Testnormen an technesch Indikatoren vun der Temperatur- a Fiichtegkeetszykluskammer:
D'Fiichtegkeetszyklusbox ass gëeegent fir Sécherheetsleistungstester vun elektronesche Komponenten, Zouverlässegkeetstester, Produktscreeningtester, etc. Gläichzäiteg gëtt duerch dësen Test d'Zouverlässegkeet vum Produkt verbessert an d'Qualitéit vum Produkt kontrolléiert. D'Temperatur- a Fiichtegkeetszyklusbox ass eng essentiell Testausrüstung an de Beräicher Loftfaart, Autoen, Haushaltsapparater, wëssenschaftlecher Fuerschung, etc. Si bewäert a bestëmmt d'Parameteren an d'Leeschtung vun elektreschen, elektroneschen, Hallefleeder-, Kommunikatiouns-, Optoelektronik-, elektreschen Apparater, Automobilelektronen, Materialien an aner Produkter nodeems d'Temperaturëmfeld sech séier während héijen an niddregen Temperaturen an Fiichtegkeetstester ännert, an d'Adaptabilitéit vum Gebrauch.
Et ass gëeegent fir Schoulen, Fabriken, Militärindustrie, Fuerschung an Entwécklung an aner Eenheeten.
Erfëllt d'Testnormen:
GB/T2423.1-2008 Test A: Niddreg Temperatur (partiell).
GB/T2423.2-2008 Test B: Héich Temperatur (partiell).
GB/T2423.3-2008 Testkabinn: Stänneg fiicht Hëtzt.
GB/T2423.4-2006 Test Db: Wiesselnd fiicht Hëtzt.
GB/T2423.34-2005 Test Z/AD: Kombinatioun vun Temperatur a Fiichtegkeet.
GB/T2424.2-2005 Guide fir d'Testung vu fiichter Hëtzt.
GB/T2423.22-2002 Test N: Temperaturännerung.
IEC60068-2-78 Testkabinett: Stehenden Zoustand, fiicht Hëtzt.
GJB150.3-2009 HéichTemperaturtest.
GJB150.4-2009 Niddregtemperaturtest.
GJB150.9-2009 Fiichtegkeetshëtztest.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 18. September 2024

