Balita

Mga pamantayan sa pagsubok at mga teknikal na tagapagpahiwatig ng silid ng siklo ng temperatura at halumigmig:

Ang kahon ng siklo ng halumigmig ay angkop para sa pagsubok sa kaligtasan ng mga elektronikong bahagi, pagbibigay ng pagsubok sa pagiging maaasahan, pagsubok sa screening ng produkto, atbp. Kasabay nito, sa pamamagitan ng pagsubok na ito, ang pagiging maaasahan ng produkto ay napabubuti at ang kalidad ng produkto ay nakokontrol. Ang kahon ng siklo ng temperatura at halumigmig ay isang mahalagang kagamitan sa pagsubok sa larangan ng abyasyon, sasakyan, mga kagamitan sa bahay, siyentipikong pananaliksik, atbp. Sinusuri at tinutukoy nito ang mga parameter at pagganap ng mga elektrikal, elektroniko, semiconductor, komunikasyon, optoelectronics, mga kagamitang elektrikal, mga kagamitang elektrikal ng sasakyan, mga materyales at iba pang mga produkto pagkatapos ng mabilis na pagbabago ng temperatura sa kapaligiran sa panahon ng mataas at mababang temperatura at mga pagsubok sa halumigmig, at ang kakayahang umangkop sa paggamit.

Ito ay angkop para sa mga paaralan, pabrika, industriya ng militar, pananaliksik at pag-unlad at iba pang mga yunit.

Matugunan ang mga pamantayan sa pagsusulit:

GB/T2423.1-2008 Pagsubok A: Mababang temperatura (bahagyang).

GB/T2423.2-2008 Pagsubok B: Mataas na temperatura (bahagyang).

GB/T2423.3-2008 Test Cab: Patuloy na init na dulot ng basang tubig.

GB/T2423.4-2006 Test Db: Salit-salit na init na dala ng basang tubig.

GB/T2423.34-2005 Pagsubok Z/AD: Kombinasyon ng temperatura at halumigmig.

GB/T2424.2-2005 Gabay sa pagsubok ng init na dala ng basang tubig.

GB/T2423.22-2002 Pagsubok N: Pagbabago ng temperatura.

IEC60068-2-78 Test Cab: Steady state, init na dala ng basa.

GJB150.3-2009 Mataaspagsubok sa temperatura.

GJB150.4-2009 Pagsubok sa mababang temperatura.

GJB150.9-2009 Pagsubok sa init ng basa.