Balita

Ang thermal shock testing ay madalas na tinutukoy bilang temperature shock testing o temperature cycling, high at low temperature thermal shock testing.

Ang bilis ng pag-init/paglamig ay hindi bababa sa 30℃/minuto.

Napakalawak ng saklaw ng pagbabago ng temperatura, at ang tindi ng pagsubok ay tumataas kasabay ng pagtaas ng bilis ng pagbabago ng temperatura.

Ang pagkakaiba sa pagitan ng temperature shock test at ng temperature cycle test ay pangunahing nasa magkaibang mekanismo ng stress load.

Pangunahing sinusuri ng temperature shock test ang pagkabigong dulot ng pinsala sa creep at fatigue, habang pangunahing sinusuri naman ng temperature cycle ang pagkabigong dulot ng shear fatigue.

Ang temperature shock test ay nagpapahintulot sa paggamit ng two-slot test device; ang temperature cycle test ay gumagamit ng single-slot test device. Sa two-slot box, ang bilis ng pagbabago ng temperatura ay dapat na higit sa 50℃/minuto.
Mga sanhi ng temperature shock: mga biglaang pagbabago sa temperatura habang nasa proseso ng paggawa at pagkukumpuni tulad ng reflow soldering, pagpapatuyo, muling pagproseso, at pagkukumpuni.

Ayon sa GJB 150.5A-2009 3.1, ang temperature shock ay isang biglaang pagbabago sa temperatura ng paligid ng kagamitan, at ang bilis ng pagbabago ng temperatura ay higit sa 10 degrees/min, na siyang temperature shock. Ang MIL-STD-810F 503.4 (2001) ay may katulad na pananaw.

Maraming dahilan para sa mga pagbabago sa temperatura, na nabanggit sa mga kaugnay na pamantayan:
GB/T 2423.22-2012 Pagsubok sa Kapaligiran Bahagi 2 Pagsubok N: Pagbabago ng Temperatura
Mga kondisyon sa larangan para sa mga pagbabago sa temperatura:
Karaniwan ang mga pagbabago sa temperatura sa mga elektronikong kagamitan at mga bahagi. Kapag hindi naka-on ang kagamitan, ang mga panloob na bahagi nito ay nakakaranas ng mas mabagal na pagbabago sa temperatura kaysa sa mga bahagi sa panlabas na ibabaw nito.

Maaaring asahan ang mabilis na pagbabago ng temperatura sa mga sumusunod na sitwasyon:
1. Kapag ang kagamitan ay inilipat mula sa isang mainit na kapaligiran sa loob ng bahay patungo sa isang malamig na kapaligiran sa labas, o kabaliktaran;
2. Kapag ang kagamitan ay naulanan o nalubog sa malamig na tubig at biglang lumamig;
3. Naka-install sa mga panlabas na kagamitang panghimpapawid;
4. Sa ilalim ng ilang partikular na kondisyon ng transportasyon at pag-iimbak.

Pagkatapos mailapat ang kuryente, mabubuo ang mga gradient ng mataas na temperatura sa kagamitan. Dahil sa mga pagbabago sa temperatura, ang mga bahagi ay mabibigatan. Halimbawa, sa tabi ng isang high-power resistor, ang radiation ay magdudulot ng pagtaas ng temperatura sa ibabaw ng mga katabing bahagi, habang ang ibang mga bahagi ay mananatiling malamig.
Kapag naka-on ang sistema ng pagpapalamig, ang mga artipisyal na pinalamig na bahagi ay makakaranas ng mabilis na pagbabago ng temperatura. Ang mabilis na pagbabago ng temperatura ng mga bahagi ay maaari ding maging sanhi ng proseso ng paggawa ng kagamitan. Mahalaga ang bilang at laki ng mga pagbabago sa temperatura at ang agwat ng oras.

GJB 150.5A-2009 Mga Paraan ng Pagsubok sa Kapaligiran sa Laboratoryo ng Kagamitang Militar Bahagi 5:Pagsubok sa Temperatura ng Pagkabigla：
3.2 Aplikasyon:
3.2.1 Normal na Kapaligiran:
Ang pagsubok na ito ay naaangkop sa mga kagamitang maaaring gamitin sa mga lugar kung saan ang temperatura ng hangin ay maaaring mabilis na magbago. Ang pagsubok na ito ay ginagamit lamang upang suriin ang mga epekto ng mabilis na pagbabago ng temperatura sa panlabas na ibabaw ng kagamitan, mga bahaging nakakabit sa panlabas na ibabaw, o mga panloob na bahaging naka-install malapit sa panlabas na ibabaw. Ang mga karaniwang sitwasyon ay ang mga sumusunod:
A) Ang kagamitan ay inililipat sa pagitan ng mga mainit na lugar at mga kapaligirang mababa ang temperatura;
B) Ito ay inaangat mula sa lupa na may mataas na temperatura patungo sa mataas na altitude (mainit hanggang malamig lamang) ng isang high-performance carrier;
C) Kapag sinusubok lamang ang mga panlabas na materyales (mga materyales sa ibabaw ng balot o kagamitan), ito ay inihuhulog mula sa mainit na proteksiyon na shell ng sasakyang panghimpapawid sa ilalim ng mga kondisyon ng mataas na altitude at mababang temperatura.

3.2.2 Pagsusuri sa Kaligtasan at Stress sa Kapaligiran:
Bukod sa inilarawan sa 3.3, ang pagsubok na ito ay naaangkop upang ipahiwatig ang mga isyu sa kaligtasan at mga potensyal na depekto na karaniwang nangyayari kapag ang kagamitan ay nalantad sa isang rate ng pagbabago ng temperatura na mas mababa kaysa sa matinding temperatura (hangga't ang mga kondisyon ng pagsubok ay hindi lalampas sa limitasyon ng disenyo ng kagamitan). Bagama't ang pagsubok na ito ay ginagamit bilang isang environmental stress screening (ESS), maaari rin itong gamitin bilang isang screening test (gamit ang mga temperature shock ng mas matinding temperatura) pagkatapos ng naaangkop na engineering treatment upang ipakita ang mga potensyal na depekto na maaaring mangyari kapag ang kagamitan ay nalantad sa mga kondisyon na mas mababa kaysa sa matinding temperatura.
Mga Epekto ng Pagkabigla sa Temperatura: GJB 150.5A-2009 Paraan ng Pagsubok sa Kapaligiran sa Laboratoryo ng Kagamitang Militar Bahagi 5: Pagsubok sa Pagkabigla sa Temperatura:

4.1.2 Mga Epekto sa Kapaligiran:
Karaniwang may mas malubhang epekto ang temperature shock sa bahaging malapit sa panlabas na ibabaw ng kagamitan. Kung mas malayo ito sa panlabas na ibabaw (siyempre, may kaugnayan ito sa mga katangian ng mga kaugnay na materyales), mas mabagal ang pagbabago ng temperatura at mas hindi gaanong halata ang epekto. Ang mga kahon para sa transportasyon, packaging, atbp. ay magbabawas din sa epekto ng temperature shock sa mga nakapaloob na kagamitan. Ang mabilis na pagbabago ng temperatura ay maaaring pansamantala o permanenteng makaapekto sa operasyon ng kagamitan. Ang mga sumusunod ay mga halimbawa ng mga problemang maaaring lumitaw kapag ang kagamitan ay nalantad sa isang kapaligirang may temperature shock. Ang pagsasaalang-alang sa mga sumusunod na tipikal na problema ay makakatulong upang matukoy kung ang pagsubok na ito ay angkop para sa kagamitang sinusuri.

A) Ang mga karaniwang pisikal na epekto ay:
1) Pagbasag ng mga lalagyang salamin at mga instrumentong optikal;
2) Mga natigil o maluwag na gumagalaw na bahagi;
3) Mga bitak sa mga solidong pellet o mga haligi sa mga pampasabog;
4) Iba't ibang antas ng pag-urong o paglawak, o mga antas ng sapilitan na pilay ng iba't ibang materyales;
5) Deformasyon o pagkapunit ng mga bahagi;
6) Pagbibitak ng mga patong sa ibabaw;
7) Tagas sa mga selyadong cabin;
8) Pagkabigo ng proteksyon ng insulasyon.

B) Ang mga karaniwang epekto ng kemikal ay:
1) Paghihiwalay ng mga bahagi;
2) Pagkabigo ng proteksyon ng kemikal na reagent.

C) Ang mga karaniwang epektong elektrikal ay:
1) Mga pagbabago sa mga elektrikal at elektronikong bahagi;
2) Mabilis na paghalay ng tubig o hamog na nagyelo na nagdudulot ng mga elektronik o mekanikal na pagkabigo;
3) Labis na estatikong kuryente.

Layunin ng pagsubok sa pagkabigla sa temperatura: Maaari itong gamitin upang matuklasan ang mga depekto sa disenyo ng produkto at proseso sa yugto ng pag-unlad ng inhinyeriya; maaari itong gamitin upang mapatunayan ang kakayahang umangkop ng mga produkto sa mga kapaligirang may pagkabigla sa temperatura sa panahon ng pagtatapos ng produkto o pagkilala sa disenyo at mga yugto ng malawakang produksyon, at magbigay ng batayan para sa pagtatapos ng disenyo at mga desisyon sa pagtanggap ng malawakang produksyon; kapag ginamit bilang screening ng stress sa kapaligiran, ang layunin ay upang maalis ang mga maagang pagkabigo ng produkto.

Ang mga uri ng pagsubok sa pagbabago ng temperatura ay nahahati sa tatlong uri ayon sa IEC at mga pambansang pamantayan:
1. Pagsubok Na: Mabilis na pagbabago ng temperatura na may tinukoy na oras ng conversion; hangin;
2. Pagsubok Nb: Pagbabago ng temperatura na may tinukoy na bilis ng pagbabago; hangin;
3. Test Nc: Mabilis na pagbabago ng temperatura gamit ang dalawang tangke ng likido; likido;

Para sa tatlong pagsubok sa itaas, ang 1 at 2 ay gumagamit ng hangin bilang midyum, at ang ikatlo ay gumagamit ng likido (tubig o iba pang likido) bilang midyum. Mas mahaba ang oras ng conversion ng 1 at 2, at mas maikli ang oras ng conversion ng 3.