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Prueba de verificación de envejecimiento del encapsulado de semiconductores: cámara de prueba de envejecimiento acelerado de alto voltaje PCT.

Solicitud:

PCT alta presión aceleradacámara de ensayo de envejecimientoEs un tipo de equipo de prueba que utiliza calor para generar vapor. En un vaporizador cerrado, el vapor no puede desbordarse y la presión sigue aumentando, lo que provoca que el punto de ebullición del agua aumente continuamente y, por consiguiente, la temperatura en el recipiente también aumente.

Generalmente se utiliza para probar la resistencia a la alta humedad de productos y materiales en condiciones de temperatura extrema, humedad saturada (100% HR) [vapor de agua saturado] y presión elevada.
Por ejemplo: probar la tasa de absorción de humedad de las placas de circuito impreso (PCB o FPC), la resistencia a la humedad de los encapsulados de semiconductores, la interrupción del circuito causada por la corrosión de las áreas metalizadas y el cortocircuito causado por la contaminación entre las patillas del encapsulado.

 

Condiciones de referencia de la prueba:

1. Cumple con el rango de temperatura de +105 °C a +162,5 °C y el rango de humedad relativa del 100 %.
2. Al ser la primera aplicación en la industria de la tecnología de diseño de simulación de fluidos y la tecnología de fabricación de procesos de productos, el producto es más eficiente energéticamente.
3. El tanque interior adopta un diseño de arco de doble capa para evitar la condensación y el goteo durante la prueba, evitando así que el producto se vea afectado directamente por el vapor sobrecalentado durante la prueba y afecte los resultados de la misma.
4. Función de reposición de agua totalmente automática, confirmación frontal del nivel de agua.

 

Rendimiento del equipo:

1. En el PCT personalizado específico para SSD, acelerado por alto voltajecámara de ensayo de envejecimientoSe pueden realizar simultáneamente pruebas de envejecimiento, pruebas de temperatura constante o pruebas cruzadas de alta y baja temperatura;
2. El estándar de temperatura de prueba puede alcanzar el nivel industrial, con una temperatura máxima de 150 ℃ y una mínima de -60 ℃, y el programa de ajuste de temperatura es automático;
3. Durante el proceso de cambio de temperatura, también se formará vapor de agua, lo que puede crear condiciones ambientales de prueba adversas.

 

Efectos potentes:

1. El producto probado se somete a temperaturas, humedad y presión extremas, lo que acelera la prueba de envejecimiento y acorta el tiempo total de la prueba de vida útil del producto;
2. Puede detectar la resistencia al sellado y a la presión del embalaje de los componentes electrónicos del producto, ¡para así determinar la adaptabilidad ambiental y la adaptabilidad a la presión de trabajo del producto!
3. La estructura interna de la caja, diseñada a medida, garantiza que la temperatura, la humedad y la presión del producto se mantengan equilibradas durante la prueba.

Lo más importante es que todo el circuito del equipo está integrado y diseñado para que sea sencillo de operar y fácil de mantener.
Muchos fabricantes de productos de estado sólido otorgan gran importancia a las pruebas, pero también les generan muchos problemas. Por un lado, porque el tiempo de prueba es prolongado y, por otro, porque las pruebas garantizan el rendimiento del producto y reducen la tasa de reprocesamiento. En este contexto, ¡contar con un equipo de pruebas eficiente y fiable es fundamental!
Contamos con equipos de producción y pruebas de vanguardia y un equipo técnico profesional. Diseñamos, desarrollamos y fabricamos según las necesidades del cliente, y mejoramos continuamente la calidad de nuestros productos. Gracias a nuestra tecnología de punta, mano de obra especializada, producción estandarizada, gestión rigurosa, servicio impecable y tecnología innovadora, nos hemos ganado el reconocimiento y la confianza de numerosos clientes y hemos alcanzado un liderazgo en el sector.

5. Prueba de verificación de envejecimiento del empaquetado de semiconductores

Fecha de publicación: 26 de agosto de 2024