Pawarta

Uji kejut termal asring diarani uji kejut suhu utawa siklus suhu, uji kejut termal suhu dhuwur lan endhek.

Laju pemanasan/pendinginan ora kurang saka 30℃/menit.

Rentang owah-owahan suhu iku amba banget, lan keruwetan tes mundhak kanthi mundhake tingkat owah-owahan suhu.

Bentenane antarane uji kejut suhu lan uji siklus suhu utamane yaiku mekanisme beban stres sing beda.

Tes kejut suhu utamane nliti kegagalan sing disebabake dening kerusakan creep lan fatigue, dene siklus suhu utamane nliti kegagalan sing disebabake dening fatigue shear.

Tes kejut suhu ngidini panggunaan piranti uji rong slot; tes siklus suhu nggunakake piranti uji siji slot. Ing kothak rong slot, tingkat owah-owahan suhu kudu luwih saka 50℃/menit.
Penyebab kejut suhu: owah-owahan suhu sing drastis sajrone proses manufaktur lan ndandani kayata penyolderan ulang, pangatusan, pangolahan ulang, lan ndandani.

Miturut GJB 150.5A-2009 3.1, kejut suhu yaiku owah-owahan suhu sekitar peralatan sing tajem, lan tingkat owah-owahan suhu luwih saka 10 derajat/menit, sing diarani kejut suhu. MIL-STD-810F 503.4 (2001) nduweni pandangan sing padha.

Ana akeh alesan kanggo owah-owahan suhu, sing kasebut ing standar sing relevan:
GB/T 2423.22-2012 Pengujian Lingkungan Bagian 2 Tes N: Owah-owahan Suhu
Kahanan lapangan kanggo owah-owahan suhu:
Owah-owahan suhu iku lumrah ing piranti lan komponen elektronik. Nalika piranti ora diuripake, bagean njero ngalami owah-owahan suhu sing luwih alon tinimbang bagean ing permukaan njaba.

Owah-owahan suhu sing cepet bisa diarepake ing kahanan ing ngisor iki:
1. Nalika peralatan dipindhah saka lingkungan njero ruangan sing anget menyang lingkungan njaba ruangan sing adhem, utawa kosok balene;
2. Nalika piranti kena udan utawa dicelupake ing banyu adhem lan dumadakan adhem;
3. Dipasang ing peralatan udara eksternal;
4. Ing kahanan transportasi lan panyimpenan tartamtu.

Sawisé daya diwènèhaké, gradien suhu dhuwur bakal diasilaké ing piranti kasebut. Amarga owah-owahan suhu, komponen bakal kena tekanan. Umpamané, ing sandhingé resistor daya dhuwur, radiasi bakal nyebabaké suhu permukaan komponen ing sandhingé mundhak, déné bagean liyané tetep adhem.
Nalika sistem pendingin diuripake, komponen sing didinginkan kanthi buatan bakal ngalami owah-owahan suhu sing cepet. Owah-owahan suhu komponen sing cepet uga bisa disebabake sajrone proses manufaktur peralatan. Jumlah lan gedhene owah-owahan suhu lan interval wektu iku penting.

Metode Uji Lingkungan Laboratorium Peralatan Militer GJB 150.5A-2009 Bagian 5:Tes Kejutan Suhu：
3.2 Aplikasi:
3.2.1 Lingkungan Normal:
Tes iki ditrapake kanggo peralatan sing bisa digunakake ing panggonan sing suhu udarane bisa owah kanthi cepet. Tes iki mung digunakake kanggo ngevaluasi efek saka owah-owahan suhu sing cepet ing permukaan njaba peralatan, bagean sing dipasang ing permukaan njaba, utawa bagean internal sing dipasang cedhak permukaan njaba. Kahanan umume kaya ing ngisor iki:
A) Piranti kasebut ditransfer antarane wilayah panas lan lingkungan suhu endhek;
B) Iki diangkat saka lemah lingkungan suhu dhuwur menyang papan sing dhuwur (mung panas nganti adhem) dening operator kinerja dhuwur;
C) Nalika mung nguji bahan njaba (bahan kemasan utawa permukaan peralatan), bahan kasebut bakal ditibakake saka cangkang pelindung pesawat panas ing kahanan ketinggian dhuwur lan suhu endhek.

3.2.2 Skrining Stres Keamanan lan Lingkungan:
Saliyané sing diterangake ing 3.3, tes iki uga ditrapake kanggo nuduhaké masalah keamanan lan cacat potensial sing biasane kedadeyan nalika peralatan kapapar tingkat owah-owahan suhu sing luwih murah tinimbang suhu ekstrem (anggere kahanan tes ora ngluwihi watesan desain peralatan). Sanajan tes iki digunakake minangka skrining stres lingkungan (ESS), uga bisa digunakake minangka tes skrining (nggunakake kejutan suhu suhu sing luwih ekstrem) sawise perawatan teknik sing cocog kanggo mbukak cacat potensial sing bisa kedadeyan nalika peralatan kapapar kahanan sing luwih murah tinimbang suhu ekstrem.
Efek saka kejut suhu: Metode Uji Lingkungan Laboratorium Peralatan Militer GJB 150.5A-2009 Bagian 5: Uji Kejutan Suhu:

4.1.2 Efek Lingkungan:
Kejutan suhu biasane nduweni efek sing luwih serius ing bagean sing cedhak karo permukaan njaba peralatan. Sing luwih adoh saka permukaan njaba (mesthi wae, ana hubungane karo karakteristik bahan sing relevan), owah-owahan suhu saya alon lan efek sing kurang jelas. Kothak transportasi, kemasan, lan liya-liyane uga bakal nyuda dampak kejut suhu ing peralatan sing ditutup. Owah-owahan suhu sing cepet bisa mengaruhi operasi peralatan kanggo sementara utawa permanen. Ing ngisor iki minangka conto masalah sing bisa muncul nalika peralatan kena pengaruh lingkungan kejut suhu. Ngelingi masalah khas ing ngisor iki bakal mbantu nemtokake manawa tes iki cocog kanggo peralatan sing diuji.

A) Efek fisik sing umum yaiku:
1) Pecahe wadhah kaca lan instrumen optik;
2) Bagean sing macet utawa kendho sing obah;
3) Retakan ing pelet padat utawa kolom ing bahan peledak;
4) Tingkat penyusutan utawa ekspansi sing beda, utawa tingkat regangan sing diinduksi saka bahan sing beda;
5) Deformasi utawa pecahing bagean;
6) Retakan lapisan permukaan;
7) Kebocoran ing kabin sing disegel;
8) Gagalé proteksi insulasi.

B) Efek kimia sing umum yaiku:
1) Pamisahan komponen;
2) Gagalé pangreksan reagen kimia.

C) Efek listrik sing umum yaiku:
1) Owah-owahan ing komponen listrik lan elektronik;
2) Kondensasi banyu utawa embun beku sing cepet nyebabake kegagalan elektronik utawa mekanik;
3) Listrik statis sing kakehan.

Tujuan saka uji kejut suhu: Bisa digunakake kanggo nemokake cacat desain produk lan proses sajrone tahap pangembangan teknik; bisa digunakake kanggo verifikasi adaptasi produk menyang lingkungan kejut suhu sajrone finalisasi produk utawa identifikasi desain lan tahap produksi massal, lan nyedhiyakake basis kanggo finalisasi desain lan keputusan panrima produksi massal; nalika digunakake minangka skrining stres lingkungan, tujuane yaiku kanggo ngilangi kegagalan produk awal.

Jinis-jinis tes owah-owahan suhu dipérang dadi telung jinis miturut IEC lan standar nasional:
1. Tes Na: Owah-owahan suhu kanthi cepet kanthi wektu konversi sing ditemtokake; udara;
2. Cathetan Tes: Owah-owahan suhu kanthi tingkat owah-owahan sing ditemtokake; udara;
3. Tes Nc: Owah-owahan suhu kanthi cepet nganggo rong tangki cairan; cairan;

Kanggo telung tes ing ndhuwur, 1 lan 2 nggunakake udara minangka medium, lan sing katelu nggunakake cairan (banyu utawa cairan liyane) minangka medium. Wektu konversi 1 lan 2 luwih dawa, lan wektu konversi 3 luwih cendhek.