အပူချိန်လျင်မြန်စွာပြောင်းလဲသော စိုစွတ်သောအပူစမ်းသပ်ခန်းဆိုသည်မှာ နမူနာကို အချိန်မတန်မီ ပျက်စီးစေနိုင်သော ရာသီဥတု၊ အပူ သို့မဟုတ် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိစီးမှုများကို စစ်ဆေးသည့်နည်းလမ်းကို ရည်ညွှန်းသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ ၎င်းသည် အီလက်ထရွန်းနစ်မော်ဂျူး၊ ပစ္စည်း သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှု၏ ဒီဇိုင်းတွင် ချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေနိုင်သည်။ ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်း (ESS) နည်းပညာသည် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့် ထုတ်လုပ်မှုအဆင့်များတွင် အစောပိုင်းပျက်ကွက်မှုများကို ရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်ပြီး ဒီဇိုင်းရွေးချယ်မှုအမှားများ သို့မဟုတ် ညံ့ဖျင်းသော ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်များကြောင့် ပျက်ကွက်မှုအန္တရာယ်ကို လျှော့ချပေးပြီး ထုတ်ကုန်ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို များစွာတိုးတက်စေသည်။ ပတ်ဝန်းကျင်ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်းမှတစ်ဆင့် ထုတ်လုပ်မှုစမ်းသပ်အဆင့်သို့ ဝင်ရောက်လာသော မယုံကြည်ရသောစနစ်များကို ရှာဖွေနိုင်သည်။ ထုတ်ကုန်၏ ပုံမှန်အလုပ်လုပ်သက်တမ်းကို ထိရောက်စွာတိုးချဲ့ရန် အရည်အသွေးတိုးတက်မှုအတွက် စံနည်းလမ်းအဖြစ် အသုံးပြုခဲ့သည်။ SES စနစ်တွင် ရေခဲသေတ္တာ၊ အပူပေးခြင်း၊ စိုထိုင်းဆလျှော့ချခြင်းနှင့် စိုထိုင်းဆလျှော့ချခြင်းအတွက် အလိုအလျောက်ချိန်ညှိမှုလုပ်ဆောင်ချက်များပါရှိသည် (စိုထိုင်းဆလုပ်ဆောင်ချက်သည် SES စနစ်အတွက်သာဖြစ်သည်)။ ၎င်းကို အဓိကအားဖြင့် အပူချိန်ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်းအတွက် အသုံးပြုသည်။ ၎င်းကို ရိုးရာအပူချိန်မြင့်မားခြင်း၊ အပူချိန်နိမ့်ခြင်း၊ အပူချိန်မြင့်ခြင်းနှင့် နိမ့်သောအပူချိန်စက်ဝန်းများ၊ စိုထိုင်းဆမပြောင်းလဲခြင်း၊ အပူနှင့် စိုထိုင်းဆအတွက်လည်း အသုံးပြုနိုင်သည်။ စိုထိုင်းဆအပူ၊ အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆပေါင်းစပ်မှုစသည့် ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်မှုများ။
အင်္ဂါရပ်များ:
အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှုန်း 5℃/Min.10℃/Min.15℃/Min.20℃/Min iso-ပျမ်းမျှအပူချိန်
စမ်းသပ်မှုရလဒ်များကို မှားယွင်းစွာ ဆုံးဖြတ်မိခြင်းမှ ရှောင်ရှားရန်အတွက် စိုထိုင်းဆသေတ္တာကို ငွေ့ရည်ဖွဲ့ခြင်းမရှိအောင် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။
စမ်းသပ်နေသော ပစ္စည်းများ၏ ဘေးကင်းရေးကို ကာကွယ်ရန် ပရိုဂရမ်ထည့်သွင်းနိုင်သော ဝန်အားထောက်ပံ့မှု ၄ ခု ON/OFF output control
တိုးချဲ့နိုင်သော APP မိုဘိုင်းပလက်ဖောင်းစီမံခန့်ခွဲမှု။ တိုးချဲ့နိုင်သော အဝေးထိန်းဝန်ဆောင်မှုလုပ်ဆောင်ချက်များ။
ပတ်ဝန်းကျင်နှင့် သဟဇာတဖြစ်သော ရေခဲသေတ္တာစီးဆင်းမှု ထိန်းချုပ်မှု၊ စွမ်းအင်ချွေတာမှုနှင့် ပါဝါချွေတာမှု၊ အပူနှင့် အအေးနှုန်း မြန်ဆန်ခြင်း
လွတ်လပ်သော ငွေ့ရည်ဖွဲ့မှု ဆန့်ကျင်သည့် လုပ်ဆောင်ချက်နှင့် အပူချိန်၊ စမ်းသပ်ဆဲ ထုတ်ကုန်တွင် လေနှင့် မီးခိုးကာကွယ်မှု လုပ်ဆောင်ချက် မရှိပါ။
ထူးခြားသော လည်ပတ်မှုမုဒ်၊ စမ်းသပ်ပြီးနောက်၊ ကက်ဘိနက်သည် စမ်းသပ်နေသော ထုတ်ကုန်ကို ကာကွယ်ရန် အခန်းအပူချိန်သို့ ပြန်သွားသည်
ဒေတာစမ်းသပ်မှုနှင့် ထပ်တူပြုနိုင်သော တိုးချဲ့နိုင်သော ကွန်ရက်ဗီဒီယို စောင့်ကြည့်ခြင်း
ထိန်းချုပ်စနစ် ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းမှု အလိုအလျောက် သတိပေးခြင်းနှင့် ချို့ယွင်းချက် ဖြစ်ရပ်ဆော့ဖ်ဝဲ ဒီဇိုင်းလုပ်ဆောင်ချက်
အရောင်မျက်နှာပြင် ၃၂-ဘစ် ထိန်းချုပ်မှုစနစ် E Ethernet E စီမံခန့်ခွဲမှု၊ UCB ဒေတာဝင်ရောက်ခွင့်လုပ်ဆောင်ချက်
မျက်နှာပြင်ငွေ့ရည်ဖွဲ့ခြင်းကြောင့် အပူချိန်လျင်မြန်စွာပြောင်းလဲမှုမှ စမ်းသပ်နေသော ထုတ်ကုန်ကို ကာကွယ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော ခြောက်သွေ့သောလေသန့်စင်မှု
စက်မှုလုပ်ငန်း စိုထိုင်းဆနည်းသော အကွာအဝေး 20 ℃/10% ထိန်းချုပ်နိုင်စွမ်း
အလိုအလျောက်ရေပေးဝေမှုစနစ်၊ ရေစစ်ထုတ်စနစ်နှင့် ရေပြတ်လပ်မှုသတိပေးချက်လုပ်ဆောင်ချက် တပ်ဆင်ထားသည်
အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းကိရိယာများထုတ်ကုန်များ၏ ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်း၊ ခဲမပါသောလုပ်ငန်းစဉ်၊ MIL-STD-2164၊ MIL-344A-4-16၊ MIL-2164A-19၊ NABMAT-9492၊ GJB-1032-90၊ GJB/Z34-5.1.6၊ IPC -9701...နှင့် အခြားစမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီပါသည်။ မှတ်ချက်- အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆ ဖြန့်ဖြူးမှု တစ်ပြေးညီဖြစ်မှုစမ်းသပ်နည်းလမ်းသည် အတွင်းသေတ္တာနှင့် တစ်ဖက်စီကြား အကွာအဝေး၏ ထိရောက်သောနေရာတိုင်းတာမှုအပေါ် အခြေခံသည် (GB5170.18-87)
အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ လုပ်ဆောင်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင်၊ လျှပ်စစ်ဝန်၏ ဗို့အားနှင့် လျှပ်စီးကြောင်းကဲ့သို့သော လျှပ်စစ်ဖိစီးမှုအပြင်၊ ပတ်ဝန်းကျင်ဖိစီးမှုတွင် မြင့်မားသော အပူချိန်နှင့် အပူချိန်စက်ဝန်း၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုနှင့် ရှော့ခ်၊ စိုထိုင်းဆနှင့် ဆားမှုန်ရေမွှားများ၊ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှု စသည်တို့လည်း ပါဝင်သည်။ အထက်ဖော်ပြပါ ပတ်ဝန်းကျင်ဖိစီးမှု၏ လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် ထုတ်ကုန်သည် စွမ်းဆောင်ရည်ကျဆင်းခြင်း၊ ကန့်သတ်ချက်များ ရွေ့လျားခြင်း၊ ပစ္စည်းချေးခြင်း စသည်တို့ သို့မဟုတ် ပျက်ကွက်ခြင်းပင် ကြုံတွေ့ရနိုင်သည်။
အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များကို ထုတ်လုပ်ပြီးနောက်၊ စစ်ဆေးခြင်း၊ စာရင်းပြုစုခြင်း၊ သယ်ယူပို့ဆောင်ခြင်းမှစ၍ အသုံးပြုမှုအထိ နှင့် ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းခြင်းအထိ၊ ၎င်းတို့အားလုံးသည် ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာဖိစီးမှုများ၏ သက်ရောက်မှုကို ခံရပြီး ထုတ်ကုန်၏ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ၊ ဓာတုဗေဒ၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် လျှပ်စစ်ဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများ အဆက်မပြတ်ပြောင်းလဲစေသည်။ ပြောင်းလဲမှုလုပ်ငန်းစဉ်သည် နှေးကွေးခြင်း သို့မဟုတ် ယာယီဖြစ်ခြင်းဖြစ်နိုင်ပြီး ၎င်းသည် ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာဖိစီးမှုအမျိုးအစားနှင့် ဖိစီးမှုပမာဏပေါ်တွင် အပြည့်အဝမူတည်ပါသည်။
တည်ငြိမ်သောအပူချိန်ဖိအားဆိုသည်မှာ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်တစ်ခုသည် သတ်မှတ်ထားသောအပူချိန်ပတ်ဝန်းကျင်တွင် အလုပ်လုပ်နေချိန် သို့မဟုတ် သိမ်းဆည်းထားချိန်တွင် ၎င်း၏တုံ့ပြန်မှုအပူချိန်ကို ရည်ညွှန်းသည်။ တုံ့ပြန်မှုအပူချိန်သည် ထုတ်ကုန်ခံနိုင်ရည်ရှိသော ကန့်သတ်ချက်ထက်ကျော်လွန်သွားသောအခါ၊ အစိတ်အပိုင်းထုတ်ကုန်သည် သတ်မှတ်ထားသော လျှပ်စစ်ကန့်သတ်ချက်အတွင်း အလုပ်လုပ်နိုင်မည်မဟုတ်ဘဲ၊ ၎င်းသည် ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းကို ပျော့ပျောင်းစေပြီး ပုံပျက်စေခြင်း၊ insulation စွမ်းဆောင်ရည်ကို လျော့ကျစေခြင်း၊ သို့မဟုတ် အပူလွန်ကဲခြင်းကြောင့်ပင် မီးလောင်သွားနိုင်သည်။ ထုတ်ကုန်အတွက်၊ ဤအချိန်တွင် ထုတ်ကုန်သည် မြင့်မားသောအပူချိန်နှင့်ထိတွေ့ရသည်။ ဖိအား၊ အပူချိန်မြင့်မားသော အလွန်အကျွံဖိစီးမှုသည် လုပ်ဆောင်ချက်၏အချိန်တိုအတွင်း ထုတ်ကုန်ပျက်ကွက်မှုကို ဖြစ်စေနိုင်သည်။ တုံ့ပြန်မှုအပူချိန်သည် ထုတ်ကုန်၏ သတ်မှတ်ထားသော လည်ပတ်မှုအပူချိန်အပိုင်းအခြားထက် မကျော်လွန်သောအခါ၊ တည်ငြိမ်သောအပူချိန်ဖိအား၏အကျိုးသက်ရောက်မှုကို ရေရှည်လုပ်ဆောင်ချက်၏အကျိုးသက်ရောက်မှုတွင် ထင်ရှားစေသည်။ အချိန်၏အကျိုးသက်ရောက်မှုသည် ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းကို တဖြည်းဖြည်းအိုမင်းစေပြီး လျှပ်စစ်စွမ်းဆောင်ရည်ကန့်သတ်ချက်များသည် ရွေ့လျားနေခြင်း သို့မဟုတ် ညံ့ဖျင်းခြင်းကြောင့် နောက်ဆုံးတွင် ထုတ်ကုန်ပျက်ကွက်မှုကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ ထုတ်ကုန်အတွက်၊ ဤအချိန်တွင် အပူချိန်ဖိအားသည် ရေရှည်အပူချိန်ဖိအားဖြစ်သည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များမှ ကြုံတွေ့ရသော တည်ငြိမ်သောအပူချိန်ဖိအားသည် ထုတ်ကုန်ရှိ ပတ်ဝန်းကျင်အပူချိန်ဝန်နှင့် ၎င်း၏ကိုယ်ပိုင်ပါဝါသုံးစွဲမှုမှ ထုတ်ပေးသောအပူမှ လာသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ အပူပျံ့နှံ့မှုစနစ် ချို့ယွင်းမှုနှင့် စက်ပစ္စည်း၏ အပူချိန်မြင့်မားသော အပူစီးဆင်းမှု ယိုစိမ့်မှုကြောင့် အစိတ်အပိုင်း၏ အပူချိန်သည် ခွင့်ပြုထားသော အပူချိန်၏ အထက်ကန့်သတ်ချက်ကို ကျော်လွန်သွားမည်ဖြစ်သည်။ အစိတ်အပိုင်းသည် အပူချိန်မြင့်မားစွာ ထိတွေ့ရသည်။ ဖိအား- သိုလှောင်မှုပတ်ဝန်းကျင် အပူချိန်၏ ရေရှည်တည်ငြိမ်သော အလုပ်လုပ်သည့်အခြေအနေတွင် ထုတ်ကုန်သည် ရေရှည်အပူချိန်ဖိအားကို ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ မြင့်မားသော အပူချိန်ခံနိုင်ရည် ကန့်သတ်ချက်ကို မြင့်မားသော အပူချိန်ဖုတ်ခြင်းစမ်းသပ်မှုဖြင့် ဆုံးဖြတ်နိုင်ပြီး ရေရှည်အပူချိန်အောက်ရှိ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ဝန်ဆောင်မှုသက်တမ်းကို တည်ငြိမ်သောအခြေအနေသက်တမ်းစမ်းသပ်မှု (အပူချိန်မြင့်မားသော အရှိန်မြှင့်ခြင်း) ဖြင့် အကဲဖြတ်နိုင်သည်။
အပူချိန်ဖိအားပြောင်းလဲခြင်းဆိုသည်မှာ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များသည် အပူချိန်ပြောင်းလဲနေသောအခြေအနေတွင်ရှိနေချိန်တွင်၊ ထုတ်ကုန်၏လုပ်ဆောင်ချက်ဆိုင်ရာပစ္စည်းများ၏ အပူချဲ့ထွင်မှုကိန်းဂဏန်းများကွာခြားမှုကြောင့် ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်သည် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုကြောင့်ဖြစ်ပေါ်လာသော အပူဖိအားကို ခံရခြင်းဖြစ်သည်။ အပူချိန်သိသိသာသာပြောင်းလဲသွားသောအခါ၊ ထုတ်ကုန်သည် ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်တွင် ချက်ချင်းပေါက်ကွဲပြီး ပျက်စီးသွားနိုင်သည်။ ဤအချိန်တွင်၊ ထုတ်ကုန်သည် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုလွန်ကဲခြင်း သို့မဟုတ် အပူချိန်ရှော့ခ်ဖိစီးမှုကို ခံရသည်။ အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုသည် နှေးကွေးသောအခါ၊ အပူချိန်ဖိအားပြောင်းလဲမှု၏အကျိုးသက်ရောက်မှုကို အချိန်ကြာမြင့်စွာထင်ရှားစေသည်။ ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်သည် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုကြောင့်ဖြစ်ပေါ်လာသော အပူဖိအားကို ဆက်လက်ခံနိုင်ရည်ရှိပြီး အချို့သောအသေးစားနေရာများတွင် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်းဖြင့် အက်ကွဲခြင်းပျက်စီးမှုဖြစ်ပွားနိုင်သည်။ ဤပျက်စီးမှုသည် တဖြည်းဖြည်းစုပုံလာပြီး နောက်ဆုံးတွင် ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်အက်ကွဲခြင်း သို့မဟုတ် ကျိုးပဲ့ခြင်းဆုံးရှုံးမှုကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ ဤအချိန်တွင်၊ ထုတ်ကုန်သည် ရေရှည်အပူချိန်ကို ထိတွေ့ရသည်။ ပြောင်းလဲနေသောဖိအား သို့မဟုတ် အပူချိန်လည်ပတ်မှုဖိစီးမှု။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များကြုံတွေ့ရသော အပူချိန်ဖိအားပြောင်းလဲခြင်းသည် ထုတ်ကုန်တည်ရှိရာပတ်ဝန်းကျင်၏ အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှင့် ၎င်း၏ကိုယ်ပိုင်ပြောင်းလဲနေသောအခြေအနေမှ လာသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ နွေးထွေးသော အိမ်တွင်းမှ အပြင်ဘက်အေးသောနေရာသို့ ရွှေ့ပြောင်းသည့်အခါ၊ နေရောင်ခြည်ပြင်းထန်စွာအောက်တွင်၊ ရုတ်တရက်မိုးရွာသွန်းခြင်း သို့မဟုတ် ရေထဲတွင်နှစ်မြှုပ်ခြင်း၊ မြေပြင်မှ လေယာဉ်၏ မြင့်မားသောအမြင့်သို့ အပူချိန်လျင်မြန်စွာပြောင်းလဲသွားခြင်း၊ အအေးပတ်ဝန်းကျင်တွင် ရံဖန်ရံခါအလုပ်လုပ်ခြင်း၊ အာကာသတွင် နေထွက်ပြီး နေပြန်ထွက်ခြင်း။ ပြောင်းလဲမှုများ၊ ပြန်လည်စီးဆင်း ဂဟေဆက်ခြင်းနှင့် မိုက်ခရိုဆားကစ်မော်ဂျူးများကို ပြန်လည်ပြုပြင်ခြင်းကိစ္စများတွင် ထုတ်ကုန်သည် အပူချိန်ရှော့ခ်ဖိစီးမှုကို ခံရသည်။ စက်ပစ္စည်းသည် သဘာဝရာသီဥတုအပူချိန်တွင် ပုံမှန်ပြောင်းလဲမှုများ၊ ရံဖန်ရံခါအလုပ်လုပ်သည့်အခြေအနေများ၊ စက်ပစ္စည်းစနစ်၏ လည်ပတ်မှုအပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှင့် ဆက်သွယ်ရေးစက်ပစ္စည်းခေါ်ဆိုမှုပမာဏပြောင်းလဲမှုများကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသည်။ ပါဝါသုံးစွဲမှုအတက်အကျရှိပါက ထုတ်ကုန်သည် အပူချိန်လည်ပတ်မှုဖိစီးမှုကို ခံရသည်။ အပူချိန်သိသိသာသာပြောင်းလဲမှုများကို ခံရသည့်အခါ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ခံနိုင်ရည်ကို အကဲဖြတ်ရန် အပူရှော့ခ်စမ်းသပ်မှုကို အသုံးပြုနိုင်ပြီး အပူချိန်စက်ဝန်းစမ်းသပ်မှုကို အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ အပူချိန်မြင့်မားမှုနှင့် နိမ့်ကျသော အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများအောက်တွင် အချိန်ကြာမြင့်စွာအလုပ်လုပ်နိုင်စွမ်းကို အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။
၂။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိစီးမှု
အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိစီးမှုတွင် ဖိစီးမှုသုံးမျိုးပါဝင်သည်- စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှု၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်နှင့် စဉ်ဆက်မပြတ်အရှိန်မြှင့်ခြင်း (ဗဟိုခွာအား)။
စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုဖိစီးမှုဆိုသည်မှာ ပတ်ဝန်းကျင်ပြင်ပအားများ၏လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် မျှခြေအနေအထားတစ်ခုတွင် အပြန်အလှန်လည်ပတ်နေသော အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များမှ ထုတ်ပေးသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိစီးမှုတစ်မျိုးကို ရည်ညွှန်းသည်။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုကို ၎င်း၏အကြောင်းရင်းများအလိုက် အခမဲ့တုန်ခါမှု၊ အတင်းတုန်ခါမှုနှင့် ကိုယ်တိုင်လှုံ့ဆော်တုန်ခါမှုဟူ၍ ခွဲခြားထားသည်။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှု၏ ရွေ့လျားမှုဥပဒေအရ sinusoidal တုန်ခါမှုနှင့် ကျပန်းတုန်ခါမှုရှိသည်။ ဤတုန်ခါမှုပုံစံနှစ်မျိုးသည် ထုတ်ကုန်ပေါ်တွင် မတူညီသော ဖျက်ဆီးနိုင်သောအားများရှိပြီး နောက်ဆုံးတစ်ခုမှာ ပျက်စီးစေသောအားဖြစ်သည်။ ပိုကြီးသောကြောင့် တုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှုအကဲဖြတ်မှုအများစုသည် ကျပန်းတုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှုကို အသုံးပြုသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များအပေါ် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှု၏ သက်ရောက်မှုတွင် တုန်ခါမှုကြောင့်ဖြစ်ပေါ်လာသော ထုတ်ကုန်ပုံပျက်ခြင်း၊ ကွေးခြင်း၊ အက်ကွဲခြင်း၊ ကျိုးပဲ့ခြင်းစသည်တို့ ပါဝင်သည်။ ရေရှည်တုန်ခါမှုဖိစီးမှုအောက်ရှိ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များသည် မောပန်းနွမ်းနယ်မှုနှင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာမောပန်းနွမ်းနယ်မှုပျက်ကွက်မှုကြောင့် ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံမျက်နှာပြင်ပစ္စည်းများ အက်ကွဲခြင်းကို ဖြစ်စေသည်။ ၎င်းဖြစ်ပေါ်ပါက ပဲ့တင်ထပ်မှုသည် အလွန်အကျွံဖိစီးမှုကွဲအက်ခြင်းကို ဖြစ်စေပြီး အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များကို ချက်ချင်းဖွဲ့စည်းပုံပျက်စီးစေပါသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုဖိစီးမှုသည် လေယာဉ်၊ ယာဉ်များ၊ သင်္ဘောများ၊ လေကြောင်းယာဉ်များနှင့် မြေပြင်စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖွဲ့စည်းပုံများ၏ လည်ပတ်မှု၊ တုန်ခါမှု၊ တုန်ခါမှုနှင့် အခြားပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဝန်ထုပ်များကဲ့သို့သော အလုပ်ပတ်ဝန်းကျင်၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဝန်ထုပ်များမှ ဆင်းသက်လာပြီး အထူးသဖြင့် ထုတ်ကုန်ကို အလုပ်မလုပ်သောအခြေအနေတွင် သယ်ယူပို့ဆောင်သည့်အခါနှင့် အလုပ်အခြေအနေများအောက်တွင် လည်ပတ်နေသော ယာဉ်တပ်ဆင်ထားသော သို့မဟုတ် လေကြောင်းအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုအနေဖြင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုဖိစီးမှုကို ခံနိုင်ရည်ရှိရန် မလွဲမသွေလိုအပ်သည်။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှု (အထူးသဖြင့် ကျပန်းတုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှု) ကို လည်ပတ်နေစဉ်အတွင်း ထပ်ခါတလဲလဲစက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုအတွက် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။
စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်ဖိစီးမှုဆိုသည်မှာ ပြင်ပပတ်ဝန်းကျင်အားများ၏လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်နှင့် အခြားအရာဝတ္ထု (သို့မဟုတ် အစိတ်အပိုင်း) အကြား တိုက်ရိုက်အပြန်အလှန် ဆက်သွယ်မှုတစ်ခုကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဖိစီးမှုတစ်မျိုးဖြစ်ပြီး ထုတ်ကုန်၏အား၊ ရွေ့လျားမှု၊ အမြန်နှုန်း သို့မဟုတ် အရှိန်ကို ချက်ချင်းပြောင်းလဲစေသည်။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာထိခိုက်မှုဖိစီးမှုအောက်တွင် ထုတ်ကုန်သည် အချိန်တိုအတွင်း သိသာထင်ရှားသော စွမ်းအင်ကို ထုတ်လွှတ်လွှဲပြောင်းပေးနိုင်ပြီး အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်ချို့ယွင်းခြင်း၊ ချက်ချင်းပတ်လမ်းပွင့်/တိုတောင်းခြင်း၊ စုစည်းထားသောထုပ်ပိုးမှုဖွဲ့စည်းပုံ အက်ကွဲခြင်းနှင့် ကျိုးခြင်းစသည့် ထုတ်ကုန်ကို ပြင်းထန်စွာပျက်စီးစေနိုင်သည်။ တုန်ခါမှု၏ ရေရှည်လုပ်ဆောင်ချက်ကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော စုပေါင်းပျက်စီးမှုနှင့်မတူဘဲ ထုတ်ကုန်အပေါ် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်၏ပျက်စီးမှုကို စွမ်းအင်ထုတ်လွှတ်မှုအဖြစ် ထင်ရှားသည်။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်စမ်းသပ်မှု၏ ပမာဏသည် ပိုကြီးပြီး ရှော့ခ်လှိုင်းကြာချိန်သည် ပိုတိုသည်။ ထုတ်ကုန်ကို ပျက်စီးစေသော အမြင့်ဆုံးတန်ဖိုးမှာ အဓိကလှိုင်းဖြစ်သည်။ ကြာချိန်သည် မီလီစက္ကန့်အနည်းငယ်မှ ဆယ်ဂဏန်းမီလီစက္ကန့်အထိသာရှိပြီး အဓိကလှိုင်းပြီးနောက် တုန်ခါမှုသည် လျင်မြန်စွာ ယိုယွင်းသွားသည်။ ဤစက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်ဖိစီးမှု၏ ပမာဏကို အမြင့်ဆုံးအရှိန်နှင့် ရှော့ခ်လှိုင်းကြာချိန်ဖြင့် ဆုံးဖြတ်သည်။ အမြင့်ဆုံးအရှိန်၏ပမာဏသည် ထုတ်ကုန်အပေါ်သက်ရောက်မှုအား၏ပမာဏကိုထင်ဟပ်စေပြီး ထုတ်ကုန်အပေါ်ရှော့ခ်လှိုင်း၏ကြာချိန်၏သက်ရောက်မှုသည် ထုတ်ကုန်၏သဘာဝကြိမ်နှုန်းနှင့်ဆက်စပ်နေသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များခံစားရသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်ဖိစီးမှုသည် အရေးပေါ်ဘရိတ်အုပ်ခြင်းနှင့် ယာဉ်များ၏သက်ရောက်မှု၊ လေယာဉ်များ၏လေချခြင်း၊ အမြောက်ပစ်ခတ်မှု၊ ဓာတုစွမ်းအင်ပေါက်ကွဲမှုများ၊ နျူကလီးယားပေါက်ကွဲမှုများ၊ ပေါက်ကွဲမှုများစသည်တို့ကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းကိရိယာများနှင့် ပစ္စည်းကိရိယာများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာအခြေအနေတွင် သိသိသာသာပြောင်းလဲမှုများမှ လာပါသည်။ တင်ဆောင်ခြင်းနှင့်ချခြင်း၊ သယ်ယူပို့ဆောင်ရေး သို့မဟုတ် လယ်ကွင်းလုပ်ငန်းကြောင့်ဖြစ်ပေါ်လာသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာသက်ရောက်မှု၊ ရုတ်တရက်အား သို့မဟုတ် ရုတ်တရက်ရွေ့လျားမှုတို့သည်လည်း ထုတ်ကုန်အား စက်ပိုင်းဆိုင်ရာသက်ရောက်မှုကို ခံနိုင်ရည်ရှိစေမည်ဖြစ်သည်။ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်စမ်းသပ်မှုကို အသုံးပြုခြင်းနှင့် သယ်ယူပို့ဆောင်စဉ်အတွင်း ထပ်ခါတလဲလဲမဟုတ်သော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရှော့ခ်များအတွက် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ (ဥပမာ ဆားကစ်ဖွဲ့စည်းပုံများကဲ့သို့) ၏ လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။
စဉ်ဆက်မပြတ်အရှိန်မြှင့်ခြင်း (ဗဟိုခွာအား) ဖိအားဆိုသည်မှာ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များသည် ရွေ့လျားနေသော သယ်ဆောင်ကိရိယာပေါ်တွင် အလုပ်လုပ်နေချိန်တွင် သယ်ဆောင်သူ၏ ရွေ့လျားမှုဦးတည်ရာ စဉ်ဆက်မပြတ်ပြောင်းလဲခြင်းကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော ဗဟိုခွာအားတစ်မျိုးကို ရည်ညွှန်းသည်။ ဗဟိုခွာအားသည် virtual inertial force ဖြစ်ပြီး လည်ပတ်နေသောအရာဝတ္ထုကို လည်ပတ်မှု၏ဗဟိုမှ ဝေးကွာစေသည်။ ဗဟိုခွာအားနှင့် ဗဟိုခွာအားသည် ပမာဏတူညီပြီး ဦးတည်ရာဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်သည်။ ရလဒ်ပြင်ပအားမှ ဖွဲ့စည်းပြီး စက်ဝိုင်း၏ဗဟိုသို့ ဦးတည်သော ဗဟိုခွာအား ပျောက်ကွယ်သွားသည်နှင့် လည်ပတ်နေသောအရာဝတ္ထုသည် လည်ပတ်တော့မည်မဟုတ်ပါ။ ယင်းအစား၊ ၎င်းသည် ယခုအချိန်တွင် လည်ပတ်လမ်းကြောင်း၏ tangential ဦးတည်ရာတစ်လျှောက် လွင့်ထွက်သွားပြီး ထုတ်ကုန်သည် ယခုအချိန်တွင် ပျက်စီးသွားသည်။ ဗဟိုခွာအား၏ အရွယ်အစားသည် ရွေ့လျားနေသောအရာဝတ္ထု၏ အလေးချိန်၊ ရွေ့လျားမှုအမြန်နှုန်းနှင့် အရှိန် (လည်ပတ်မှုအချင်းဝက်) နှင့် ဆက်စပ်နေသည်။ ခိုင်မာစွာ ဂဟေဆော်မထားသော အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက်၊ ဂဟေဆက်များ ကွဲကွာသွားခြင်းကြောင့် အစိတ်အပိုင်းများ လွင့်ထွက်သွားသည့်ဖြစ်စဉ်သည် ဗဟိုခွာအား၏ လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် ဖြစ်ပေါ်လိမ့်မည်။ ထုတ်ကုန်သည် ပျက်ကွက်သွားသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များတွင် ကျရောက်သော ဗဟိုခွာအားသည် မောင်းနှင်နေသော ယာဉ်များ၊ လေယာဉ်များ၊ ဒုံးပျံများနှင့် ပြောင်းလဲနေသော ဦးတည်ရာများကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းကိရိယာများနှင့် ရွေ့လျားမှု ဦးတည်ရာရှိ ပစ္စည်းကိရိယာများ၏ စဉ်ဆက်မပြတ်ပြောင်းလဲနေသော လည်ပတ်မှုအခြေအနေများမှ လာသောကြောင့် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းကိရိယာများနှင့် အတွင်းပိုင်းအစိတ်အပိုင်းများသည် ဆွဲငင်အားမှလွဲ၍ အခြားဗဟိုခွာအားကို ခံနိုင်ရည်ရှိရမည်။ လုပ်ဆောင်ချိန်သည် စက္ကန့်အနည်းငယ်မှ မိနစ်အနည်းငယ်အထိ ကြာမြင့်သည်။ ဒုံးပျံတစ်ခုကို ဥပမာအနေဖြင့် ယူလျှင်၊ ဦးတည်ရာပြောင်းလဲမှု ပြီးဆုံးသည်နှင့် ဗဟိုခွာအား ပျောက်ကွယ်သွားပြီး ဗဟိုခွာအားသည် ထပ်မံပြောင်းလဲပြီး ထပ်မံလုပ်ဆောင်သည်၊ ၎င်းသည် ရေရှည်စဉ်ဆက်မပြတ် ဗဟိုခွာအားကို ဖွဲ့စည်းနိုင်သည်။ စဉ်ဆက်မပြတ်အရှိန်မြှင့်စမ်းသပ်မှု (ဗဟိုခွာစမ်းသပ်မှု) ကို အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၊ အထူးသဖြင့် ကြီးမားသော မျက်နှာပြင်တပ်ဆင်သည့် အစိတ်အပိုင်းများ၏ ဂဟေဆက်ဖွဲ့စည်းပုံ၏ ကြံ့ခိုင်မှုကို အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။
၃။ စိုထိုင်းဆ ဖိစီးမှု
စိုထိုင်းဆဖိအားဆိုသည်မှာ စိုထိုင်းဆအတိုင်းအတာတစ်ခုရှိသော လေထုပတ်ဝန်းကျင်တွင် အလုပ်လုပ်သည့်အခါ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ ခံနိုင်ရည်ရှိသော စိုထိုင်းဆဖိအားကို ရည်ညွှန်းသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များသည် စိုထိုင်းဆကို အလွန်ထိခိုက်လွယ်သည်။ ပတ်ဝန်းကျင်၏ ဆွေမျိုးစိုထိုင်းဆသည် 30% RH ထက်ကျော်လွန်သွားသည်နှင့် ထုတ်ကုန်၏ သတ္တုပစ္စည်းများသည် သံချေးတက်နိုင်ပြီး လျှပ်စစ်စွမ်းဆောင်ရည် ကန့်သတ်ချက်များ ရွေ့လျားသွားနိုင်သည် သို့မဟုတ် ညံ့ဖျင်းနိုင်သည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ ရေရှည်စိုထိုင်းဆမြင့်မားသောအခြေအနေများတွင်၊ စိုထိုင်းဆစုပ်ယူပြီးနောက် လျှပ်ကာပစ္စည်းများ၏ လျှပ်ကာစွမ်းဆောင်ရည် ကျဆင်းသွားပြီး လျှပ်ကာပတ်လမ်းတိုများ သို့မဟုတ် ဗို့အားမြင့်လျှပ်စစ်ရှော့ခ်များ ဖြစ်ပေါ်စေသည်၊ ပလပ်များ၊ ပလပ်ပေါက်များကဲ့သို့သော ထိတွေ့အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများသည် စိုထိုင်းဆမျက်နှာပြင်တွင် တွယ်ကပ်သောအခါ သံချေးတက်လွယ်ပြီး အောက်ဆိုဒ်ဖလင်ကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်၊ ၎င်းသည် ထိတွေ့ကိရိယာ၏ ခုခံမှုကို တိုးစေပြီး ပြင်းထန်သောကိစ္စများတွင် ပတ်လမ်းပိတ်ဆို့စေလိမ့်မည်။ ပြင်းထန်သောစိုထိုင်းဆပတ်ဝန်းကျင်တွင်၊ မြူ သို့မဟုတ် ရေငွေ့သည် relay contact များကို အသက်သွင်းသောအခါ မီးပွားများစေပြီး အလုပ်မလုပ်နိုင်တော့ပါ။ semiconductor chip များသည် ရေငွေ့ကို ပိုမိုထိခိုက်လွယ်သည်၊ ချစ်ပ်မျက်နှာပြင် ရေငွေ့သည် အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများကို ရေငွေ့ဖြင့် သံချေးတက်ခြင်းမှ ကာကွယ်ရန်အတွက်၊ အစိတ်အပိုင်းများကို ပြင်ပလေထုနှင့် ညစ်ညမ်းမှုမှ ခွဲထုတ်ရန် encapsulation သို့မဟုတ် hermetic packaging နည်းပညာကို အသုံးပြုသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ ကြုံတွေ့ရသော အစိုဓာတ်ဖိစီးမှုသည် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများနှင့် စက်ပစ္စည်းများ၏ အလုပ်လုပ်သည့်ပတ်ဝန်းကျင်ရှိ ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အစိုဓာတ်နှင့် အစိတ်အပိုင်းများထဲသို့ ဝင်ရောက်လာသော အစိုဓာတ်တို့မှ ဖြစ်ပေါ်လာသည်။ အစိုဓာတ်ဖိစီးမှု၏ အရွယ်အစားသည် ပတ်ဝန်းကျင်စိုထိုင်းဆအဆင့်နှင့် ဆက်စပ်နေသည်။ ကျွန်ုပ်၏နိုင်ငံ၏ အရှေ့တောင်ကမ်းရိုးတန်းဒေသများသည် စိုထိုင်းဆမြင့်မားသောနေရာများဖြစ်ပြီး အထူးသဖြင့် နွေဦးနှင့် နွေရာသီတွင် ဆွေမျိုးစိုထိုင်းဆသည် 90% RH အထက်ရောက်ရှိသောအခါ စိုထိုင်းဆ၏လွှမ်းမိုးမှုသည် မလွဲမသွေပြဿနာတစ်ခုဖြစ်သည်။ စိုထိုင်းဆမြင့်မားသောအခြေအနေများအောက်တွင် အသုံးပြုခြင်း သို့မဟုတ် သိုလှောင်ခြင်းအတွက် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ၏ လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို တည်ငြိမ်သောအစိုဓာတ်စမ်းသပ်မှုနှင့် စိုထိုင်းဆခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်မှုမှတစ်ဆင့် အကဲဖြတ်နိုင်သည်။
၄။ ဆားဖြန်းခြင်းဖိအား
ဆားဖြန်းဖိအားဆိုသည်မှာ ဆားပါဝင်သော အစက်အပြောက်ငယ်များပါဝင်သော လေထုပျံ့နှံ့မှုပတ်ဝန်းကျင်တွင် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ အလုပ်လုပ်သည့်အခါ ပစ္စည်း၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ ဆားဖြန်းဖိအားကို ရည်ညွှန်းသည်။ ဆားမြူများသည် ယေဘုယျအားဖြင့် ပင်လယ်ရာသီဥတုပတ်ဝန်းကျင်နှင့် ကုန်းတွင်းပိုင်းဆားကန်ရာသီဥတုပတ်ဝန်းကျင်မှ လာသည်။ ၎င်း၏အဓိကအစိတ်အပိုင်းများမှာ NaCl နှင့် ရေငွေ့ဖြစ်သည်။ Na+ နှင့် Cl- အိုင်းယွန်းများရှိနေခြင်းသည် သတ္တုပစ္စည်းများ ချေးခြင်း၏ အရင်းခံအကြောင်းရင်းဖြစ်သည်။ ဆားဖြန်းသည် insulator ၏မျက်နှာပြင်တွင် ကပ်နေသောအခါ ၎င်း၏မျက်နှာပြင်ခုခံမှုကို လျော့ကျစေပြီး insulator သည် ဆားပျော်ရည်ကို စုပ်ယူပြီးနောက် ၎င်း၏ထုထည်ခုခံမှု ပမာဏ ၄ ဆ လျော့ကျသွားသည်။ ဆားဖြန်းသည် ရွေ့လျားနေသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာအစိတ်အပိုင်းများ၏ မျက်နှာပြင်တွင် ကပ်နေသောအခါ ချေးများထုတ်လုပ်ခြင်းကြောင့် တိုးလာလိမ့်မည်။ ပွတ်တိုက်မှုကိန်းဂဏန်း မြင့်တက်လာပါက ရွေ့လျားနေသော အစိတ်အပိုင်းများသည် ကပ်ငြိနေနိုင်သည်။ semiconductor ချစ်ပ်များ၏ ချေးခြင်းကို ရှောင်ရှားရန် encapsulation နှင့် air-sealing နည်းပညာကို အသုံးပြုထားသော်လည်း အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ၏ ပြင်ပ pin များသည် ဆားဖြန်းချေးခြင်းကြောင့် ၎င်းတို့၏လုပ်ဆောင်ချက်ကို မလွဲမသွေဆုံးရှုံးလေ့ရှိသည်။ PCB ပေါ်ရှိ ချေးခြင်းသည် အနီးနားရှိ ဝါယာကြိုးများကို တိုတောင်းစေနိုင်သည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ ကြုံတွေ့ရသော ဆားဖြန်းဖိအားသည် လေထုအတွင်းရှိ ဆားဖြန်းမှ လာသည်။ ကမ်းရိုးတန်းဒေသများ၊ သင်္ဘောများနှင့် သင်္ဘောများတွင် လေထုထဲတွင် ဆားများစွာပါဝင်သောကြောင့် အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်းများ၏ ထုပ်ပိုးမှုကို ပြင်းထန်စွာ သက်ရောက်မှုရှိသည်။ ဆားဖြန်းစမ်းသပ်မှုကို အီလက်ထရွန်းနစ်ထုပ်ပိုးမှု၏ ချေးခြင်းကို အရှိန်မြှင့်ရန် အသုံးပြုနိုင်ပြီး ဆားဖြန်းခံနိုင်ရည်ကို လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် ပြုလုပ်နိုင်သည်။
၅။ လျှပ်စစ်သံလိုက်ဖိအား
လျှပ်စစ်သံလိုက်ဖိအားဆိုသည်မှာ လျှပ်စစ်နှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းများ တစ်လှည့်စီဖြစ်ပေါ်နေသော လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းတွင် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်တစ်ခု ကြုံတွေ့ရသော လျှပ်စစ်သံလိုက်ဖိအားကို ရည်ညွှန်းသည်။ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းတွင် ရှုထောင့်နှစ်ခုပါဝင်သည်- လျှပ်စစ်စက်ကွင်းနှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းဖြစ်ပြီး ၎င်း၏ဝိသေသလက္ခဏာများကို လျှပ်စစ်စက်ကွင်းအစွမ်း E (သို့မဟုတ် လျှပ်စစ်ရွှေ့ပြောင်းမှု D) နှင့် သံလိုက်စီးဆင်းမှုသိပ်သည်းဆ B (သို့မဟုတ် သံလိုက်စက်ကွင်းအစွမ်း H) အသီးသီးဖြင့် ကိုယ်စားပြုသည်။ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းတွင် လျှပ်စစ်စက်ကွင်းနှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းတို့သည် နီးကပ်စွာ ဆက်စပ်နေသည်။ အချိန်ပြောင်းလဲနေသော လျှပ်စစ်စက်ကွင်းသည် သံလိုက်စက်ကွင်းကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး အချိန်ပြောင်းလဲနေသော သံလိုက်စက်ကွင်းသည် လျှပ်စစ်စက်ကွင်းကို ဖြစ်ပေါ်စေလိမ့်မည်။ လျှပ်စစ်စက်ကွင်းနှင့် သံလိုက်စက်ကွင်း၏ အပြန်အလှန်လှုံ့ဆော်မှုသည် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်း၏ ရွေ့လျားမှုကို လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းတစ်ခုဖြစ်ပေါ်စေသည်။ လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများသည် လေဟာနယ် သို့မဟုတ် အရာဝတ္ထုတွင် ၎င်းတို့ကိုယ်တိုင် ပျံ့နှံ့နိုင်သည်။ လျှပ်စစ်နှင့် သံလိုက်စက်ကွင်းများသည် အဆင့်လိုက် ယိမ်းယိုင်ပြီး တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ထောင့်မှန်ကျသည်။ ၎င်းတို့သည် အာကာသတွင် လှိုင်းပုံစံဖြင့် ရွေ့လျားသည်။ ရွေ့လျားနေသော လျှပ်စစ်စက်ကွင်း၊ သံလိုက်စက်ကွင်းနှင့် ပျံ့နှံ့မှုဦးတည်ရာတို့သည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ထောင့်မှန်ကျသည်။ လေဟာနယ်တွင် လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများ၏ ပျံ့နှံ့မှုအမြန်နှုန်းသည် အလင်း၏အလျင် (3×10 ^8m/s) ဖြစ်သည်။ ယေဘုယျအားဖြင့် လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကြောင့် ဆက်စပ်နေသော လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများမှာ ရေဒီယိုလှိုင်းများနှင့် မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်များဖြစ်သည်။ လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများ၏ ကြိမ်နှုန်းမြင့်လေ၊ လျှပ်စစ်သံလိုက်ရောင်ခြည်စွမ်းရည် မြင့်မားလေဖြစ်သည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းထုတ်ကုန်များအတွက်၊ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်း၏ လျှပ်စစ်သံလိုက်အနှောင့်အယှက် (EMI) သည် အစိတ်အပိုင်း၏ လျှပ်စစ်သံလိုက်လိုက်ဖက်ညီမှု (EMC) ကို ထိခိုက်စေသော အဓိကအချက်ဖြစ်သည်။ ဤလျှပ်စစ်သံလိုက်အနှောင့်အယှက်ရင်းမြစ်သည် အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်း၏ အတွင်းပိုင်းအစိတ်အပိုင်းများနှင့် ပြင်ပအီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများ၏ အနှောင့်အယှက်များအကြား အပြန်အလှန်အနှောင့်အယှက်မှ လာပါသည်။ ၎င်းသည် အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများ၏ စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် လုပ်ဆောင်ချက်များကို ပြင်းထန်စွာသက်ရောက်မှုရှိနိုင်သည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ DC/DC ပါဝါမော်ဂျူး၏ အတွင်းပိုင်းသံလိုက်အစိတ်အပိုင်းများသည် အီလက်ထရွန်းနစ်ကိရိယာများကို လျှပ်စစ်သံလိုက်အနှောင့်အယှက်ဖြစ်စေပါက၊ ၎င်းသည် အထွက်လှိုင်းထနေသော ဗို့အားကန့်သတ်ချက်များကို တိုက်ရိုက်အကျိုးသက်ရောက်စေမည်ဖြစ်သည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များအပေါ် ရေဒီယိုကြိမ်နှုန်းရောင်ခြည်၏ သက်ရောက်မှုသည် ထုတ်ကုန်အခွံမှတစ်ဆင့် အတွင်းပိုင်းပတ်လမ်းသို့ တိုက်ရိုက်ဝင်ရောက်လာမည် သို့မဟုတ် နှောင့်ယှက်မှုအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲပြီး ထုတ်ကုန်ထဲသို့ ဝင်ရောက်မည်ဖြစ်သည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများ၏ လျှပ်စစ်သံလိုက်အနှောင့်အယှက်ဆန့်ကျင်နိုင်စွမ်းကို လျှပ်စစ်သံလိုက်လိုက်ဖက်ညီမှုစမ်းသပ်မှုနှင့် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းအနီးကွင်းစကင်ဖတ်ခြင်းထောက်လှမ်းခြင်းမှတစ်ဆင့် အကဲဖြတ်နိုင်သည်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၃ ခုနှစ်၊ စက်တင်ဘာလ ၁၁ ရက်
