Ní àwọn ẹ̀ka iṣẹ́-ọnà gíga bíi semiconductors, àwọn ẹ̀rọ itanna ọkọ̀ ayọ́kẹ́lẹ́ àti afẹ́fẹ́, ìgbẹ́kẹ̀lé ọjà ṣe pàtàkì. Iyẹwu Ìdánwò Aging Aging Aging Chamber (HAST, orúkọ kíkún: Highly Accelerated Stress Test Chamber) ń ṣiṣẹ́ gẹ́gẹ́ bí ohun èlò ìdánwò ìgbẹ́kẹ̀lé pàtàkì. Ó ń mú kí ọjọ́ ogbó ọjà yára nípa ṣíṣe àfarawé àwọn àyíká tí ó le koko àti dídá àwọn àbùkù tí ó lè ṣẹlẹ̀ mọ̀ dáadáa, ó ń pèsè ìtìlẹ́yìn ìmọ̀ sáyẹ́ǹsì fún ìfìdí múlẹ̀ dídára ọjà àti dídi ohun èlò ìdánwò tí kò ṣe pàtàkì ní onírúurú ilé iṣẹ́.
Àwọn àǹfààní pàtàkì rẹ̀ ni “ìyára-gíga-gíga” àti “ìwádìí pípéye”: nípa ṣíṣe àfarawé àyíká tí ó ní ìwọ̀n otútù gíga, ọriniinitutu gíga àti ìfúnpọ̀ gíga, ó ń dín àkókò ọjọ́ ogbó àdánidá ti àwọn ọjà kù láti ọ̀pọ̀lọpọ̀ ọdún sí ọ̀pọ̀lọpọ̀ wákàtí sí ọgọ́rọ̀ọ̀rún wákàtí, èyí tí ó ń mú kí iṣẹ́ ìdánwò sunwọ̀n sí i gidigidi; ní àkókò kan náà, ó lè ṣàwárí àwọn àbùkù bí ìkùnà èdìdì àti ìbàjẹ́ ìsopọ̀ solder, èyí tí ó ń pèsè àtìlẹ́yìn dátà fún ìṣelọ́pọ́ ìṣètò ọjà.
Ẹ̀rọ náà lè yípadà láàárín àwọn ọ̀nà mẹ́ta ní ìrọ̀rùn: HAST (pẹ̀lú àìbáradé), UHAST (láìsí àìbáradé) àti PCT, tí ó ń bá àwọn àìní ọjà mu; àwọn pàrámítà bíi iwọ̀n otútù (105℃–160℃), ọriniinitutu (65%–100%RH) àti titẹ (0.1–0.5MPa) jẹ́ èyí tí a lè ṣàtúnṣe, tí ó lè bá onírúurú ipò ìdánwò mu bí àwọn èròjà kékeré àti àwọn ẹ̀yà ńlá.
A nlo o ni opolopo ni awon aaye giga bi semiconductor ati elekitironi oko, ti o le se idanwo awon eroja pataki bi awọn eerun ati awọn batiri agbara. O tun ni ibamu pelu awọn iṣedede kariaye ati ti ile bi JESD22-A110, o si n pade awọn ibeere ibamu ni awọn agbegbe oriṣiriṣi.
Pẹ̀lú iṣẹ́ rẹ̀ tó ga, ìpéye àti ìyípadà, Ilé Ìdánwò Aging Accelerated High-Pressure Accelerated Aging Chamber yanjú àwọn ìṣòro tó ń bá àwọn àyẹ̀wò ìgbàlódé àtijọ́ mu, ó sì ń fúnni ní ìtìlẹ́yìn tó lágbára láti mú kí àwọn ọjà tó wà ní ipò gíga dára sí i.
Àkókò ìfìwéránṣẹ́: Oṣù Kẹta-09-2026