ห้องทดสอบความเครียดจากอุณหภูมิและความชื้นสูง UP-6124 ที่เป็นไปตามมาตรฐาน JESD22

รายละเอียดสินค้า:

ห้องทดสอบความเครียดจากอุณหภูมิและความชื้นสูงแบบเร่งด่วน ใช้เพื่อประเมินความน่าเชื่อถือของชิ้นส่วนและผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์
ด้วยการสร้างสภาพแวดล้อมสุดขั้วที่มีอุณหภูมิสูง (โดยปกติ 105 ถึง 155 องศาเซลเซียส) ความชื้นสูง (65% ถึง 100% RH) และความดันสูง (0.2 ถึง 4.0 กก./ซม.²) ในภาชนะปิดผนึก กระบวนการเสื่อมสภาพและการเสียหายของวัสดุสามารถเกิดขึ้นได้อย่างรวดเร็วในช่วงเวลาสั้นๆ (โดยปกติไม่กี่วันหรือสัปดาห์) ทำให้เห็นข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นในผลิตภัณฑ์ได้อย่างรวดเร็ว และคาดการณ์อายุการใช้งานภายใต้สภาวะการใช้งานปกติได้

แอปพลิเคชัน:

เครื่องทดสอบการเร่งอายุด้วยแรงดันถูกนำไปใช้อย่างกว้างขวางในการทดสอบคุณสมบัติการปิดผนึกของแผงวงจรหลายชั้น บรรจุภัณฑ์ปิดผนึก IC จอ LCD LED เซมิคอนดักเตอร์ วัสดุแม่เหล็ก NdFeB ธาตุหายาก และเหล็กแม่เหล็ก ซึ่งสามารถทดสอบความต้านทานต่อแรงดันและความแน่นของอากาศสำหรับผลิตภัณฑ์ดังกล่าวข้างต้นได้