સમાચાર

તાપમાન અને ભેજ ચક્ર ચેમ્બરના પરીક્ષણ ધોરણો અને તકનીકી સૂચકાંકો:

ભેજ ચક્ર બોક્સ ઇલેક્ટ્રોનિક ઘટકોના સલામતી પ્રદર્શન પરીક્ષણ માટે યોગ્ય છે, વિશ્વસનીયતા પરીક્ષણ, ઉત્પાદન સ્ક્રીનીંગ પરીક્ષણ, વગેરે પ્રદાન કરે છે. તે જ સમયે, આ પરીક્ષણ દ્વારા, ઉત્પાદનની વિશ્વસનીયતામાં સુધારો થાય છે અને ઉત્પાદનની ગુણવત્તા નિયંત્રિત થાય છે. તાપમાન અને ભેજ ચક્ર બોક્સ ઉડ્ડયન, ઓટોમોબાઇલ્સ, ઘરેલું ઉપકરણો, વૈજ્ઞાનિક સંશોધન, વગેરે ક્ષેત્રોમાં એક આવશ્યક પરીક્ષણ સાધન છે. તે ઉચ્ચ અને નીચા તાપમાન અને ભેજ પરીક્ષણો દરમિયાન તાપમાન વાતાવરણમાં ઝડપથી ફેરફાર અને ઉપયોગની અનુકૂલનક્ષમતા પછી ઇલેક્ટ્રિકલ, ઇલેક્ટ્રોનિક, સેમિકન્ડક્ટર, સંદેશાવ્યવહાર, ઓપ્ટોઇલેક્ટ્રોનિક્સ, ઇલેક્ટ્રિકલ ઉપકરણો, ઓટોમોટિવ ઇલેક્ટ્રિકલ ઉપકરણો, સામગ્રી અને અન્ય ઉત્પાદનોના પરિમાણો અને પ્રદર્શનનું મૂલ્યાંકન અને નિર્ધારિત કરે છે.

તે શાળાઓ, કારખાનાઓ, લશ્કરી ઉદ્યોગ, સંશોધન અને વિકાસ અને અન્ય એકમો માટે યોગ્ય છે.

પરીક્ષણ ધોરણોને પૂર્ણ કરો:

GB/T2423.1-2008 ટેસ્ટ A: નીચું તાપમાન (આંશિક).

GB/T2423.2-2008 ટેસ્ટ B: ઉચ્ચ તાપમાન (આંશિક).

GB/T2423.3-2008 ટેસ્ટ કેબ: સ્થિર ભીની ગરમી.

GB/T2423.4-2006 ટેસ્ટ ડેટા: વૈકલ્પિક ભીની ગરમી.

GB/T2423.34-2005 ટેસ્ટ Z/AD: તાપમાન અને ભેજનું મિશ્રણ.

GB/T2424.2-2005 ભીના ગરમી પરીક્ષણ માર્ગદર્શિકા.

GB/T2423.22-2002 ટેસ્ટ N: તાપમાનમાં ફેરફાર.

IEC60068-2-78 ટેસ્ટ કેબ: સ્થિર સ્થિતિ, ભીની ગરમી.

GJB150.3-2009 ઉચ્ચતાપમાન પરીક્ષણ.

GJB150.4-2009 નીચા તાપમાનનું પરીક્ષણ.

GJB150.9-2009 ભીના ગરમીનું પરીક્ષણ.