက်စားမှုကို ရှောင်ရှားရန် encapsulation နှင့် air-sealing နည်းပညာကို အသုံးပြုထားသော်လည်း၊ အီလက်ထရွန်နစ် ကိရိယာများ၏ ပြင်ပ pins များသည် ဆားဖြန်းဖြန်းချေးမှုကြောင့် မလွဲမသွေ လုပ်ဆောင်မှု ဆုံးရှုံးရတတ်သည်။PCB ပေါ်ရှိ သံချေးတက်ခြင်းသည် ကပ်လျက် ဝါယာကြိုးများ တိုတောင်းနိုင်သည်။အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ ခံစားရသော ဆားဖြန်းမှု ဖိအားသည် လေထုအတွင်းရှိ ဆားမှုန်ရေမွှားမှ ဆင်းသက်လာသည်။ကမ်းရိုးတန်းဒေသများ၊ သင်္ဘောများနှင့် သင်္ဘောများတွင် လေထုထဲတွင် ဆားအများအပြားပါဝင်ပြီး အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများထုပ်ပိုးမှုအပေါ် ဆိုးရွားစွာသက်ရောက်မှုရှိသည်။ဆားမှုန်ရေမွှားစမ်းသပ်မှုအား ဆားဖြန်းမှုခံနိုင်ရည်အား လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် အကဲဖြတ်ရန် အီလက်ထရွန်းနစ်အထုပ်၏ ချေးတက်မှုကို အရှိန်မြှင့်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။

5. လျှပ်စစ်သံလိုက်ဖိအား

Electromagnetic stress သည် လျှပ်စစ်နှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းများ၏ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းအတွင်း အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းတစ်ခုမှ ဖြစ်ပေါ်လာသော လျှပ်စစ်သံလိုက်ဖိအားကို ရည်ညွှန်းသည်။လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းတွင် ရှုထောင့်နှစ်မျိုးပါဝင်သည်- လျှပ်စစ်စက်ကွင်းနှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းဖြစ်ပြီး ၎င်း၏ဝိသေသလက္ခဏာများကို လျှပ်စစ်စက်ကွင်းအားအား E (သို့မဟုတ် electric displacement D) နှင့် သံလိုက် flux သိပ်သည်းဆ B (သို့မဟုတ် သံလိုက်စက်ကွင်းအား H) အသီးသီးဖြင့် ကိုယ်စားပြုပါသည်။လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းတွင် လျှပ်စစ်စက်ကွင်းနှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းတို့သည် နီးကပ်စွာ ဆက်စပ်နေသည်။အချိန်ပြောင်းလဲနေသော လျှပ်စစ်စက်ကွင်းသည် သံလိုက်စက်ကွင်းကို ဖြစ်စေပြီး အချိန်ပြောင်းလဲနေသော သံလိုက်စက်ကွင်းသည် လျှပ်စစ်စက်ကွင်းကို ဖြစ်စေသည်။လျှပ်စစ်စက်ကွင်းနှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းတို့၏ အပြန်အလှန် လှုံ့ဆော်မှုသည် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်း၏ ရွေ့လျားမှုကို ဖြစ်စေပြီး လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများ ဖြစ်ပေါ်လာသည်။လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများသည် လေဟာနယ် သို့မဟုတ် အရာဝတ္ထုများတွင် ၎င်းတို့ဘာသာ ပြန့်ပွားနိုင်သည်။လျှပ်စစ်နှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းများသည် အဆင့်တွင် လည်ပတ်ကာ တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ထောင့်မှန်ကျသည်။အာကာသထဲတွင် လှိုင်းပုံစံဖြင့် ရွေ့လျားကြသည်။ရွေ့လျားနေသော လျှပ်စစ်စက်ကွင်း၊ သံလိုက်စက်ကွင်းနှင့် ပြန့်ပွားမှု ဦးတည်ချက်တို့သည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ထောင့်မှန်ကျသည်။လေဟာနယ်ရှိ လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများ၏ ပြန့်ပွားနှုန်းမှာ အလင်း၏အမြန်နှုန်း (3×10 ^8m/s) ဖြစ်သည်။ယေဘူယျအားဖြင့် လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများသည် ရေဒီယိုလှိုင်းများနှင့် မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်များဖြစ်သည်။လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းတွေရဲ့ ကြိမ်နှုန်းမြင့်လေ၊ လျှပ်စစ်သံလိုက်ဓာတ်ရောင်ခြည်စွမ်းရည် ကြီးလေပါပဲ။အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်း ထုတ်ကုန်များအတွက်၊ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်း၏ လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှု (EMI) သည် အစိတ်အပိုင်း၏ လျှပ်စစ်သံလိုက်လိုက်ဖက်မှု (EMC) ကို ထိခိုက်စေသည့် အဓိကအချက်ဖြစ်သည်။ဤလျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုအရင်းအမြစ်သည် အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်း၏ အတွင်းပိုင်းအစိတ်အပိုင်းများနှင့် ပြင်ပအီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းများကြား အပြန်အလှန်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်ခြင်းမှ လာပါသည်။အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများ၏ စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် လုပ်ဆောင်ချက်များအပေါ် ဆိုးရွားစွာ သက်ရောက်မှုရှိနိုင်သည်။ဥပမာအားဖြင့်၊ DC/DC ပါဝါ module ၏အတွင်းပိုင်းသံလိုက်အစိတ်အပိုင်းများသည် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများအား လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုဖြစ်စေပါက၊ ၎င်းသည် output ripple voltage parameters များကို တိုက်ရိုက်အကျိုးသက်ရောက်မည်ဖြစ်သည်။အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များပေါ်ရှိ ရေဒီယိုကြိမ်နှုန်း ရောင်ခြည်၏ သက်ရောက်မှုသည် ထုတ်ကုန်ခွံမှတဆင့် အတွင်းပတ်လမ်းအတွင်းသို့ တိုက်ရိုက်ဝင်ရောက်မည်ဖြစ်ပြီး၊ သို့မဟုတ် ကျင့်ကြံနှောင့်ယှက်မှုအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲကာ ထုတ်ကုန်အတွင်းသို့ ဝင်ရောက်မည်ဖြစ်သည်။အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများ၏ လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို ဆန့်ကျင်နိုင်မှုအား လျှပ်စစ်သံလိုက်လိုက်ဖက်မှုစမ်းသပ်မှုနှင့် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းအနီးရှိ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းစကင်ဖတ်စစ်ဆေးခြင်းတို့ကို ထောက်လှမ်းခြင်းဖြင့် အကဲဖြတ်နိုင်သည်။


တင်ချိန်- စက်တင်ဘာ-၁၁-၂၀၂၃